5.Найти нули и корни замкнутой системы и определить устойчивость системы

WZAM =

1080 s + 43200

-----------------------------------

s^3 + 44.4 s^2 + 177.6 s + 4.326e04

Нули замкнутой системы:

zero(WZAM)

ans = -40

Корни замкнутой системы:

pole(WZAM)

ans =

-55.3246

5.4623 +27.4256i

5.4623 -27.4256i

A=[44.4,4.32,0;1,177.6,0;0,1,4.32]

A = 44.4000 4.3200 0

1.0000 177.6000 0

0 1.0000 4.3200

det(A)

ans =3.4046e+04

6. Определить устойчивость замкнутой системы по критерию Найквиста

Wзам=

Для того, чтобы замкнутая система была устойчива, необходимо и достаточно, чтобы разница между числом положительных и отрицательных переходов была равна l/2, где l- это число неустойчивых полюсов функции L(s). Начальная точка на оси абсцисс левее точки (-1;0) считается за половину перехода

7. Построить область устойчивости методом Д-разбиения по параметру К1 и построить переходной процесс для К1 из области устойчивости

K2=x

x(jw)=

1. Где v=0

2. Где u=0

V(-1,23)=-0,000123+0,022755=0,02

V(1,23)=0,000123-0,022755=-0,02

A=[0.69,0.067,0;0.0156,2.775,0;0,0.69,0.067]

A = 0.6900 0.0670 0

0.0156 2.7750 0

0 0.6900 0.0670

det(A)

ans = 0.128 (устойчива)

8. Рассчитать корректирующее устройство методом логарифмических частотных характеристик.

20lgA=20lg675=56,6

20lgKку=20lg32=39,8

20lgKж=20lg39=89,1

Lку=Lж-Lисх

9.Выполнить проверочный расчет

10. Построить переходной процесс системы после коррекции

Step(Wж)

11. Построить электрическую схему корректирующего устройства

Расчет для

Ом

Расчет

Ом

Пример работы №2. Содержание

Введение

1. Исходные данные для расчета

2. Получение передаточных функций разомкнутой и замкнутой системы

3. Нахождение уравнения состояния в нормальной форме

4. Выполнение исследования системы на управляемость и наблюдаемость замкнутой системы

5. Рассчитывание модального управления и построение переходного процесса системы с модальным управлением

6. Нахождение нулей и корней замкнутой системы и определение устойчивости системы

7. Определение устойчивости замкнутой системы по критерию Найквиста

8. Построение области устойчивости методом Д-разбиения по параметру К1 и построение переходного процесса для К1 из области устойчивости

9. Рассчитывание корректирующего устройства методом логарифмических частотных характеристик

10. Выполнение проверочного расчета

11. Построение переходного процесса системы после коррекции

12. Построение электрической схемы корректирующего устройства.