- •Печатается по решению редакционно-издательского совета Челябинского государственного университета.
- •Введение
- •Лабораторная работа 1 контактные явления на границе раздела между полупроводником и металлом
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 2 изучение выпрямляющего действия электронно-дырочного перехода
- •Задание
- •Описание метода и установки
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 3 изучение температурной зависимости характеристик биполярного транзистора
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 4 исследование ёмкостных свойств полупроводниковых диодов
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 5 туннельный эффект в р-n-переходе вырожденных полупроводников
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 6 изучение фотопроводимости полупроводников
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 7 фотоэлектрические свойства электронно-дырочного перехода
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторный практикум по физике твердого тела и твердотельной электронике
- •Гоувпо «Челябинский государственный университет»
- •454021 Челябинск, ул. Братьев Кашириных, 129
- •454021 Челябинск, ул. Молодогвардейцев, 57б
Описание метода и установки
В
задачу данной работы входит изучение
температурного дрейфа входной
характеристики транзистора в схеме с
общей базой
при UКБ=const.
Объектами исследования является два
транзистора n-р-n-типа:
кремниевый КТ315 (ТI)
и германиевый ГТ311 (Т2)
(рис.
2). Транзисторы
помещены в термостат, расположенный на
лицевой панели планшета. На этой панели
также размещены клеммы и расшивочная
панель.
Электрическая схема установки приведена
на рис. 2.
Питание электрической схемы осуществляется от источника питания БП-591 с выходным напряжением +12В, подключаемого к планшету с помощью штепсельного разъема. Электропитание блока термостатирования производится от сети 220 В. Задание температуры определяется регулятором – задатчиком температуы, расположенным на передней панели. Измерение температуры осуществляется с помощью термопарного термометра. Рабочим режимом транзисторов данного типа (n-p-n) является такой режим, при
котором потенциал базы превышает потенциал эмиттера, а потенциал коллектора выше потенциал базы. Стабилитрон КС139, включенный в цепь базы, обеспечивает постоянство напряжения на базах обоих транзисторов. Регулировка обратного напряжения коллекторного перехода UКБ осуществляется резистором R1 входной цепи эмиттерного повторителя Т цепи питания. Напряженяе UКБ между клеммами 4(6) и 10 измеряется мультиметром типа С1-112. Эмиттерный ток IЭ и напряжение UЭБ задается потенциометром R2. Значение тока IЭ определяется по падению напряжения на сопротивлениях R3=100 Ом и R5 = 100 Ом, измеряемого мультиметром типа С1-107.
Рис. 2
Напряжение UЭБ измеряется между клеммами 3(5) и 10 с помощью мультиметра С1-112.
Задание
1. Снять входную характеристику при фиксированном напряжении UКБ для кремниевого и германиевого транзисторов при трех различных значениях температур.
2.
Построить
график зависимости ln
IЭ
от
при больших значениях IЭ
(когда ток
эмиттера подчиняется зависимости (6)) и
найти ширину запрещенной зоны материала
полупроводникового транзистора Eg.
3.
Оценить
разницу в ширине запрещенной зоны
кремния и германия по сдвигу входных
характеристик германиевого и кремниевого
транзисторов.
4. Провести анализ полученных результатов.
Контрольные вопросы
1. Объясните устройство и принцип действия биполярного транзистора.
2. Почему в рабочем режиме к коллекторному переходу прикладывается обратное напряжение?
3. Объясните причину температурного дрейфа характеристик транзисторов.
4. Почему входные характеристики кремниевых и германиевых транзисторов сдвинуты друг относительно друга вдоль оси напряжений?
5. Как по сдвигу входных характеристик германиевого и кремниевого транзисторов оценить разницу в ширине запрещенной зоны
Список рекомендуемой литературы
1. Батушев В.А. Электронные приборы. М.: Высш. шк., 1980. 383 с.
2. Шалимова К.В. Физика полупроводников. М.: Энергия, 1976. 416 с.
3. Епифанов Г.И., Мома С.А. Твердотельная электроника. М.:Высш. шк., 1966. 304с.
4. Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников. М.: Наука, 1977. 672с.
5. Ржевкин К.С. Физические принципы действия полупроводниковых приборов. М.: Изд-во Моск. ун-та, 1986. 256с.
6. Гусев В.Г., Гусев Ю.М. Электроника. М.: Высш. шк., 1991. 622с.
