Контрольные вопросы

1. Для чего необходим индивидуальный дозиметрический контроль?

2. Как по функциональному назначению делится аппаратура для дози­метрического контроля?

3. Определите понятие "суммарная доза".

4. Как классифицируются индивидуальные дозиметры и кому они вы­даются?

5. Кратко охарактеризуйте основные методы индивидуальной дози­метрии.

6. Где и как проводится индивидуальный дозиметрический кон­троль?

7. Что такое "ход с жесткостью"? Можно ли исключить влияние "хода с жесткостью"? Как этого добиться?

8. Как правильно зарегистрировать данные ИФК?

9. Какие вещества называются воздухоэквивалентными?

10. Для чего используются воздухоэквивалентные камеры?

11. Дайте характеристику КИД-1.

12. Опишите принцип работы ДК-0,2.

13. Как правильно провести контроль методом ИДК и зарегистриро­вать данные контроля?

14. Расскажите про метод и организацию индивидуального контроля ИЛК.

15. Как обобщить результаты индивидуального контроля, полученные при учете доз различными методами?

16. Какую документацию необходимо вести при индивидуальном до­зиметрическом контроле? Какое время она должна храниться?

17. Зависит ли доза от времени облучения и расстояния от источника до облучаемого объекта? Если да, то каким образом? Ответ поясните.

18. Какими методами можно снизить дозу излучения?

Лабораторная работа №5. Определение радиоактивной загрязненности поверхностей методом мазков Введение

Рабочая и нерабочая поверхности помещений при загряз­нении их радиоактивными веществами становятся источни­ками внешнего ионизирующего излучения, а контакт с ними приводит к облучению работающих и загрязнению рабочей одежды радионуклидами. Поэтому необходимо систематичес­ки проводить дозиметрический контроль поверхностей в ра­бочих помещениях.

В целях контроля радиоактивного загрязнения рабочих поверхностей планы всех таких поверхностей и производст­венных помещений наносятся на специальные картограммы. На картограмме указываются контрольные точки, в которых периодически по графику производят дозиметрический контроль поверхностей. Полученные результаты измерений заносятся в журнал плановых замеров.

Для определения радиоактивного загрязнения поверхнос­тей и других объектов на практике обычно применяется метод мазков. Он позволяет определить лишь порядок величины загрязнения, а не его точное значение. Данный метод при­меним в следующих случаях:

1) при повышении гамма-фона, мешающего применению переносных радиометров;

2) когда форма поверхности ограничивает применение пере­носных радиометров.

С помощью мазков можно определить величину снимаемой (нефиксированной) радиоактивной загрязненности поверхнос­тей рабочих помещений, оборудования, транспорта и т. п.

Принцип метода

Метод мазков – это способ измерения уровней радиоак­тивного загрязнения поверхностей путем определения актив­ности, снятой с контролируемой поверхности контактным пу­тем на сорбент. В качестве сорбента используют следующие материалы: хлопчатобумажную ткань, марлю, фильтровальную бумагу, ватные тампоны. Различают метод сухих и влажных мазков. При отборе пробы методом влажных маз­ков сорбент смачивают в дистиллированной воде или в раз­бавленной азотной кислоте (1 – 1,5н.) либо этиловом спирте, что повышает долю снимаемой активности с загрязненной поверхности. Сухие мазки отбирают обычно фильтровальной бумагой, влажные – при помощи любого другого из указан­ных выше материалов. Часто мазки, смоченные в разбавлен­ной азотной кислоте, называют кислыми мазками.

Наиболее удобными являются влажные мазки. На сухих мазках наблюдается большой разброс в показаниях. Кислые мазки допускаются в крайних случаях, так как кислота разъе­дает внешний слой ряда поверхностей и результаты измерения могут искажаться за счет смешивания фиксированного и не­фиксированного загрязнений.

