- •25 Октября 2005 г., протокол № 2
- •Предисловие
- •1. Система компьютерной математики
- •1.1. Основные принципы работы системы
- •1.2. Операторы
- •1.3. Функции и переменные
- •1.4. Программирование
- •For[start, test, incr, body];
- •While [ test, expr ];
- •1.5. Графические возможности скм
- •Plot [Sin[X], {X, 0, 2*Pi}]
- •ListPlot3d[ phi ];
- •2. Задания для самостоятельной работы
- •2.1. Расчет двумерного распределения температуры
- •2.2. Расчет сопротивления интегрального резистора
- •2.3. Расчет емкости металлизации интегральных схем
- •2.4. Расчет двумерного нестационарного распределения температуры
- •3. Примеры решения задач
- •3.1. Расчет стационарного распределения температуры методом пвр
- •3.2. Расчет нестационарного распределения температуры
- •Литература
- •Содержание
- •2.2. Расчет сопротивления интегрального резистора . . . . . . . 21
- •2.3. Расчет емкости металлизации интегральных схем . . . . . . 23
- •220050, Минск, проспект Независимости, 4.
- •220064, Минск, ул. Курчатова, 7.
2.3. Расчет емкости металлизации интегральных схем
Металлизация интегральных схем (ИС) – это сеть тончайших проводников, соединяющих отдельные элементы (транзисторы) схемы. Слой металлизации и кристалл ИС разделены тонким слоем диэлектрика. В том случае, когда длина проводника значительно больше его поперечных размеров, можно рассчитать удельную, на единицу длины, емкость.
Рис. 7. Поперечное сечение проводника, соединяющего элементы ИС
23
На рис. 7 приведено поперечное сечение участка ИС. Отрезок AD – поверхность кристалла кремния (контакт K0), прямоугольник AEGD (правая штриховка) – слой первого диэлектрика (относительная диэлектрическая проницаемость 1), области с двойной штриховкой – второй диэлектрик (относительная диэлектрическая проницаемость 2), участок с левой густой штриховкой – металлический проводник K1, имеющий большую длину в направлении, перпендикулярном плоскости чертежа, не заштрихованная область – свободное пространство (относительная диэлектрическая проницаемость равна 1).
Емкость проводника
, (24)
где
Q
– заряд проводника,
– его потенциал. Положим потенциал
поверхности кристалла ИС (отрезок AD)
равным нулю, остальные потенциалы будем
отсчитывать от него.
Заряд проводника при известном значении потенциала нетрудно найти, воспользовавшись интегральной формой уравнения Пуассона:
(25)
где
– плотность (на единицу поверхности)
заряда в проводнике,
– вектор электрического смещения:
. (26)
Здесь
=0
отн,
где 0
– электрическая постоянная, отн
– относительная диэлектрическая
проницаемость среды. Расчет заряда
сводится к вычислению потока вектора
электрического смещения через контур
,
окаймляющий проводник:
.
Чтобы вычислить по этой методике заряд проводника, необходимо знать распределение электростатического потенциала. Сформулируем краевую задачу для расчета . Интегральное тождество, описывающее распределение электростатического потенциала в области ABCD, имеет следующий вид:
, (27)
где, как и ранее, – контур, окаймляющий элементарную ячейку.
24
Это тождество справедливо для всех точек области, в которых отсутствует пространственный заряд. (Из области ABCD исключается контакт AD, на котором потенциал равен нулю, и контакт K1 (проводник), потенциал которого ). В точках внешней границы области ABCD используем условие отсутствия полевого взаимодействия с окружающим пространством, т. е.
(28)
на отрезках AB, BC и CD.
Таким образом, задача (27), (28) аналогична задаче, рассмотренной нами ранее в п. 2.1, ее численная реализация выполняется так же. Отметим, однако, следующее обстоятельство. Область ABCD искусственно “вырезана” из интегральной схемы. В принципе силовые линии выходят из всех граничных точек контакта K1 и оканчиваются на контакте K0. Для того, чтобы правильно учесть такую картину поля, область ABCD следует взять достаточно большой. Реально ее берут относительно небольшой, проводят расчет емкости, а затем увеличивают размер области, сохраняя постоянной густоту сетки пространственной дискретизации, и пересчитывают емкость. Можно предположить, что такой процесс будет сходящимся (значение емкости будет стремиться к некоторой конкретной величине), поэтому его можно прервать, когда относительное изменение емкости станет меньше допустимой погрешности (точность расчета емкости).
Таблица 3
№ варианта |
L1 |
L2 |
H1 |
H2 |
H3 |
1 |
2 |
1 |
7 |
5 |
1 |
2 |
2 |
3 |
5 |
2 |
5 |
7 |
1 |
2 |
4 |
3 |
5 |
3 |
8 |
8 |
2 |
3 |
2 |
5 |
3 |
4 |
7 |
8 |
3 |
4 |
4 |
8 |
2 |
5 |
8 |
3 |
6 |
7 |
5 |
5 |
7 |
6 |
3 |
2 |
6 |
7 |
4 |
8 |
5 |
7 |
6 |
15 |
5 |
6 |
2 |
5 |
8 |
8 |
5 |
4 |
5 |
6 |
3 |
3 |
6 |
9 |
9 |
13 |
6 |
5 |
2 |
4 |
9 |
10 |
4 |
5 |
7 |
5 |
2 |
3 |
6 |
Задание: рассчитать емкость конденсатора, конструкция которого приведена на рис. 7, для вариантов из таблицы 3. В этой таблице использованы следующие обозначения: L1 – длина отрезка IJ, L2 – длина отрезка JK, H1 – длина отрезка DG, H2 – длина отрезка FG, H3 – толщина выступающей части проводника К1. Все размеры даны в микрометрах. Электрическая постоянная 0 = 8,854210-12 ф/м.
25
