1.2. Факторы, оказывающие влияние на достоверность результата анализа

Из вышесказанного следует что, основная особенность конкретной методики спектрального анализа – это вид градуировочного графика, отражающего характер регрессионной связи между функциями F(I) и F(С). Эта связь – единственная полезная, но, к сожалению, не единственно существующая в спектральном анализе металлов и сплавов с применением любого источника света. Дело в том, что перевод части металлической пробы в межэлектродный промежуток под воздействием искрового разряда – сложный физико-химический процесс включающий быстрый локальный разогрев анализируемого образца и его “взрывное” испарение, химические реакции взаимодействия вещества электродов с компонентами атмосферы и диссоциацию соединений, образующих в металле самостоятельную фазу в виде микровключений оксидов, карбидов, нитридов, карбонитридов и т.п.; перераспределение содержания примесных элементов в зоне искрового воздействия из-за различия их диффузии и растворимости в сплаве; изменение кристаллической структуры металла, его зернистости, твердости и электроэрозийной способности. Все эти эффекты в конечном итоге приводят на стадии взаимодействия плазмы искрового разряда с анализируемым металлическим образцом к возникновению паразитных влияний вариаций рабочих условий на аналитический сигнал, влияний, осложняющих фундаментальную связь между F(I) и F(С) и делающих ее неоднозначной. В условиях дуги переменного тока к

перечисленным механизмам добавляются, в частности, сильный разогрев электрода и его частичное испарение, причем с разной скоростью для различных компонентов.

Все факторы, определяющие процессы в аналитическом источнике света, обобщенно называют условиями возбуждения.

Все возможные влияния можно разделить на несколько групп.

Во-первых, это роль параметров разряда, которые в свою очередь можно подразделить на электрические характеристики контура искры или дуги переменного тока и на физические особенности межэлектродного промежутка.

Во-вторых, это влияние физических характеристик анализируемого образца, которые можно дифференцировать на геометрические параметры самого образца и структурные особенности исследуемого металла, обусловленные его термической и механической обработкой.

В-третьих, это разного вида временные зависимости, проявляющиеся как при взаимодействии разряда с образцом в пределах данного анализа, так и при долгосрочной эксплуатации источника света.

В-четвертых, это влияние химического состава самого анализируемого металла (сплава), обусловленное как эффектом матрицы (основы), так и эффектом третьих компонентов (неопределяемых примесей) и, кроме того, особенностями физико-химических свойств определяемого элемента.

Пользуясь этой классификацией, следует все же помнить, что отдельные ее элементы могут проявляться в анализе одновременно и совместно, что они взаимосвязаны, причем их общее воздействие на результат анализа не является аддитивной суммой отдельных воздействий, а более сложно и неоднозначно[2].