- •В. А. Холоднов физические основы рассеяния и разогрева подвижных носителей заряда и ударной генерации электронно-дырочных пар в полупроводниках
- •Содержание
- •1. Введение
- •2. Лавинное размножении свободных носителей заряда – следствие их сильного разогрева электрическим полем
- •3. Общие представления о рассеивании электронов и дырок
- •4. Рассеивание импульса и энергии свободных носителей заряда в слабом электрическом поле
- •5. Рассеивание электронов и дырок в сильном электрическом поле
- •6. Характер зависимости дрейфовой скорости электронов и дырок от напряженности электрического поля. Скорость насыщения
- •7. Пороговая энергия ударной генерации электронно-дырочной пары (ударной межзонной ионизации)
- •8. Заключение
- •Литература
4. Рассеивание импульса и энергии свободных носителей заряда в слабом электрическом поле
В слабых электрических полях при не слишком низких температурах основной вклад в рассеяние носителей вносят акустические фононы [10 – 12, 17]
(рис.
5, кр.1). Групповая
скорость
на
линейных участках
нижней кривой (кр.1) равна скорости звука
(sound)
в
кристалле. Поэтому кр.1 называют
акустической ветвью. Верхняя кривая
(кр.2) соответствует частотам
Гц, которые лежат в оптическом диапазоне
электромагнитного спектра. Поэтому кр.
2 называют оптической ветвью. Модель
рис. 5 является одномерной, допускающей
лишь в направлении соседних атомов
(продольные) смещения. В трёхмерных
образцах возможны и поперечные смещения
атомов [6,
10 - 12,
17].
Реальные кристаллы допускают продольные
(longitudinal)
и поперечные
(transversal)
как акустические (acoustic),
так и оптические (optical)
моды колебаний. Они имеют неодинаковые
дисперсионные
кривые, зависят от кристаллического
направления и для них общеприняты,
соответственно, аббревиатуры LA,
TA,
LO,
TO
[6,
10, 11].
2 2
1
Рис.
5. Вид
дисперсионной кривой упругой волны,
т.е., зависимости энергии фонона
от его волнового вектора
линейной решетки с двумя атомами в
элементарной ячейке;
- круговая частота фонона,
-
редуцированная
постоянная Планка,
-
скорость
звука; кривые
и
2- акустическая
и оптическая ветви.
В
отличие от электронов (фермионов) фононы,
как и фотоны, являются Бозе-частицами
[13,
14],
поэтому их распределение по энергии
описывается
функцией [10
- 14]
(22)
При рассеянии на фононах носитель или приобретает от кристаллической решетки энергию, или отдает ей. На языке фононов это означает, что носитель либо поглощает (absorb) фонон, либо испускает (emit) его с соответствующими вероятностями
,
(23)
Энергия
оптического фонона
примерно в два раза превы- шает
при
=
300 К. Поэтому при
300 К оптических фононов, как это следует
из (22), мало
.
Это означает, что при не слишком высоких
температурах вероятность поглощения
носителем оптического фонона мала. При
тех же температурах носители не могут,
практически, и испустить оптический
фонон, так как число носителей с энергией
и
большей мало. Как следует из (22),
акустических фононов с небольшими
энергиями
много -
Это
значит, что вероятности и поглощения и
испускания носителем акустического
фонона с невысокими частотами
велики. В итоге в слабых
электричес-ких полях наиболее эффективно
рассеяние носителей на акустических
фононах. Важно, что подобно рассеянию
на примесных атомах, энергия носителей
изменяется слабо, а импульс может
меняться очень сильно [6,
10 - 1216,
1713]
.
Поясним это.
Электрон
может испустить (рис. 6a)
или поглотить (рис. 6b)
фонон с импульсом
=
,
изменив свой импульс с начального
значения
на конечное значение
.
При рассеянии должны выполняться законы
сохранения энергии и импульса, которые
для испускания и поглощения фонона
соответственно имеют вид
,
;
,
,
(24)
где
и
-
начальная и конечная энергия электрона.
Рис.
6. Законы
сохранения
импульса
при испускании (а)
и
поглощении (b)
электроном фонона с импульсом
=
.
В
секторе
значение
.
Пусть
,
т. е., электрон сильно рассеял свой
начальный импульс (рис. 6). Тогда
,
за исключением значений
,
близких к
при испускании фонона и к -
при его поглощении (сектор
на
рис. 6, когда
).
При поглощении фонона малые значения
запрещены законом сохранения энергии.
Такие значения можно не учитывать и при
испускании фонона из-за малой доли их
вероятности по сравнению с другими
возможностями. Если теперь использовать
дисперсионное соотношение
для акустических фононов на его линейном
участке [6,
10 - 12]
(рис.5)
=
=
=
(25)
и
переписать соотношение (4) в виде
,
то получим, что |(
-
)
=
2
/
.
В слабом электрическом поле характерная
скорость носителей в невырожденном
полупроводнике порядка средней тепловой
скорости [6,
10 - 12,
17]
(26)
где
- эффективная масса носителей (электрона
или дырки). Скорость звука
см/c
[6,
10 - 12,
17].
Поэтому при комнатной температуре
относительное изменение энергии носителя
даже при сильном рассеянии его импульса
составляет величину порядка
.
Это
означает, что при взаимодействии с
акустическим фононом энергия носителя
теряется гораздо медленнее, чем его
импульс. Можно сказать, что время
релаксации импульса
много меньше, чем энергии -
.
Но
неравенство
обусловлено
и другим обстоятельством. Для изменения
импульса неважно, испустился фонон или
поглотился. Релаксация же энергии
определяется двумя противоположными
процессами – потерей энергии при
испускании фонона и приобретением её
при поглощении фонона. Вычисляя интеграл
столкновений с учётом соотношений (22)
и (23) [10
- 12],
можно получить,
что среднее на одно столкновение с
фононом значение энергии потерь носителя
(carrier)
(27)
Из
(4) и (27) для наиболее интересных значений
=
разложением
гиперболического тангенса в ряд, найдём
относительное
изменение энергии носителя
(28)
где
-
начальная энергия носителя и учтено,
что
- закон сохранения импульса. При
К
имеем
.
Это означает, что
[12].
При
комнатных температурах рассеянием
носителей на примесных атомах можно
пренебречь вследствие их малого числа
по сравнению с акустическими фононами.
Однако, по мере понижения температуры
из-за уменьшения числа акустических
фононов с
рассеяние
носителей на примесных атомах становится
существенным.
