Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

OFP-Tretyak-Lozovski

.pdf
Скачиваний:
68
Добавлен:
19.03.2015
Размер:
13 Мб
Скачать
☆

343

ДОДАТКИ

так, що потенціальна енергія електрона в полі exFcosωt . Тоді ймовірність того, що електрон за одиницю часу перейде зі стану E в деякий стан з енергією E + ω

 

WE + ω,E =

π

e2F 2

 

xE + ω,E

 

2

ΩN (E + ω) ,

(J.2)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

де матричний елемент

2

 

 

 

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

xE′,E = ∫ψ*E′xψEd3x.

 

 

(J.3)

Беручи до уваги, що

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

xE′,E = −

 

 

DE′,E ,

 

 

(J.4)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mω

 

 

 

 

 

 

 

де DE′,E = ∫ψ*E′

∂

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψEd3x , запишемо (J.2) у вигляді

 

∂x

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

WE + ω,E = πe

Ω F2

 

DE + ω,E

 

N (E + ω) .

(J.5)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

2m2ω2

 

 

 

 

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Визначимо провідність так, щоб величина (1/2)F 2σE (ω) дорівнювала

середній швидкості втрат в одиниці об'єму, тобто мала сенс дисипативної функції. Домножимо (J.5) на число зайнятих станів в одиниці об'єму в інтервалі енергій dE – N (E) f (E)dE та на ймовірність того,

що стан з енергією E + ω не зайнятий електроном – 1− f (E + ω) , і на

ω – енергію поля, що поглинається системою за кожен акт квантового переходу. Інтегруючи за всіма можливими значеннями енергії, отримуємо

 

2πe

2

2

Ω ∫dE {f (E)[1− f (E + ω)]−

 

 

 

 

σE (ω) =

2

 

 

 

(J.6)

 

m ω

[

]}

 

E + ω

 

 

 

 

 

 

| D

|2

 

N (E)N (E + ω)

 

 

 

 

−f (E + ω) 1− f (E)

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Другий доданок у фігурних дужках визначається енергією, що у вигляді фотона випромінюється за умов вимушених переходів униз. Вираз у фігурних дужках зводиться до f (E) − f (E + ω) . Тоді формулу

(J.6) можна переписати у вигляді

σE (ω) =

2πe2 3Ω

∫dE {f (E) − f (E + ω)}

 

 

 

2

 

 

 

m2 ω

 

DE + ω

 

E + ω,E N (E)N (E + ω)

 

 

 

За T → 0 формула спрощується до

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

344

 

2πe2 3Ω

EF

 

2

 

 

σE (ω) =

dE

DE + ω

N (E)N (E + ω) .

(J.7)

 

2

 

∫

 

 

 

E + ω,E

 

 

m

ω

 

 

 

 

 

EF − ω

 

 

 

 

 

Нижня межа інтегрування відповідає найнижчий енергії електрона, за якої він може поглинути квант випроміненням, а верхня межа – енергії Фермі при T = 0. Виконуючи граничний перехід ω → 0 за правилом

 

 

1

EF

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

lim

∫

dE

| DE + ω |2

 

 

N (E)N (E + ω) =

 

 

 

ω

 

 

 

 

 

ω→0

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

EF − ω

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ω

 

DE + ω |2

 

 

 

 

 

 

 

N 2

 

=

|

E + ω,E

N (E)N (E + ω)

= | DE |2

E

(E) ,

 

 

ω

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ω→0

 

 

отримаємо із (J.7)

 

 

 

2πe2 3Ω

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

σ

E

(0) =

 

D

E

 

2

N 2 (E)..

 

 

(J.8)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

m2

 

 

 

 

E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отриманий вираз називається формулою Кубо-Грінвуда. У цій формулі

DE = lim DE′,E . Якщо T = 0, то провідність σ(0)

 

E′→E

 

σ(0) ={σE (0)} .

(J.9)

E =EF

 

Додаток К

Плівки Ленгмюра-Блоджетт

Плівками Ленгмюра-Блоджетт називаються монота по- лі-молекулярні плівки, що отримуються за допомогою спеціальної технології, яка базується на ідеї самоорганізації плівки молекул на поверхні води. Для цього молекули повинні мати специфічну структуру– з одного кінця молекули повинні містити гідрофільну групу, а з іншого гідрофобну (рис. К1, К2) і таким чином молекула буде розташовуватись гідрофільною групою орієнтуючись до води а гідрофобний хвіст буде направлено у зовнішнє середовище (повітря). На рис. К1 показано структурну формулу стеаринової кислоти – НООС-С17Н35 , що є т и- повим представником органічних молекул, один кінець якої містить

