2 Содержание задач Задача № 1
Исходные данные в табл. 1; иллюстрация на рис. 1
Для контроля формы выпуклой сферической поверхности положительной менисковой линзы со световым диаметром Dл и толщиной dл применяется интерферометр, схема которого дана на рис. 1. Радиусы кривизны сферических поверхностей контролируемой линзы: rА - радиус выпуклой поверхности, rБ – радиус вогнутой поверхности. Линза изготовлена из стекла с показателем преломления nл.
Источник в интерферометре – He-Ne лазер, излучающий на длине волны =0,6328 мкм. В качестве компенсатора аберраций преломляющей поверхности Б используется плоско-параллельная пластина, изготовленная из стекла К8, показатель преломления которого на указанной длине волны nк = 1,51466.
Эталонным элементом интерферометра служит вогнутое сферическое зеркало с радиусом кривизны эталонной поверхности rэ = 1706,1 мм, т.е. интерферометр работает по схеме интерферометра Физо.
Световые лучи падают на поверхности А и Э по нормалям.
Рассчитать параметры и характеристики компенсационной системы в следующей последовательности:
1) для крайнего луча, идущего в сторону компенсатора, вычислить первую сумму Зейделя SIл , продольную аберрацию Δs’л, задний апертурный угол ’, а также расстояние s’ол от поверхности Б контролируемой линзы до точки схода параксиальных лучей;
2) по формулам аберраций третьего порядка вычислить необходимую толщину dк пластины-компенсатора;
3) исходя из условия технологичности компенсатора, назначить его световой диаметр Dк в пределах 100 мм;
4) с учетом светового диаметра вычислить удаление s пластинки – компенсатора относительно заднего фокуса F ’объектива интерферометра;
5) вычислить толщину dв воздушного промежутка между поверхностью Б контролируемой линзы и компенсатором;
6) вычислить остаточные аберрации компенсационной системы (для пяти лучей) в ходе лучей из центра кривизны поверхности А, затем оптимизировать аберрации компенсационной системы путем изменения толщины пластины-компенсатора (подбор оптимальной толщины компенсатора проводить с шагом не менее 0,1 мм;
7) вычислить толщину d воздушного промежутка между поверхностью А контролируемой линзы и эталонным зеркалом;
8) вычислить необходимый световой диаметр Dэ эталонного зеркала;
9) по программе расчета хода лучей вычислить остаточные волновые аберрации в автоколлимационном ходе лучей для двух случаев:
а) при отражении от поверхности А;
б) при отражении от поверхности Э,
помещая входной зрачок в плоскость, проходящую через крайнюю точку поверхности А.
Примечание: остаточные волновые аберрации выполнять с помощью компьютерной программы для расчета реальных лучей через оптическую систему.
Начертить схему, содержащую пластинку-компенсатор, контролируемую линзу и эталонное зеркало (в масштабе) с ходом лучей и сводкой конструктивных параметров.
Сделать вывод о возможности реализации полученного результата для контроля формы выпуклой поверхности линзы.
Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями компенсационной системы.
