- •1.2. Электронно-дырочный переход
- •1.3. Вольтамперная характеристика электронно-дырочного перехода
- •1.4. Толщина p-n- перехода
- •1.5. Емкость электронно-дырочного перехода
- •1.6. Сопротивление p-n- перехода
- •7. Виды пробоя электронно-дырочного перехода
- •1.7.1. Лавинный пробой Резкий рост тока, показанный на рис. 1.9, связан с лавинным увеличением количества носителей в обратно включенном p-n- переходе.
- •1.7.4. Поверхностный пробой
- •1.8. Переходные процессы в p-n- переходе
- •1.9. Другие типы переходов
- •1.10. Переходы металл-полупроводник
- •2. Полупроводниковые диоды
- •2.1. Методы получения p-n-переходов
- •2.2. Выпрямительные диоды
- •2.3. Стабилитроны
- •2.4. Стабисторы
- •2.5. Высокочастотные диоды
- •2.6. Импульсные диоды
- •2.7. Диоды с накоплением заряда (днз)
- •2.8. Варикапы
- •2.9. Диоды Шотки
1.3. Вольтамперная характеристика электронно-дырочного перехода
Зависимость тока через p-n- переход от величины приложенного напряжения называется его вольтамперной характеристикой. При расчете вольтамперной характеристики предполагают, что электрическое поле вне обедненного слоя отсутствует, т.е. все напряжение приложено к нему. Общий ток в p-n- переходе определяется четырьмя членами:
J = JPдиф – JPдр + Jnдиф – Jnдp
где
Jnдиф = qpn vpдиф = qvpдиф pn0exp(qUВН/kT)
JPдp = qpn0vpдp ; Jnдиф = qnPvnдиф = qvnдифnP0 exp(qUВН/kT); (1.18)
Jnдp = qnP0 vnдp
При небольших отклонениях от условий равновесия скорость диффузии носителей допускается близкой к их скорости дрейфа в слабом электрическом поле, во всяком случае для условий равновесия выполнимы следующие равенства:
vpдиф = vpдp = vp ; vnдиф = vn дp = vn .
Тогда соотношение (1.18) принимает вид
J = qvp [ pn0 exp(qUВН/kT) – pn0 ] +qvn [nP0 exp(qUВН/kT) – nP0]=
= qvp pn0 [exp(qUВН/kT) –1] + qvn nP0 [exp(qUВН/kT) –1] =
= q(vp + vn nP0)[exp(qUВН/kT) –1] = J0 [exp (qUВН /kT) –1] (1.19)
Таким образом, уравнение теоретической ВАХ p-n-перехода имеет вид
I = I0[exp (qUВН /kT) –1] (1.19а)
Определяя скорость носителей как vp,n = Dp,n /Lp,n, где Dp,n – коэффициент диффузии дырок или электронов, Lp,n – диффузионная длина дырок или электронов, ток насыщения или обратный ток J0 записывают:
J0 = qpn0 Dp / Lp+ qnP0 Dn / Ln (1.20)
Как известно, величины Dp, Dn , pn0, nP0, Lp=(τpDp)1/2, Ln = (τn Dn)1/2 имеют сильную зависимость от температуры, поэтому J0 называют еще тепловым током, τp,τn – время жизни неравновесных носителей заряда.
Для прямого напряжения можно пренебречь единицей по сравнению с экспоненциальной составляющей:
Jпрям ≈ J0 exp(qUВН/kT).
При обратном напряжении порядка (0,1– 0,2)В экспоненциальный член в (1.19) намного меньше единицы, и им можно пренебречь. Тогда
Jобр ≈ – J0
Рассмотрение работы p-n- перехода при воздействии внешнего напряжения показывает, что он обладает несимметричной проводимостью: в прямом направлении проводимость значительно больше, чем в обратном. Это явление находит широкое применение в полупроводниковой электронике и оценивается коэффициентом выпрямления:
Квыпр = Jпрям / Jобр ≈ exp(qUпр/kT).
Для T = 300º С kT/q ≈ 26 мВ, поэтому даже при небольшом прямом напряжении Квыпр ≈1017. Практически Квыпр ≈ 1014 . Обусловлено это тем, что прямой ток реального диода намного меньше теоретического, а обратный значительно больше теоретического. Коэффициент выпрямления в сильной степени зависит также от величины обратного напряжения.
Причинами отличия реальной характеристики от теоретической (1.19) являются:
– рекомбинация носителей заряда в обеднённом слое при их инжекции;
– влияние заряда инжектированных носителей и электрического поля, создаваемого этим зарядом, которое противоположно напряжённости отпирающего электрического поля;
– влияние падения
напряжения на сопротивление толщи
областей полупроводника
,
примыкающей к обедненному слою и на
контактах. Падение напряжения на этом
сопротивлении
Ur
= IrS.
–термическая генерация носителей в обедненном слое;
– поверхностная проводимость p-n- перехода.
Поэтому уравнение вольтамперной характеристики реального перехода принимает вид:
J = J0 [exp((Uпр– IrS) / kT) –1], (1.21)
или I = JS = I0 [exp((Uпр– IrS) / kT) –1]. (1.21а)
Теоретическая и реальная характеристики представлены на рис. 1.8.
Рис. 1.8