345

ДОДАТКИ

 

полярну частину СООН (виділено жовтим

 

овалом), яка може віддавати свій протон

 

воді, а сама заряджається від'ємно. Ця

 

частина молекули, що називається гідро-

 

фільною частиною, таким чином буде

нм

утримуватись у воді силами кулонівського

притяжіння. В той же час гідрофобний

2.5

хвіст С17Н35 виштовхується з води. Такі

 

 

молекули, один кінець яких містить гідро-

 

фільну групу, а інший – гідрофобну, нази-

 

ваються амфіфільними молекулами. По-

 

падаючи на поверхню води такі речовини

 

утворюють мономолекулярну плівку (рис. К2).

 

Для того, щоб отримати мономолекулярну

Рис.К1. Молекула стеаринової

плівку амфіфільних молекул, їх треба по-

кислоти. Зеле-ними кульками

містити на поверхню води. З цією метою

позначено кисень, червоними –

амфіфільну сполуку розчиняють у легко

вуглець, синіми точками – водень

летючому розчиннику (наприклад, у бен-

золі).І цей розчин наносять на поверхню води – спеціальним шприцом або розпилюють. Розчинник випаровується, а амфіфільна сполука утворює на поверхні води плівку. Кількість речовини підбирають так,

гідрофобна група

 

гідрофільна група

 

вода

 

а

б

Рис. К2. Взаємодія амфіфільних молекул з поверхнею води. а – орієнтація молекули гідрофільною групою до поверхні; б – утворення молекулярного моношару на поверхні води

щоб плівка була не товща за один моношар. Для того, щоб вона була однорідною (не острівцевою) спеціальною планкою у LB ванні (рис. К3) молекули притискають одну до одної. При цьому суцільність плівки контролюють характерним для даної речовини поверхневим натягом. У утворену таким чином мономолекулярну плівку занурюють пластинку, що буде відігравати роль підкладинки LB-плівки. Таким чином під час занурення і витягування пластинки на обох її поверхнях утворюються однорідні в площині мономолекулярні плівки (рис. К4). Якщо

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

346

пластинку занурюють у воду, то гідрофобні хвости молекул виявляються напрвіленими до підкладинкиотримується моношар Х-типу.

ваги

Пловучий бар'єр

1

2

моношар молекул

вода поплавок

Рис. К3. Ленгмюрівська ванна для отримання ЛБ-плівок. Схема (ліворуч). Праворуч – ЛБ ванна

у „чистій” кімнаті. 1 – система витягування зразка з плівкою; 2 -– рухомий бар'єр, що дозволяє утримувати заданий поверхневий натяг речовини на поверхні води. Оператор шприцом наносить робочу речовину на поверхню води.

Якщо пластинку попередньо занурену у воду витягують, молекули моношару будуть орієнтованими гідрофільними группами до площини підкладинки – формується моношар Z-типу. Повторюючи переніс одного моношару за іншим можна отримати багатошарові плівки Лен- гмюра-Блоджетт.

Рис. К4. Отримання мономолекулярних плівок методом занурення (ЛБ-плівка Х-типу) або витягування (ЛБ-плівка Z-типу) пластинки-підкладки

Оскільки в площині плівки молекули взаємодіють між собою через так звані диперсійні взаємодії (або Ван-дер-Ваальсові сили) то така плівка характеризується тим, що молекули майже не втрачають індивідуальні властивості, що дуже важливо для отримання LB-плівок із заздалегідь заданими властивостями.

347

ДОДАТКИ

Додаток L

Окислювально-відтворювальні реакції

Окислювально-відтворювальні реакції – загальноприйняте позначення REDOX (Reduction and Oxidation) – це хімічні реакції, що протікають зі зміною ступені окислення атомів, що входять до складу ре а- гуючих речовин. Зміна ступенів окислення відбувається шляхом перерозподілу електронів між атомом-окислювачем та ато- мом-відновлювачем. Нагадаємо, що в процесі окислення атом, що входить до речовини-реагенту втрачає електрон, а в процесі відновлювання атом іншої речовини-реагенту набуває додатковий електрон. Таким чином, в процесі окислювально-відновлювальних реакції ре- човина-відновлювач віддає електрони, тобто, окислюється, а речови- на-окислювач приєднує до себе електрони, тобто, відновлюється. При чому будь-яка окис лювально-відновлювальна реакція являє собою єдність двох протилежних перетворювань – окислення та відновлення, що відбуваються одночасно і без відриву однієї від іншої.

