- •Метод, основанный на сравнении опорного и объектного сигналов пропускания.
- •Метод, использующий пропускание двух образцов разной толщины из одинакового вещества.
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов измерений
- •Метод, основанный на отражении от подложки с образцом.
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
Порядок выполнения работы
Измерение толщины образцов микрометром.
Получение сигналов отражения на экспериментальной установке.
Требуется записать сигналы отражения для следующих ситуаций:
а. Объектный сигнал кремниевой пластинки (его свойства мы рассчитываем как для промежуточного объекта, далее они будут использованы в роли свойств опорного объекта);
б. Объектный сигнал двух образцов (в установке два образца: один опорный (промежуточный), другой - исследуемый).
Получение из записанных сигналов спектров амплитуд и фаз при помощи программы Spectrina.
Запускаем программу
Открываем в ней файлы сигналов
Отделяем сигнал от шумов:
Выбираем Гауссовы оконные функции
При помощи граф «Центр окна» и «Ширина окна», а также кнопки «Примерить» убеждаемся, что у нас выделены пики сигнала.
Жмём кнопку «Расчёт»
Результаты появятся в папке Calculation, которая появится в папке с выбираемыми файлами.
freq.txt – значения частотной шкалы, Гц
ampl_1.txt – частотная дисперсия значений амплитуд.
phase_1.txt – частотная дисперсия значений фаз.
4. Расчёт показателя преломления подложки по формуле (2). Расчёт показателя преломления объекта по формулам (3-7).
ЛИТЕРАТУРА:
Cecilie Rønne, Lars Thrane, Per-Olof Åstrand, Anders Wallqvist, Kurt V. Mikkelsen, Søren R. Keiding - Investigation of the temperature dependence of dielectric relaxation in liquid water by THz reflection spectroscopy and molecular dynamics simulation (1997)
Shimadzu Corporation - FTIR Talk Letter Vol. 15 - Fourier Transform and Apodization ABC of the FTIR Measurement Methods:Liquid Film Method (2011)
Bespalov V.G., et al. “Methods of generating superbroadband terahertz pulses with femtosecond lasers”, Journal of Optical Technology, Vol. 75, No. 10, 636–642 (2008)
