- •1 Цель и содержание работы
- •2 Краткие теоретические сведения
- •2.1 Понятие барьерной, емкости, и контактной разности потенциалов.
- •2.2 Определение концентрации примесей в p-n переходе.
- •2.2.1 Случай резкого р-п перехода.
- •2.2.2 Случай плавного р-n перехода.
- •2.3 Зависимость барьерной емкости от температуры.
- •Исследование влияния времени диффузии (в) на профиль распределения примеси в Si(p) в p-n переходе
2.2 Определение концентрации примесей в p-n переходе.
2.2.1 Случай резкого р-п перехода.
В данной работе используется приближение резкого ассиметричного перехода, когда N(xp)>>N(xn). Такое соотношение имеет место в сплавных р-n переходах, а также в р-n переходах, созданных путем кратковременной диффузии или кратковременного эпитаксиального наращивания. Эти способы позволяют получить р-n переходы с весьма малой глубиной залегания (примерно 0,2 мкм).
Поэтому для расчета
N(x)
используем формулу (8). Если N(x)
выразить в [см-3],
Cб -
в [пФ], S - в [см2]
и
- в [пФ/B] , тогда (8) примет вид:
(11)
Рассмотрим наиболее распространенные случаи распределения концентрации примесей.
а) Пусть N(x)=N0=const (р+-n переход с однородной базой). В этом случае
(12)
(13)
Или
(14)
Где
(15)
Используя размерность выражения (11) получим практическую формулу для коэффициента В
(16)
В
ыражение
(14) представляет собой уравнение прямой
в координатах (S/Cб)2;
наклон этой прямой позволяет определить
концентрацию примесей в базе диода, а
сама прямая отсекает на оси абсцисс
отрезок, равный UK
(рисунок 2).
Рисунок 2 Зависимость (S/Сб)2 от U для резкого р+-n перехода.
б) В области n имеется градиент концентрации примесей, т.е. значение N(x) увеличивается вглубь базы (рисунок 3а).
Рисунок 3 а) р+-n переход с grad Nд в базе, б) зависимость (S/Сб)2 от U.
В таком случае вольтфарадная характеристика (ВФХ) будет иметь вид, представленный на рисунок 3б.
Если практически достижимы такие обратные напряжения, для которых N(x)≈N0, то при возрастании Uобр функция (S/Cб)2 асимптотически приближается к прямой, наклон которой определяется значением концентрации.
в) В области n имеется обратный градиент концентрации примеси, т.е. значение N(x) убывает вглубь базы (рисунок 4).
Если практически достижимы такие обратные напряжения, для которых N(xn)≈N0, то при возрастании Uобр функция (S/Cб)2 асимптотически приближается к прямой, наклон которой определяется значением концентрации N0.
Рисунок 4. а) р+-n переход с обратным grad Nд в базе, б) зависимость (S/Сб)2 от U.
2.2.2 Случай плавного р-n перехода.
Для плавного
перехода, изготовленного диффузией,
когда глубина залегания р-n
перехода велика, распределение
концентрации примесей в р-n
переходе близко к линейному, даже при
наибольшей толщине р-n
перехода, соответствующей максимальному
Uобр
(рисунок 5). Для плавного перехода
N(x)=Nд-Na=
где
.
Рисунок 5 Распределение концентрации примесей в р-n переходе.
А зависимость Сб(U) описывается следующим выражением:
(17)
где m=1.09∙1015
(18)
Логарифмируя (18), получаем, что
(19)
Выражение (19) - уравнение прямой в координатах lg Cб, lg (U+UK) (рисунок 6).
Рисунок 6 Зависимость Сб =F[lg(U+UK]
Выражение (19) можно использовать для определения характера распределения примесей в р-n переходе - близкое к резкому при z ≈ 2, близкое к линейному при z ≈ 3.