Окисленням називається процес віддачі електронів атомом речовини, при цьому ступінь окислення атома підвищується. Ступінь окислення – поняття, що використовують в хімії для зручності опи-

H2

e-

e-

HF

HF

F2

Рис. L1. Схема окислювально-відновної реакції між фтором і воднем

сання окислювально-відновлювальних реакцій і яке являє собою величину, що чисельно дорівнює формальному заряду (кількості електронів) що можна приписати елементу, виходячи з припущення , що всі електрони кожного з його зв'язків перейшли до більш електровід'ємного атома даної сполуки. При відновленні, таким, чином, ступінь окислення зменшується. Окислювач, приймаючи електрони, набуває відновлюючі властивості, перетворюючись у спряжений відновлював, тобто

окислювач + e− ↔ спряжений відновлювач.

Відтворенням називається процес приєднання електронів атомом речовини, при цьому його ступінь окислення знижується. Відтворювач, віддаючи електрони, набуває окислювальних властивостей, перетворюючись у спряжений окислювач:

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

348

відтворювач - e− ↔ спряжений окислювач.

Сукупність окислювача (відтворювача) з продуктом його перетворення складає спряжену окислювально-відтворювальну пару, а її взаємоперетворення є напівреакцією відтворення (окислення). В будь-якій окислювально-відтворювальній реак-ції беруть участь дві спряжені окислювально-відтворювальні пари, між якими має місце конкуренція за електрони, в результаті чого відбуваються дві напівреакції – одна пов'язана приєднанням електронів (відтворенням), інша – з віддачею електронів (окисленням). Слід пам'ятати, що в багатьох випадках окислювально-відтворювальних реакцій відбувається не повний переніс електронів, а тільки зміщення електронних хмар від одного атома до іншого. Як приклад окислювально-відтворювальної реакції можна навести реакцію між воднем та фтором H2 + F2 → 2HF, що поділяється на дві напівреакції:

Окислення

H2 → 2H+ + 2e− ,

та відтворення

F2 + 2e- → 2F− .

На рис. L1 схематично показано хід цієї окислювально-відтворювальної реакції.

ЗМІСТ

 

ВІД АВТОРІВ..................................................................................................................................................................................................................................................

7

Розділ 1. ЕЛЕМЕНТИ КРИСТАЛОГРАФІЇ............................................................................................................................

9

1.1. Кристалічні ґратки.....................................................................................................................................................................................................

9

1.1.1. Ґратки Браве...................................................................................................................................................................................................................

9

1.1.2. Класифікація ґраток Браве та кристалічних структур................................

12

1.2. Пряма та обернена ґратки кристала...........................................................................................................................

16

1.3. Електрони у періодичному потенціалі. Загальні властивості.....................

22

1.4. Теорема Блоха.....................................................................................................................................................................................................................

25

1.5. Циклічні граничні умови Борна–Кармана.

 

Приведення до зони Бриллюена............................................................................................................................................

27

1.6. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

31

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

34

Розділ 2. ПРИНЦИПИ КВАНТОВОЇ ТЕОРІЇ БАГАТЬОХ ЧАСТИНОК

 

У ФІЗИЦІ ТВЕРДОГО ТІЛА......................................................................................................................................

35

2.1. Адіабатичне наближення........................................................................................................................................................................

35

2.2. Одноелектронне наближення.......................................................................................................................................................

40

2.3. Квазіімпульс...........................................................................................................................................................................................................................

44

2.4. Ізоенергетичні поверхні............................................................................................................................................................................

47

2.5. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

51

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

51

Розділ 3. ЕЛЕКТРОН У ПЕРІОДИЧНОМУ ПОТЕНЦІАЛІ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . 53

3.1. Рівняння Шредингера для електрона у періодичному потенціалі.........

53

3.2. Електрон у полі потенціалу типу гребінця Дірака...................................................................

54

3.3. Наближення майже вільного електрона.............................................................................................................

57

3.4. Утворення енергетичних зон........................................................................................................................................................

64

3.5. Електрон у полі потенціалу Кроніга–Пенні................................................................................................

65

3.6. Утворення енергетичних зон у теорії квазізв'язаного електрона...........

69

3.7. Типи міжатомних зв'язків у кристалах...............................................................................................................

74

3.8. Метали, діелектрики, напівпровідники. Елементарна класифікація......

80

3.9. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

82

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

83

Розділ 4. МЕТОДИ ОБЧИСЛЕННЯ ЗОННОЇ СТРУКТУРИ

 

КРИСТАЛІЧНИХ ТВЕРДИХ ТІЛ.....................................................................................................................

85

4.1. Метод плоских хвиль........................................................................................................................................................................................

