- •Глава 1 общие представления о процессе эпитаксиального наращивания 11
- •Глава 2 эпитаксия Si-Ge слоев 44
- •Глава 3 Классификация оборудования для химического осаждения из газовой фазы 76
- •Глава 4 Оборудование для эпитаксиального наращивания 89
- •Глава 5 Основные системы оборудования для эпитаксиального наращивания 116
- •Аннотация
- •Введение глава 1 общие представления о процессе эпитаксиального наращивания
- •1.1. Общие тенденции развития технологии создания интегральных микросхем и процессов химического осаждения из газовой фазы
- •1.2. Процесс эпитаксии. Требования к эпитаксиальным слоям в технологии изготовления имс
- •1.3. Основы процессов эпитаксии. Основные химические реакции для процессов эпитаксиального наращивания. Хлоридный и силановый процессы
- •1.4. Легирование и автолегирование. Скрытые слои, смещение и «размытие» фотолитографического рельефа
- •1.5. Дефекты эпитаксиальных структур
- •1.6. Оценка параметров эпитаксиальных структур
- •Измерение удельного сопротивления
- •Глава 2 эпитаксия Si-Ge слоев
- •2.1 Основные химические реакции для эпитаксиального наращивания Si-Ge слоев
- •2.2 Основные применения Si-Ge слоев
- •2.3 Поликристаллический Si-Ge и элементы интегральных схем на его основе
- •2.3.1 Пленки поликристаллического кремния, легированного германием
- •2.3.2. Поликристаллические SiхGe1-х- затворы.
- •2.3.2.1 Использование поликристаллических SiGe - слоев.
- •2.3.2.2. Технологические особенности формирования SiGe-затворов.
- •2.3.2.3 Закономерности диффузии примесей в слоях поли-SiGe. Электрофизические характеристики затворов.
- •2.3.2.4 Характеристики мопт с SiGe-затвором.
- •Литература к главе 2
- •Глава 3 Классификация оборудования для химического осаждения из газовой фазы
- •3.1 Состав и требования к оборудованию для хогф
- •3.2 Классификация оборудования для хогф
- •3.3 Классификация газообразных технологических сред
- •Литература к главе 3
- •Глава 4 Оборудование для эпитаксиального наращивания
- •4.1 Краткий исторический очерк развития эпитаксиального оборудования
- •4. 2. Основные типы эпитаксиальных установок
- •4.2.1. Горизонтальные реакторы
- •4.2.2. Вертикальные реакторы
- •4.2.3. Цилиндрические реакторы
- •4.2.4. Реакторы поштучной обработки
- •4.3. Сравнение различных эпитаксиальных реакторов
- •Литература к главе 4
- •Глава 5 Основные системы оборудования для эпитаксиального наращивания
- •5.1 Газовые системы
- •5.1.1 Общие требования к газовым системам
- •5.1.2 Типы соединений арматуры газовых систем
- •5.1.3. Запорная арматура газовых систем
- •5.1.4 Обратные клапаны, дозирующие клапаны, выпускные клапаны
- •5.1.5. Регуляторы давления
- •5.1.6. Фильтры и очистители
- •5.1.7. Регуляторы расхода газа и парогазовых смесей
- •5.1.8 Системы подачи жидких реагентов
- •5.1.8. Газобаллонные шкафы
- •5.2 Вакуумные системы
- •5.2.1 Вакуумные насосы
- •5.2.1.1. Сухие насосы
- •5.2.1.2. Турбомолекулярные насосы
- •5.2.2. Герметичность и методы течеискания
- •5.2.3 Вакуумная арматура
- •5.2.3.1. Разборные вакуумные соединения
- •5.2.3.2. Вакуумные затворы
- •5.2.3.3. Дроссельные клапаны
- •5.2.3.4. Ловушки
- •5.3. Измерение и управление давлением
- •5.3.1. Приборы для измерения вакуума (давления)
- •5.3.2. Методы регулирования давления в рабочей камере
- •5.4. Устройства нейтрализации. Скрубберы.
- •5.5. Системы безопасности. Газоанализаторы.
- •5.6. Системы управления.
- •Литература к главе 5
Аннотация
.
