- •1. Цель науки и возможности влияния науки на развитие цивилизации.
- •2. Структура ниокр и цель каждого из видов исследований и разработок.
- •3. Организация проведения научных исследований на уровне государственных и международных программ.
- •4. Структура и функции академии наук.
- •5. Разновидности нии и принципы их организации.
- •10.Содержание основной стадии нир
- •6. Основные схемы участия вуЗов в ниокр в России и за рубежом.
- •7. Основные разновидности организаций полностью или частично охватывающих в своей деятельности цепочку «исследование-производство»
- •8. Разновидности научных кадров и система их подготовки в России и за рубежом.
- •9.Содержание подготовительной стадии нир
- •11.Содержание этапов окр
- •12.Содержание работ по созданию и исследованию аналитических моделей объектов.
- •13. Содержание работ по созданию моделей объектов и их исследования численными методами решения уравнений.
- •14. Содержание работ по экспериментальному исследованию работ.
- •План программа эксперимента.
- •16. Практически применяемые разновидности научных экспериментов.
- •17. Виды информационных материалов и их основные разновидности.
- •18. Структура полного библиографического описания монографий, книги с несколькими авторами, книги с большим числом авторов. Структура полного библиографического описания изобретений.
- •19. Структура полного библиографического описания журнальных статей в зависимости от числа авторов. Особенности полного библиографического описания статей в зарубежных журналах и депонированных.
- •20.Виды рефератов и принципы реферирования первоисточника. Структура реферата в рж винити и информация, содержащаяся в номере реферата.
- •Требования к содержанию реферата
- •21. Структурные составляющие реферата технологической тематики.
- •Патентные материалы.
- •Структура описания изобретений
- •22.Виды информационных систем и принципы их организации.
- •23. Ведущие библиотеки России и различия в функциях.
- •24.Всероссийские информационные центры и принципы их разделения.
- •25. Функции винити, внтиц, вцп и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •26. Функции вниипи, вниипм, вкп и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •25. Функции гпнтб, вниимв, вниики и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •26.Методика целевого поиска информации в библиотеках и структура каталогов библиотек.
- •26. Методика целевого поиска информации в компьютерных базах данных.
- •27. Методика поиска нестандартных технических решений и рациональная область применения каждого из них.
- •28. Общая характеристика метода «мозгового штурма» и особенности его применения.
- •29.Общая характеристика метода «синектика» и особенности его применения.
- •30.Общая характеристика метода «морфологический анализ» и особенности его применения.
- •Содержание метода
- •31. Общая характеристика метода «функционально-стоимостный анализ» и особенности его применения.
- •32.Общая характеристика алгоритма решения изобретательских задач и особенности его применения
- •33. Основные принципы построения теории решения изобретательских задач и хар-ка уровня изобретений.
- •34. Законы развития технических систем и примеры их появления в технических объектах.
- •35. Виды противоречий в задачах на уровне изобретений и методы их устранения в ариз.
- •36. Общая характеристика вепольного анализа в теории решения изобретательских задач и особенности его применения.
- •37. Система «функциональных экранов» в ариз-85 и его функции.
- •38. Структура этапов решения задач в ариз-85.
- •Определение идеального конечного решения (икр) и физического противоречия (фп).
- •39. Порядок применения в ариз банка данных физических эффектов, и типовых приемов устранения технических противоречий.
- •40. Виды средств измерения и их общая характеристика.
- •41.Виды преобразования измеряемого сигнала в приборах и их общая характеристика.
- •С хема прямого преобразования.
- •С хема преобразования компенсационного типа с полной петлёй обратной связи.
- •42.Разновидности измерительных приборов и область их применения.
- •43.Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения размеров, массы, усилий, времени.
- •44. Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения силы переменного и постоянного тока в диапазоне 10-6…104 а, электрического напряжения и сопротивления, мощности электроустановок.
- •45. Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения величины емкости и индуктивности элементов установок, частоты и формы электрических импульсов.
- •46. Измерительные инструменты приборы, применяемые для измерения величины давления и расхода газов и жидкостей.
- •47. Измерительные инструменты приборы, применяемые для измерения температуры объектов.
- •48. Характеристики измерительных приборов, определяющие их выбор.
- •49. Виды погрешностей измерений и практические возможности их уменьшения.
- •50.Общая характеристика нормального распределения случайных величин, представление результатов измерений по госТу.
- •Единицы измерения
- •51. Виды погрешностей аналоговых и цифровых измерительных приборов.
- •52. Основная и дополнительная погрешность измерительных приборов.
- •53. Область применения, преимущества и недостатки статических математических моделей.
- •54. Характеристика входных и выходных параметров статистической математических модели и их взаимосвязи.
- •55. Наиболее часто применяемые принципы в математическом планировании экспериментов.
- •56.Общая характеристика центральных композиционных планов 1 и 2 порядка.
- •57. Область применения, преимущества и недостатки дробных факторных экспериментов.