88

4.2. Метод ортогоналізованих плоских хвиль........................................................................................................

89

4.3. Метод приєднаних плоских хвиль....................................................................................................................................

89

4.4. Метод псевдопотенціалу..........................................................................................................................................................................

90

4.5. k-p-метод........................................................................................................................................................................................................................................

92

4.6. Метод ефективної маси.............................................................................................................................................................................

94

4.6.1. Розкладання енергії електрона поблизу екстремальних точок..............

94

4.6.2. Динамічний аспект проблеми ефективної маси.....................................................................

96

4.7. Спін-орбітальна взаємодія..................................................................................................................................................................

98

4.8. Деякі приклади розрахунків зонної структури напівпровідників......

102

4.9. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

106

Список літератури................................................................................................................................................................................................

106

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

4

Розділ 5. ЕЛЕКТРОН У МАГНІТНОМУ ПОЛІ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

107

5.1. Магнітний момент і спін електрона.......................................................................................................................

107

5.2. Електронні статистичні системи..................................................................................................................................

108

5.3. Рівні Ландау........................................................................................................................................................................................................................

111

5.4. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

115

Список літератури................................................................................................................................................................................................

115

Розділ 6. КОЛИВАННЯ АТОМІВ КРИСТАЛІЧНОЇ ҐРАТКИ.................................................

117

6.1. Одновимірний лінійний ланцюжок атомів...........................................................................................

117

6.2. Довгодіючі сили та метод оберненої ґратки....................................................................................

119

6.3. Коливання двоатомного лінійного ланцюжка...............................................................................

122

6.4. Коливання атомів кристала. Фонони...................................................................................................................

124

6.5. Статистика фононів.......................................................................................................................................................................................

126

6.6. Електрон-фононна взаємодія..................................................................................................................................................

128

6.7. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

132

Список літератури................................................................................................................................................................................................

133

Розділ 7. ДОМІШКИ ТА ДЕФЕКТИ В НАПІВПРОВІДНИКАХ......................................

135

7.1. Типи дефектів у напівпровідниках..........................................................................................................................

137

7.2. Енергетичні стани домішкових напівпровідників............................................................

139

7.3. Елементарна теорія дефектів.................................................................................................................................................

143

7.4. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

146

Список літератури................................................................................................................................................................................................

147

Розділ 8. СТАТИСТИКА ЕЛЕКТРОНІВ У НАПІВПРОВІДНИКАХ

 

В УМОВАХ ТЕРМОДИНАМІЧНОЇ РІВНОВАГИ........................................................

149

8.1. Статистика електронів і дірок.............................................................................................................................................

149

8.2. Електрони та дірки...........................................................................................................................................................................................

152

8.3. Щільність станів....................................................................................................................................................................................................

157

8.3.1. Сферичні ізоенергетичні поверхні.........................................................................................................................

158

8.3.2. Еліпсоїдальні ізоенегретичні поверхні........................................................................................................

159

8.3.3. Щільність станів для неквадратичного закону дисперсії...........................

160

8.3.4. Щільність станів електронів напівпровідника

 

в магнітному полі......................................................................................................................................................................................

162

8.3.5. Щільність станів електронів,

 

що локалізовані на атомах домішок............................................................................................................

165

8.4. Концентрація носіїв заряду.

 

Вироджені та невироджені напівпровідники.................................................................................

166

8.5. Залежність положення рівня Фермі від температури................................................

170

8.5.1. Рівняння електронейтральності...........................................................................................................................

170

8.5.2. Концентрація електронів і дірок

 

на простих домішкових центрах...................................................................................................................................................

170

8.5.3. Рівняння електронейтральності для власного напівпровідника........

173

8.5.4. Напівпровідник, що має домішку одного типу.........................................................................

175

8.5.5. Напівпровідник, що містить акцепторну та донорну домішки..........

183

8.5.6. Вироджений напівпровідник ..............................................................................................................................................

185

8.6. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

187

Список літератури................................................................................................................................................................................................

190

5

ЗМІСТ

Розділ 9. ЯВИЩА ПЕРЕНЕСЕННЯ В НАПІВПРОВІДНИКАХ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

191

9.1. Кінетичне рівняння Больцмана.........................................................................................................................................

191

9.2. Час релаксації................................................................................................................................................................................................................

194

9.3. Електропровідність напівпровідників.............................................................................................................

199

9.4. Залежність рухливості напівпровідника від температури............................

207

9.4.1. Розсіювання на коливаннях ґратки.................................................................................................................

207

9.4.2. Розсіювання на іонізованих домішках.........................................................................................................

