- •6. Электропроводность твердых тел
- •6.1. Причины появления электрического сопротивления
- •6.2. Кинетическое уравнение Больцмана
- •6.3. Время релаксации. Длина свободного пробега
- •6.4. Проводимость невырожденного и вырожденного электронных газов
- •6.5. Температурная зависимость подвижности носителей
- •6.6. Температурная зависимость проводимости металлов и полупроводников
- •6.7. Сверхпроводимость
6.6. Температурная зависимость проводимости металлов и полупроводников
Проводимость
металлов. Так
как в чистых металлах электронный газ
вырожден и
,
то зависимость
определяется
зависимостью
(см. рис. 6.3).
Коснемся
вопроса о проводимости металлов,
содержащих примеси
других металлов, т. е. вопроса о проводимости
сплавов. При этом определяющую роль
играет ответ на вопрос: упорядочен или
неупорядочен сплав? Неупорядоченным
называют сплав с совершенно случайным
распределением его компонент (рис. 6.5).
В этом случае потенциал решетки совершенно
не периодичен, что приводит к высокому
удельному сопротивлению сплава
.
В упорядоченных сплавах расположение
компонент обнаруживает периодичность
(рис. (6.6), потенциал решетки также
периодичен, поэтому удельное сопротивление
падает почти до значения
чистых металлов, несмотря на наличие
атомов разного сорта. Если присадка
другого металла
мала, то
,
т.
е. в области низких температур удельное
сопротивление практически не зависит
от
и
остается постоянным вплоть до сверхнизких
температур. Таким образом, при
Это правило аддитивности для удельного сопротивления, или правило Матиссена.
Рис. 6.5. Модель неупорядоченного сплава
Рис. 6.6. Модель упорядоченного сплава
Проводимость собственных полупроводников. Для собственных полупроводников концентрация электронов всегда равна концентрации дырок р, поэтому
. (6.23)
Концентрация определяется выражением (4.41). Подвижность в собственных полупроводниках определяется рассеянием на фононах, т. е.
;
, (6.24)
где
а
— коэффициент
пропорциональности,
.
Подставив значения
и
подвижности в (6.23), получим проводимость
собственного полупроводника:
, (6.25)
где
.
Полученную зависимость удобно представить в полулогарифмических координатах на графике (рис. 6.7). Из графика видно,
Р и с. 6.7. Зависимость проводимости носителей
от температуры 11 собственном полупроводнике
Рис. 6.8. Зависимость проводимости носителей
от температуры в примесных полупроводниках
что
ширина запрещенной зоны
,
что используется в экспериментах по
определению
.
Удельное
сопротивление собственных
полупроводников резко падает с ростом
температуры.
Проводимость
примесных полупроводников. Проводимость
полупроводников определяют по формуле
.
Зависимость
была рассчитана в главе 4 (см. формулы
(4.42) и (4.43)), зависимость
также известна (см. табл. 4.1 и рис. 6.4).
Нетрудно построить графики зависимости
в
примесных полупроводниках. В
полулогарифмическом
масштабе они показаны на рис. 6.8. На
участке I
наблюдается
рост числа электронов в зоне проводимости
за счет ионизации примеси. Тангенс угла
наклона зависимости б на этом участке
определяет энергию активации примеси
(примесь
— донор). Концентрация электронов по
мере истощения примеси достигает
постоянной величины (участок II),
температуры
пока еще настолько малы, что переходы
собственных электронов из зоны в зону
малы. И то же время наблюдается рост
концентрации фононов и поэтому некоторое
снижение проводимости полупроводника.
Участок III
соответствует
росту числа носителей в зоне проводимости
за счет межзонной генерации носителей.
При
увеличении концентрации примеси
примесный уровень размывается в зону.
При достаточно большой концентрации
может
произойти перекрытие зоны примесного
уровня и зоны проводимости. В
таких
полупроводниках электронный газ
становится вырожденным, концентрация
носителей перестает зависеть от
температуры. Полупроводники такого
рода являются вырожденными, они поучили
название полуметаллов.
Рис. 6.9. Насыщение скорости дрейфа носителей в сильных полях
В
реальных полупроводниках характер
изменения проводимости с температурой
может быть намного сложнее. Это
объясняется тем, что в них имеется
несколько сортов примесей с различными
энергиями активации. Дефекты структуры
также могут давать ловушечные центры
в запрещенной зоне полупроводников.
Теоретическое рассмотрение в таких
полупроводниках является весьма сложным
и в силу вынужденных упрощений дает
приблизительные результаты. В заключение
сделаем некоторые принципиальные
замечания. Развитие техники (в частности,
получение электрических полей большей
напряженности, достижение и применение
сверхнизких температур) заставляет
вновь анализировать некоторые устоявшиеся
понятия. Так, ранее предполагалось
безусловное выполнение закона Ома
,
однако
выяснилось, что в сильных электрических
полях он может нарушаться. Утверждение,
что скорость дрейфа
всегда
меньше тепловой скорости
,
подверглось
ревизии. В сильных электрических
полях энергия
,
набранная
электроном на длине свободного
пробега, переходит в кинетическую
энергию электрона
и
может сравниться с
.
Подвижность
электрона уменьшается пропорционально
.
При
этом наблюдается эффект насыщения
скорости дрейфа (рис. 6.9), плотность тока
становится пропорциональной
.
Наблюдается
и прямо противоположный эффект. В сильных
полях уменьшается время взаимодействия
электрона с полем заряженного иона,
подвижность электрона возрастает как
.
Кинетическая
энергия электронов может превысить
кинетическую энергию атомов решетки
(«горячие электроны»). В сильных полях
может происходить увеличение концентрации
электронов из-за термоионизации, ударной
ионизации нейтральных атомов горячими
носителями и просачивания электронов
из валентной зоны в зону проводимости
туннельным путем, что также нарушает
закон Ома.
