- •2007 – Радиотехника; 2016 – Радиоэлектронные системы,
- •3.1 Основы алгоритма оптимального поиска неисправностей
- •2205- Автоматизированные системы управления,
- •Екатеринбург, 2004
- •Составители л.А. Чиркова
- •Оптимальный алгоритм поиска неисправностей
- •Уральский государственный
- •1. Цель работы
- •2. Продолжительность работы
- •3. Теоретическая часть
- •3.2Формула Байеса
- •4. Домашнее задание
- •5. Описание лабораторной установки
- •5.2 Порядок выполнения лабораторной работы
- •6. Содержание отчета
- •7. Контрольные вопросы
- •8. Литература
3.2Формула Байеса
В лабораторной работе необходимо вычислить вероятность отказа i -го элемента при условии, что произошел отказ триггера Шмидта, для чего используется формула Байеса.
При этом ставится задача [2] . Имеется полная группа несовместных гипотез H1, H2, … , Hn, где гипотеза Нi есть отказ типа i (см. табл.5).
Вероятность гипотез до опыта известна и равна соответственно:
P(H1)=Q1(t)
……………
P(Hn)=Qn(t).
Произведен опыт, в результате которого наблюдается появление события А - отказ триггера Шмидта. Спрашивается, какова вероятность гипотезы Hi с появлением события А? Ответ дает формула Байеса:
i=1, …, n,
где P(Hi)-вероятность отказа i-го элемента,
P(A\Hi)- вероятность отказа триггера Шмидта при условии, что отказал i-ый элемент.
4. Домашнее задание
1. Пользуясь [3] определить интенсивность отказов элементов триггера Шмидта в предположении простейшего потока отказов при следующих исходных данных:
а) температура окружающей среды t0 = 500 С,
б) коэффициенты нагрузки элементов и их типы сведены в табл. 4.
Таблица 4
Элемент |
R1 |
R2 |
RК1 |
RЭ |
R |
RК2 |
КБ2 |
СУС |
Т1 |
Т2 |
КН |
0,014 |
0,25 |
0,16 |
0,255 |
0,062 |
0,22 |
0,06 |
0,2 |
0,1 |
0,1 |
Тип |
МЛТ |
КСО |
ГТ-308А |
|||||||
Примечание:
при расчете предполагается, что сопротивления подвержены отказам типа только "обрыв", конденсаторы - отказам типа только "короткое замыкание", а полупроводниковые приборы - отказам типа "обрыв" и "короткое замыкание", т.е. в схеме имеют место внезапные отказы. При этом для полупроводников:
об = 0,5,
3 = 0,5,
где об -интенсивность отказов "обрыв",
3 -интенсивность отказов "замыкание".
2. Определить вероятность отказа i-го элемента при условии, что в триггере Шмидта имеется отказавший элемент (по формуле Байеса) в предположении, что jt << 1 и заполнить табл. 5.
Таблица 5
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
Обрыв |
КЗ С1 |
Обрыв Б1 |
КЗ КБ1 |
Обрыв Э2 |
||||||
Rк1 |
Rк2 |
R1 |
R2 |
R |
Rб |
Rэ |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5. Описание лабораторной установки
Для проведения эксперимента используется лабораторный стенд, блок-схема на рис. 2. В лабораторной установке - триггере Шмидта – из синусоидального напряжения, подаваемого на вход, формируются прямоугольные импульсы, форма и амплитуда которых контролируется осциллографом.
Генератор Стенд Осциллограф
с
инус.
сигналов
Рис.2 Блок-схема установки
Стенд состоит из двух частей:
Система индикации, показывающая номер неисправности согласно табл. 5, и измерительный прибор.
Система управления, выполненная в виде кнопочных переключателей, с помощью которых осуществляется имитация неисправностей, подключение измеряемых параметров к измерительному прибору и переход из режима "алгоритм" в режим "неисправность".