207

9.4.3. Розсіювання на нейтральних атомах домішок....................................................................

208

9.4.4. Розсіювання на дислокаціях...............................................................................................................................................

209

9.4.5. Залежність рухливості та електропровідності носіїв заряду

 

в реальних напівпровідниках від температури..................................................................

209

9.5. Гальваномагнітні явища в напівпровідниках................................................................................

211

9.5.1. Ефект Холла............................................................................................................................................................................................................

212

9.5.2. Ефект Холла в напівпровідниках із двома типами носіїв...........................

215

9.5.3. Магніторезистивний ефект...............................................................................................................................................

222

9.5.4. Ефекти Еттінгсгаузена та Ернста...............................................................................................................

228

9.6. Термомагнітні ефекти..............................................................................................................................................................................

229

9.7. Термоелектричні явища.......................................................................................................................................................................

233

9.8. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

235

Список літератури................................................................................................................................................................................................

236

Розділ 10. ГЕНЕРАЦІЯ ТА РЕКОМБІНАЦІЯ НОСІЇВ ЗАРЯДУ

 

У НАПІВПРОВІДНИКАХ........................................................................................................................................

237

10.1. Розподіл нерівноважних носіїв заряду за енергіями...............................................

238

10.2. Механізми рекомбінації носіїв заряду.........................................................................................................

239

10.3. Кінетика генерації і рекомбінації носіїв заряду

 

у напівпровідниках.....................................................................................................................................................................................

243

10.3.1. Міжзонна випромінювальна рекомбінація....................................................................................

250

10.3.2. Міжзонна ударна рекомбінація...............................................................................................................................

254

10.3.3. Рекомбінація через однозарядні локальні центри

 

(за Шоклі–Рідом) ........................................................................................................................................................................................

257

10.3.4. Спін-залежна рекомбінація в напівпровідниках..............................................................

265

10.4. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

272

Список літератури................................................................................................................................................................................................

276

Розділ 11. ДИФУЗІЯ ТА ДРЕЙФ НОСІЇВ ЗАРЯДУ.................................................................................

277

11.1. Дифузійні та дрейфові струми......................................................................................................................................

277

11.2. Нерівноважні напівпровідники. Квазірівні Фермі.........................................................

279

11.2.1. Співвідношення Ейнштейна...........................................................................................................................................

281

11.2.2. Експериментальне визначення коефіцієнта дифузії

 

за Хайнсом–Шоклі...................................................................................................................................................................................

283

11.3. Дифузія та дрейф нерівноважних носіїв заряду

 

в монополярному напівпровіднику....................................................................................................................

286

11.4. Час релаксації Максвелла..............................................................................................................................................................

288

11.5. Дифузія та дрейф неосновних надлишкових носіїв заряду

 

в домішковому напівпровіднику...................................................................................................................

289

11.6. Дифузія неосновних носіїв заряду в електричному полі..............................

292

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

6

11.7. Дрейф неосновних надлишкових носіїв заряду...................................................................

295

11.8. Дифузія та дрейф носіїв заряду в напівпровідниках

 

із провідністю, близькою до власної..............................................................................................................

297

11.9. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

300

Список літератури................................................................................................................................................................................................

302

Розділ 12. НЕСТІЙКОСТІ У НАПІВПРОВІДНИКАХ............................................................................

303

12.1. Електропровідність напівпровідників

 

у сильних електричних полях...........................................................................................................................................

303

12.2. Електронна температура...............................................................................................................................................................

308

12.3. Диференціальна провідність.

 

N- та S-подібні вольт-амперні характеристики.....................................................................

311

12.4. Критерії виникнення нестійкості...........................................................................................................................

315

12.5. Ударна іонізація...................................................................................................................................................................................................

317

12.6. Ефект Ганна..................................................................................................................................................................................................................

318

12.7. Умови виникнення від'ємної диференціальної провідності.................

322

12.8. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

324

Список літератури................................................................................................................................................................................................

326

ДОДАТКИ....................................................................................................................................................................................................................................................

327

Додаток А. Теорема Блоха для вироджених систем...............................................................................

327

Додаток B. Оператор координати в k-представленні.........................................................................

329

Додаток C. Функція розподілу

 

за багатозарядними домішковими центрами......................................................

330

Додаток D. Час релаксації носіїв заряду

 

за розсіювання на іонах домішок.......................................................................................................

332

Додаток Е. Енергія, яку втрачає електрон

 

за розсіювання на оптичному фононі.....................................................................................

336

Додаток F. Визначення відношення коефіцієнта дифузії

 

до рухливості........................................................................................................................................................................................

337

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]