Шумовые свойства транзистора.
1. Физическая природа шумов
Шумы транзистора состоят из нескольких составляющих.
тепловой шум;
дробовой шум;
избыточный (фликкер-шум);
случайные шумы флуктуации Iэ, которые вызваны перераспределением тока между базой и коллектором.
Тепловые шумы обусловлены сопротивлением тока rб.
Дробовые шумы обусловлены перераспределением носителей заряда между эмиттерным и коллекторным переходами.
Избыточные шумы – специфические шумы, которые возникают вследствие изменения состояния поверхности кристалла.
1.Избыточные шумы зависят от технологических факторов:
2.Пропорциональны протекающему току,
4.Проявляются на НЧ и инфра НЧ. С ростом частоты доля избыточных шумов уменьшается пропорционально 1 / f.
3.Больше у n-p-n Т, чем у p-n-p.
2. Эквивалентная схема для определения шумовых параметров.
Шумовые свойства транзистора отображаются входным генератором напряжения шума eш и входным генератором шума тока iш.
Т
оковые
шумы и шумы напряжения не
коррелированы
между собой.
;
;
где 4kTRг – тепловой шум резистора Rг.
-
Шум напряжения- генератор шумового напряжения, включает в себя тепловой шум объемного сопротивления rб и дробовой шум Iк.
,
В2/Гц
При больших Iк добавляется фликкер-шум.
Токовый шум (iш)
Состоит из двух
составляющих: флуктуации дробового
шума в Iб
при установлении Iб,
пропорционален
,
вторая составляющая – шумы фликкер
эффекта, они растут быстрее, чем
и имеют спектр 1/f.
З
ависимость
шумового тока от тока коллектора:
(кш ).
Коэффициент шума используется для сравнения различных транзисторов.
Fш – отношение измеренной в полосе частот 1 Гц суммарной мощности шума, приведенной ко входу к мощности теплового шума резистора Rг.
,
дБ
Коэффициент шума определяется:
Полным сопротивлением источника сигнала RГ;
Параметрами режима;
Параметрами транзистора (β, IКБ0, CЭ, fh21э, rБ, rЭ;
Рабочей частотой.
Величина Fш имеет min значение при Rг оптимальное, т.е. когда составляющие шума тока и шума напряжения равны.
Зависимость Fш от Rг и Iк для БТ.
Fш зависит от h21э, Iкб*, Сэ, fh21б, rб, rэ, fрабоч.
Зависимость Fш для БТ и ПТ от сопротивления источника сигнала Rг:
БТ лучше в низкоомных источниках сигнала: от 300 Ом до 100 кОм - 1 МОм; Iк от 1 мкА до единиц мА.
Rг>100 кОм меньшей *** обеспечивают ПТ.
На частотах до 1МГц ПТ меньше шумят, чем МОП-Т, что связано с тем, что у МОП-Т больше фликкер-шума, поэтому поверхность МОП-Т пассивируют N3Si.
4.Особенности мощных транзисторов.
В рабочем режиме имеют большую величину тока и напряжения. Ток распределяется по эмиттеру неравномерно, плотность тока увеличивается к краям эмиттера, поэтому изготавливают эмиттеры, у которых большой периметр.
Изготавливается многоэмиттерная структура; эмиттер представляет собой полоски.
aэ=10…20 мкм – ширина;
lэ=100…200 мкм – длина.
Для выравнивания тока Iэ изготавливают резисторы как правило тонкопленочные.
Многоструктурные транзисторы – матрица из транзисторов, соединенных параллельно.
Ток и напряжение не должны выходить за пределы области максимальных режимов.
БТ Uкэ=100В; при Iк=50А; Pнапр=175…200 Вт.
З
ависимость
– области max
режимов.
Iобл Ограничен Iкmax допустимое IIобл Ограничение по Pк max допустимое
IIIобл Ограничение вызванное вторичным пробоем – это пробой, который может возникнуть при определенных сочитаниях Iк и Uкэ у любого Т в активном режиме и режиме отсечки при Uэб<0, т.е. происходит пробой перехода эмиттер – база.
IVобл. Ограничивается граничными напряжениями ВАХ при заданных условиях на входе.
Vобл. Ограничивается Uкэ max пробивное.
При увеличении температуры корпуса диапазон уменьшается, Imax ограничивается: Pдоп, h21э (Iк => h21э до 1В), критическим током, при котором происходит второй пробой, rкэ.
Мощные транзисторы нежелательно использовать в маломощных цепях.
Второй пробой может возникнуть в активном режиме и в режиме отсечки при значениях тока и напряжения меньше максимально допустимых (UКЭ = U2).
Причины:
Неравномерное токораспределение;
Образование мест локального перегрева;
Потеря термической стойкости.
Мощные ВЧ транзисторы.
Требования: малые емкости между электродами, которые могут создавать паразитные обратные связи (ОС).
- малые L выводов;
- структура Т, у которого должна быть Ск, rк, Uкэ нас и fгр
Эти транзисторы характеризуются следующими параметрами:
Рвых;
Кур;
Iкритич – величина тока при котором происходит уменьшение fгр в
Чтобы уменьшить rб, надо увеличить концентрацию => Сэк, Скб.
С
труктура
СВЧ транзистора:
(n-p-n
Т с тонкой базой 0.10.3
мкм).
Для Iэ и соответственно fгр, необходимо увеличить *** и уменьшить nWk, тогда уменьшиться Ск бар., Wк и r к, но происходит Uпробойного. Поэтому транзисторы с высокой fгр имеют более низкие значения I, U, Ррассеивания.
Рf2=const – ограничивается напряжением пробоя, с другой стороны – конечной скоростью полета носителей заряда.
СВЧ транзисторы содержат цепи согласования.
2Т985АС
Критичнs к КЗ и ХХ.
Корпуса с плоскими выводами коаксильного типа.
Металлокерамическиеа.
Полевые СВЧ транзисторы.
ПТШ на AsGa 3П602 до ГГц – усилительные и генераторные. Канал n-типа.
Составные транзисторы.
КТ829 – мезапланарный Т n-p-n для УЗЧ.
=750; Iк=8А; Iб=0.2А; Рр=60Вт.
Uбэ=2.5В; Iк=3.5А; Iб=14мА.
Схема принципиальная:
общ=1*2 Резисторы
здесь для стабильной работы.
Диод тут защита от обратных токов при работе на L и при неправильном включении в источник питания.
Конструкция корпусов транзисторов.
Корпус – от механических повреждений и воздействий внешних факторов (температура и т.д.); должен эффективно отводить тепло, обеспечивать электрическую изоляцию токопроводящих выводов, надежное соединение с электрическими цепями, простое и удобное крепление в аппаратуре.
Корпуса могут быть:
- металлостеклянные;
- металлические с проходными изоляторами;
- металлокерамические;
- керамика с пластмассой;
пластмассовые.
Для маломощных транзисторов применяются корпуса:
-металлостеклянные: КТ-1, КТ-2, (ТО-18, ТО-5, ТО-39)
Р до 15Вт; fгр1.5 ГГц
-металлокерамические: КТ-4; КТ-6; КТ-7 (ТО-60, ТО-61, ТО-63)
Р200Вт; fгр500 МГц
Выводы изолированы от корпуса.
-металлостеклянные: КТ-8, КТ-9 (ТО-66, ТО-3)