Измерение радиоактивного загрязнения поверхностей ме­тодом мазков является наиболее показательным для оценки опасности, которую могут представлять загрязненные радио­активными веществами поверхности как источники внутрен­него облучения. Метод мазков дает, в первую очередь, воз­можность непосредственного измерения нефиксированной ак­тивности, т.е. того радиоактивного вещества, которое мо­жет переходить контактным путем на обувь, спецодежду, от­крытые участки тела работающих, а также поступать в воз­дух рабочих помещений из-за сдувки их потоками воздуха, образуемого при движении людей, вследствие вентиляции и при выполнении тех или иных технологических операций.

Метод мазков для измерения уровней загрязненности по­верхностей рабочих помещений, тары, транспорта использу­ют в первую очередь в тех случаях, когда более существен­ным является оценка нефиксированной загрязненности. Кроме того, метод мазков применяют при наличии в помещениях значительного гамма-фона, когда загрязненность бета-излучающими веществами не может быть определена при помощи приборов. В ряде случаев, когда представляется затруднительным или невозможным приблизить датчик прибора к изме­ряемой поверхности или отдельному загрязненному участку, метод мазков используют и при относительно малом фоне гамма-излучения.

При измерении загрязненности поверхностей альфа-излучающими веществами следует иметь в виду, что даже тон­кая пленка масла или другой жидкости в несколько десят­ков микрометров, покрывающая радиоактивный слой, может поглотить альфа-частицы, и прямое измерение их потока, ис­ходящего из загрязненной поверхности, может дать ложное представление об истинной активности, накопившейся на ра­бочей поверхности. Поэтому при контроле загрязненности альфа-излучающими веществами рабочих поверхностей, в осо­бенности при выполнении ремонтных работ, предпочтитель­нее использовать метод мазков.

Уровень радиоактивной загрязненности поверхности в ме­сте пробоотбора равен:

q=A/(K–S) част/(см²·мин),

где S – площадь, с которой отобран мазок, см²;

А – поток бета-частиц от пробы в телесном угле 2π, част/(см²∙мин);

К – коэффициент снятия мазка, т.е. доля активности, перешедшая с отбираемой площади на сорбент кон­тактным путем.

Экспериментально доказано, что коэффициент снятия маз­ка практически не зависит от материала, при помощи кото­рого отбирается мазок (молескин, марля, вата, вафельная ткань). Для поверхностей из железа, алюминия, нержавею­щей стали, пластиката коэффициент снятия влажного мазка (спиртовой, водный или кислотный) можно принять К = 0,5. Среднее значение коэффициента снятия сухого мазка К = 0,1. Для повторных мазков с одного и того же места (вплоть до пятикратных) К = 0,20 + 0,02, т.е. по активности первич­ного мазка можно судить достаточно точно об уровне нефик­сированной активности на загрязненной поверхности.

В табл. 11 представлены коэффициенты снятия для раз­личных мазков. Следует помнить, что данные коэффициенты нельзя использовать для пористых материалов (бетон, кир­пич и т. д.).

Таблица 11. Коэффициент снятия мазка

№ п.п.	Метод снятия	Средний коэффициент, К
1	Сухая фильтровальная бумага	0,2
2	Марлевый тампон, смоченный водой	0,6
3	Марлевый тампон, увлажненный 1 – 1,5н. раствором азотной кислоты	0,9
4	Последовательный, двумя тампонами: увлажненным тампоном 1 –1,5н. раствором азотной кислоты, за­тем сухим тампоном	0,9 – 1,0

Для других материалов коэффициент снятия можно опре­делить следующим образом. Берется несколько образцов ис­следуемой поверхности, на которые наносятся соответствую­щие радиоактивные вещества с известной поверхностной ак­тивностью загрязнения. По методике, изложенной ниже, с каждого образца снимается мазок. Чтобы избежать субъек­тивных ошибок, мазки должны отбирать несколько человек. Далее для каждого мазка определяется коэффициент снятия K_i по формуле

K_i= А_м/A, (1)

где А_м – полная активность мазка, Бк;

А – полная активность протертой поверхности, Бк, оп­ределяемая

формулой

A=A_s·S,

где A_s – известная поверхностная активность в Бк/см²;

S – площадь, с которой взят мазок, см².

Средний коэффициент снятия мазка определяется по фор­муле

Для получения достаточной статистической точности n = 1020.