- •І.Ю. Проценко, л.В. Однодворець технологія одержання і фізичні властивості плівкових матеріалів та основи мікроелектроніки (практикуми)
- •Розділ 1 лабораторний практикум
- •1.1 Правила техніки безпеки під час виконаннЯ лабораторних робіт
- •1.2 Практикум «Технологія плівкових матеріалів»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні питання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •1.4 Практикум «Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •1.5 Практикум «основи опто- і мікроелектроніки»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •1. Режим прямого ввімкнення
- •2. Режим зворотного ввімкнення
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Список літератури
- •Розділ 2 практичні заняття
- •2.1 Практикум «Фізичні явища в тонких плівках»
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •2.2 Практикум «Технологія наноструктурованих матеріалів»*
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •2.3 Практикум «Датчики неелектричних величин»
- •Задачі для розв’язування
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •2.4 Практикум «Прилади і методи дослідження плівкових матеріалів»
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Запитання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •2.5 Практикум «Основи мікроелектроніки»
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Технологія одержання і фізичні властивості плівкових матеріалів та основи мікроелектроніки (практикуми)
Список літератури
Прищепа М.М. Мікроелектроніка. Ч.1. Елементи мікроелектроніки / М.М.Прищепа, В.П.Погребняк. - Київ: Вища школа, 2004. - 432 с.
Ігумнов Д.В.Основи мікроелектроніки / Д.В. Ігумнов, Г.В. Корольов, І.С. Громов.– Київ: Вища школа, 2004. – 252 с.
Ефимов И.Е. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность / И.Е. Ефимов, И.Я. Козырь, Ю.И. Горбунов. - М.: Высшая школа, 1986.-464 с.
Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. - М.: Лаборатория базових знаний, 2001. - 488 с.
Заняття 4. Оптичні властивості мікроелектронних структур
Методичні вказівки. При розв’язуванні задач використовуються такі поняття і співвідношення:
коефіцієнт відбивання розраховується за формулою
,
де
і
-
показники заломлення середовищ, через
які проходить світло;
частка світла, яке випромінюється через лицьову поверхню світлодіода, визначається так:
;
зовнішня Р0 і внутрішня Pi потужності світлодіода відповідно дорівнюють Р0 = F.Pi=
.
Задачі для розв’язування
Задача 16. Ефективність перетворення зовнішньої (електричної) потужності планарного GaAs світлодіода η дорівнює 1,5% при прямому струмі I = 50 мА і різниці потенціалів U = 2 В. Оцінити оптичну потужність Pi, що генерується приладом, якщо коефіцієнт відбиття R на межі GaAs - повітря дорівнює R = 0,8. Коефіцієнт заломлення GaAs n = 3,6.
Задача 17. Оцінити ефективність перетворення зовнішньої потужності планарного GaAs світлодіода η, коли внутрішня оптична потужність Pi становить 30% від прикладеної електричної потужності. Коефіцієнт заломлення GaAs n = 3,6.
Задача 18. На ідеальний фотодіод (тобто, з квантовим виходом що дорівнює 1) падає випромінювання потужністю P = 10 мВт при довжині хвилі 0,8 мкм. Розрахувати струм і напругу на виході приладу, коли детектор використовується в режимі фотострум і фото-е.р.с., відповідно. Струм витікання при зворотному зміщенні I0 = 10нА, робоча температура Т = 300К.
Задача 19. Фотодіод на основі p-n- переходу має квантовий вихід 50% на довжині хвилі 0,9 мкм. Розрахувати чутливість R, поглинену оптичну потужність P (Ip = 1 мкА) і число фотонів, поглинутих за секунду при цій довжині хвилі rp.
Задача 20. Лавинний фотодіод з коефіцієнтом множення М = 20 працює на довжині хвилі λ = 1,5 мкм. Розрахувати квантовий вихід і вихідний фотострум, якщо його чутливість R на цій довжині хвилі дорівнює 0,6 А/Вт при потоці 1010 фотонів/с.
Список літератури
1. Прищепа М.М.. Погребняк В.П. Мікроелектроніка. -Частина 1. Елементи мікроелектроніки - Київ: Вища школа, 2004. - 432 с.
2. Аваев Н.А. Основы микроэлектроники / Н.А. Аваев, Ю.Е. Наумов, В.Т. Фролкин. – М.: Радио и связь, 1991.–288 с.
Заняття 5. Елементи гібридних інтегральних мікросхем
Методичні вказівки. При розв’язуванні задач використовують такі поняття і співвідношення:
1) опір тонкоплівкової резистивної смужки для однорідної за товщиною резистивної плівки визначається за формулою
де ρ - питомий опір матеріалу плівки; d - товщина плівки; l, b - довжина і ширина резистивної смужки; R = ρ/d - опір квадрата резистивної плівки, Ом/; kф = l/b - коефіцієнт форми або число квадратів резистивної смужки;
2) ємність плоского плівкового конденсатора визначають за формулою:
де - діелектрична проникність матеріалу діелектрика; d- товщина діелектрика (0,2-0,3 мкм); S - площа перекриття обкладинок; С0 = (0/d) - питома ємність діелектрика; СP - питома периметрична ємність, спричинена крайовим ефектом; Р - периметр перекриття обкладинок;
3) індуктивність плоскої спіралі круглої форми розраховують за формулою
,
а індуктивність плоскої спіралі
квадратної форми - за формулою
де D1, D2 - внутрішній та зовнішній діаметри спіралі, мм; W - число витків (індуктивність L вимірюється в нГн).
Індуктивність плоского прямокутного провідника розраховують за формулою
,
де L - індуктивність, нГн; l, b, d - відповідно довжина, ширина і товщина прямокутного провідника, мм.
Індуктивність круглого витка обчислюють за формулою
,
де L - індуктивність, нГн; l, b, d - відповідно периметр, ширина і товщина провідника витка, мм.
Індуктивність квадратного витка визначають за формулою
,
де L - індуктивність, нГн; l, b, d - відповідно сторона квадрата, ширина і товщина провідника витка, мм.
Відрізок циліндричного провідника може також використовуватись як індуктивний елемент ІМС, його індуктивність розраховують за формулою
,
де L - індуктивність, нГн; l, d, - відповідно довжина і діаметр провідника, мм.