- •58. Общая характеристика д, а, е оптимальных планов экспериментов
- •59. Общая характеристика этапов дисперсионного анализа при обработке данных эксперимента.
- •60. Общая характеристика этапов регрессионного анализа при обработке данных эксперимента
- •61. Проверка статистическим методом сомнительных данных на выпадение.
- •62. Проверка статистическим методом однородности дисперсий серии измерений
- •63. Проверка статистическим методом значимости коэффициентов уравнения регрессии.
- •64. Проверка статическим методом адекватность математической модели.
- •65. Анализ результатов спланированного факторного эксперимента и применение полученных данных.
- •66.Причина получения неадекватных статических математических моделей и направления действия по преобразованию их в адекватные модели.
- •67. Общая характеристика и область применения отсевающих экспериментов
- •68. Разбиение факторных пространств на блоки.
- •69. Последовательное симплекс-планирование экспериментов.
- •70. Статистически обоснованное построение эмпирических математических зависимостей по группе экспериментально измеренных значений.
- •71. Аппроксимация табличных данных типовыми функциями и сплайнами.
- •72. Математические методы уменьшения количества экспериментальных факторов.
- •73. Принципы применения теории подобия в экспериментальных исследованиях.
- •74. Примеры применения безразмерных критериев в экспериментальных исследованиях.
- •75. Применение анализа размерностей в экспериментальных исследованиях. Теорема Букингема.
Единицы измерения
В СССР с 1960-го года в качестве дополнительной введена система СИ. Она стала обязательной с 1970 года.
В механике три основные величины :
Масса – кг;
Время – с;
Длина – м.
В электротехнике и теплотехнике:
Сила тока – А;
Сила света – Кд;
Температура – К.
В химии : моль.
Системой СИ устанавливаются стандартные обозначения приставок к базовым величинам:
1012 – Т (тера);
109 – Г (гига);
106 – М (мега);
103 – к (кило);
102 – г (гекто);
101 – да (дека);
10-1 – д (деци);
10-2 – с (санти);
10-3 – м (мили);
10-6 – мк (микро);
10-9 – н (нано);
10-12 – п (пико);
51. Виды погрешностей аналоговых и цифровых измерительных приборов.
Класс точности приборов.
Для аналоговых приборов класс точности делится на 3 группы: 0,1…5 % (0,1;0,2;0,5;1;2,5;4;(5)).
Цифры в скобках – приведенная погрешность приборов.
Приведение в подавляющем большинстве случаев производится в конце шкалы, в некоторых случаях к некоторой специальной метке. Означает, что приведенная погрешность относится к длине шкалы. В начале шкалы реальные погрешности выше, в конце шкалы ниже.
В связи с этим, при измерении аналоговыми приборами, методически правильным считается только части шкалы, обычно ≈½ там, где большие значения. Обычно шаг диапазонов 1:2 , 1:2,5.
Для очень грубых оценок используется абсолютная погрешность в виде ½ деления шкалы.
В цифровых приборах погрешности подразделяются на:
1.аддитивные (сложение);
2. мультипликативные (умножение).
Δ= Хи - Хр, где Δ-абсолютная погрешность.
δ= Δ/Хи, где δ- относительная погрешность.
δ= А+ХБ, где А - аддитивная составляющая; ХБ – мультипликативная.
У цифровых приборов аддитивная часть, как правило, одна или несколько единиц последнего разряда.
К техническим приборам относят приборы от 0,5 до 4 класса точности. В этом случае оценка погрешности, как правило, принимается на уровне половины деления шкалы.
В большинстве случаев это электрические измерительные и механических приборы.
Для цифровых приборов, кроме относительной погрешности, нормируется абсолютная погрешность в виде одного или нескольких младших разрядов. Для всех приборов с преобразованием величин, где используется электронные преобразователи, указывается, кроме основной погрешности, ещё и дополнительная погрешность.
Основная погрешность обеспечивается при так называемых нормальных условиях эксплуатации (Температуре 20C, напряжении сети 220 В, частоте сети 50 Гц. Всегда оговаривается диапазон допустимых отклонений. Например для частоты сети 500,5 Гц).
Дополнительная погрешность нормирует влияние отклонения какого-то из параметров внешней среды на показания прибора.
Дополнительные погрешности указываются в паспорте на прибор.
Погрешности измерений подразделяются на четыре группы:
Случайные;
Систематические (чаще всего неисправность прибора);
Грубые (случайные выбросы, аварийные ситуации типа короткого замыкания и т. п.);
Промахи (ошибки экспериментатора);
Погрешности измерительных средств подразделяются на:
1.основные;
2.дополнительные.
Основные–для нормальных условий измерений, то есть t=20ºС; р=660 мм.рт.ст.;влажность=80%; fсети =50 Гц, напряжение сети 220 В и т.п.
Дополнительные - определяются отклонением от нормальных условий измерения.
Для приборов обычно, частота 50+-0,5, температура 20+-2 0С.
В паспорте указывается величина поправки при выходе влияющих параметров за допустимые пределы.