ПЕРЕЧЕНЬ УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ
АСС |
|
арсеносиликатное стекло; |
БиКМОП |
|
биполярная комплиментарная МОП-технология; |
БСС |
|
боросиликатное стекло; |
БФСС |
|
борофосфоросиликатное стекло; |
ВТО |
|
высокотемпературный оксид кремния; |
ВЧ |
|
высокая частота; |
ГФСС |
|
германофосфоросиликатное стекло; |
ДОЗУ |
|
динамическое оперативное запоминающее устройство; |
ЗУ |
|
запоминающее устройство; |
ИК |
|
инфракрасный |
ИМС |
|
интегральная микросхема; |
ИС |
|
интегральная схема; |
ИСМЭ |
|
изделие силовой микроэлектроники; |
ИСП |
|
индуктивно-связанная плазма |
ИЭТ |
|
изделие электронной техники; |
КМОП |
|
комплиментарная МОП–технология; |
КОС |
|
кремний-элементоорганические соединения; |
МДП |
|
металл–диэлектрик–полупроводник; |
МОП |
|
металл–оксид–полупроводник; |
МП |
|
микропроцессор; |
МЭС |
|
многоэлектродная система |
НК |
|
накопительный конденсатор; |
НТБФСС |
|
низкотемпературное борофосфоросиликатное стекло; |
НТО |
|
низкотемпературный оксид кремния; |
НТФСС |
|
низкотемпературное фосфоросиликатное стекло; |
НЧ |
|
низкая частота; |
ПГС |
|
парогазовая смесь; |
ПК |
|
поликристаллический кремний; |
ПКЛБ |
|
поликристаллический кремний, легированный бором в процессе роста; |
ПКЛК (SiPOS) |
|
поликристаллический кремний, легированный кислородом в процессе роста (полуизолирущий поликристаллический кремний); |
ПКЛФ |
|
поликристаллический кремний, легированный фосфором в процессе роста; |
ПМЭС |
|
продольная многоэлектродная система; |
Поли-Si-Ge |
|
поликристаллический кремний, легированный германием в процессе роста; |
ПХТ |
|
плазмохимическое травление; |
ПХФСС |
|
плазмохимическое фосфоросиликатное стекло; |
ПЭМ |
|
просвечивающая электронная микроскопия; |
РАД |
|
реактор атмосферного давления; |
РРГ |
|
регулятор расхода газа |
РПД |
|
реактор пониженного давления; |
РПЗУ |
|
регенерируемые постоянные запоминающие устройства; |
РСНД |
|
реактор сверхнизкого давления; |
РЭМ |
|
растровый электронный микроскоп; |
САД |
|
субатмосферное давление |
СБИС |
|
сверхбольшие интегральные схемы; |
СВЧ |
|
сверхвысокая частота; |
СЛС |
|
слаболегированные стоки; |
СТБФСС |
|
среднетемпературное борофосфоросиликатное стекло; |
СТО |
|
среднетемпературный оксид кремния; |
СтО |
|
спецтехнологическое оборудование; |
СТФСС |
|
среднетемпературное фосфоросиликатное стекло; |
УБИС |
|
ультрабольшие интегральные схемы; |
ФОГФ (PVD) |
|
физическое осаждение из газовой фазы; |
ФСС |
|
фосфоросиликатное стекло; |
ХАЧ |
|
химически активные частицы; |
ХОГФ (CVD) |
|
химическое осаждение из газовой фазы; |
УНД |
|
ультра-низкое давление |
УВВ |
|
ультра-высокий вакуум |
ЧПП |
|
чистые производственные помещения; |
ШИМ |
|
широтно-импульсный модулятор; |
ЭЛИ |
|
электронно-лучевое испарение; |
ЭП |
|
элемент памяти; |
ЭСЛ |
|
эмиттерно-связанная логика; |
ЯП |
|
ячейка памяти; |
ALCVD (ALD) |
|
осаждение атомарных слоев химическим осаждением из газовой фазы; |
APCVD |
|
химическое осаждение при атмосферном давлении; |
ECR (ЭЦР) |
|
электронно-циклотронный резонанс; |
HDPCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы, активированное плазмой высокой плотности; |
HTCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы при высоких температурах; |
ICP |
|
индуктивно-связанная плазма; |
LCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы, активированное лазером; |
LPCVD |
|
химическое осаждение при низком давлении; |
LTCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы при низких температурах; |
MTCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы при средних температурах; |
MFC |
|
регулятор расхода газа |
ONO |
|
структура оксид-нитрид-оксид |
PECVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы, активированное плазмой; |
PLD |
|
пульсирующее осаждение слоев; |
PHCVD |
|
фотохимическое осаждение из газовой фазы; |
RTCVD |
|
быстрое термическое химическое осаждение из газовой фазы; |
SACVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы при субатмосферном давлении; |
SMIF |
|
стандартный механический интерфейс |
FOUP |
|
открываемый спереди объединенный отсек |
UHVCVD |
|
химическое осаждение из газовой фазы при сверхнизком давлении. |
CECVD (CatCVD) |
|
катализаторно активируемые процессы ХОГФ; |
IRPHCVD |
|
фотохимическое осаждение из газовой фазы, активированное инфракрасным излучением; |
LVPHCVD |
|
фотохимическое осаждение из газовой фазы, активированное излучением видимого света; |
UVPHCVD |
|
фотохимическое осаждение из газовой фазы, активируемое глубоким ультрафилетовым излучением; |
DHVPHCVD |
|
фотохимическое осаждение из газовой фазы, активируемое глубоким ультрафиолетовым излучение; |
TCHDPCVD |
|
химическое осаждение и газовой фазы, активируемое трансформаторно связанной плазмой высокой плотности |
