- •Физические основы радиохимии
- •240301 «Химическая технология неорганических веществ»
- •Содержание
- •Другие виды распадов:
- •Основной закон радиоактивного распада.
- •2.2 Т1/2 период полураспада и среднее время жизни атомов (ядер).
- •2.3 Абсолютная и регистрируемая активности.
- •3.2. Уравнение превращения 3х и более радиоактивных веществ.
- •2.4. Связь активности радионуклида с его массой.
- •3. Последовательный распад и радиоактивное равновесие.
- •3.3. Радиоактивные равновесия.
- •3.4. Радиоактивное семейство и естественно-радиоактивные изотопы.
- •Элементы радиометрии.
- •4.2. Взаимодействие α-излучения с веществом.
- •4.3. Взаимодействие β-частиц с веществом.
- •4.4. Взаимодействие γ-излучения с веществом.
- •4.5. Взаимодействие с веществом:
- •5. Ионизационные методы регистрации ионизирующих излучений.
- •Ионизационная камера (ик)
- •Газоразрядные счетчики.
- •Особенности измерений излучений.
- •Сцинтилляционные методы регистрации ионизирующих излучений.
- •6.1. Принцип работы сцинтилляционных радиометров.
- •6.2. Краткие сведения о фосфорах.
- •6.3. Особенности регистрации излучений.
- •6.2. Краткие сведения о фосфорах.
- •7.Полупроводниковые детекторы.
- •7.2. Основные типы детекторов.
- •7.3. Особенности измерений с ппд.
- •8. Другие методы регистрации.
- •8.1. Камера Вильсона
- •8.2. Диффузионная камера.
- •8.3. Пузырьковая камера.
- •8.4. Люминесцентная камера.
- •8.5. Искровая камера.
- •8.6. Радиодиффекционный способ.
- •8.7. Фотоэмульсионный способ.
- •8.8. Детектор Черенкова.
- •8.9. Химический и калориметрический способ.
- •9. Спектрометрия ядерных излучений.
- •9.2. Принцип работы спектрометров.
- •Список литературы:
6.2. Краткие сведения о фосфорах.
Фосфоры бывают в виде неорганических и органических кристаллов, жидкости и газы. Неорганические кристаллы: Zn S (Ag); Na Y (TL); GY (TL); KY (TL); Li Y (Eu); Ca F2. Активаторы , к-ые добавляются для улучшения световыхода – это Ag; TL и Eu.
Кристаллы ZnS(Ag) малопрозрачные и поэтому применяются на высоком β- и γ – фоне тонким покрытием.
Кристаллы Na Y (TL) и Gs Y (TL) хорошо прозрачны, они могут иметь больше размеры. Они имеют большую плотность (ρ = 3,2 ÷ 4,5 г/см3), высокий атомный номер и применяются для регистрации γ- и β- излучения.
Кристаллы Ca F2 применяются для регистрации γ – излучения на высоком нейтронном фоне, т.к. сечение σ для Ca и F очень мало. (3,46 – Ca) Кристаллы LiY(Еu) применяются для регистрации ионов по α – лучам: 6Li (n γ ) 3 H.
Органические кристаллы - антроцан С 14 Н18, С14Н12; нафталин С10Н8 имеют малую плотность (ρ = 1,15 ÷ 1,25 г/см3) и Z. Поэтому применяются для регистрации α- и β- излучения. Малоэффективны для γ-излучения (в 10 раз эффективность уменьшается). Они содержат много водорода, поэтому применяются для измерения быстрых нейтронов.
Жидкие сцинтилляторы – растворы люминесцирующих веществ: фтолуол, ксенон с добавлением активаторов. Их можно делать любых размеров и форм, а радиоактивную пробу помещать в сцинтиллятор в виде раствора или суспензии. Это очень важно для измерения проб с малой активностью.
Газообразные сцинтилляторы – в основном чистые благородные газы Не; Аr; Kr; Xe или их смеси. Применяют для измерения воздушной среды, контроля периметра.
6.3. Особенности регистрации излучения.
Сцинтилляционные детекторы имеют высокую эффективность (для α и β = 100 % ) а для γ – квантов 25 ÷ 100 %.
Высокая эффективность, но высокий стабильный фон (темновой ток), который вызван ионизацией газа ФЭУ, выбиванием дополнительных ē с поверхности фокусирующего и управляющих динодов под действием положительных ионов. Темновой ток убирается с помощью дискриминатора АД.
7.Полупроводниковые детекторы.
7.1. Принцип работы ППД.
7.2. Основные типы ППД.
7.3. Особенности измерений ППД.
7.1. Принцип работы ППД.
Полупроводники (ПП): к ним относят твердые вещества с удельным электрическим сопротивлением ρ = 10-2 ÷ 1010 Ом. см. Это элементы III – VII гр. ПСХЭ: В; С; Si; Р; Ge, S, As и др. Наиболее подходящими яв-ся Ge, Si с примесями Р, Li и В. В твердых телах электроны располагаются в 2 зонах: валентной и в зоне проводимости. В полупроводниках промежуток между ними небольшой, и электроны могут переходить из одной зоны в другую. При переходе в зону проводимости в валентной зоне остается одна незаполненная связь, которую наз-ют дыркой. Она эквивалентна элементарному положительному заряду +электрон. Дырку может заполнить любой соседний электрон.(валентный) Так дырка передвигается от одного атома к другому, а на встречу ей движется валентный электрон.
Одновременно с образованием электрона и дырок происходит их рекомбинация. Если нет электрического поля, то имеется равновесие между концентрацией свободных электронов и дырок в ПП . Пи включении ПП в электрическую цепь, электроны в зоне проводимости двигаются к аноду. А дырки валентной зоны двигаются к катоду. Так возникает собственная проводимость (фоновый ток) ПП, которая с повышением t0 растет; т.е. удельное сопротивление уменьшается.
Под влиянием ионизирующих излучений в ПП образуются носители тока, т.е. свободные электроны и дырки, число которых во много раз больше, чем ионов в ионизационных детекторах. Во столько же раз больше и амплитуда импульса от ионизирующей частицы.
Однако , при ρ ≤ 1010 Ом*см фоновый ток полупроводников настолько высок, что он мешает регистрировать ток ионизации, межд тем удельное сопротивление его для Ge ρ = 650 Ом*см, а др. сопротивление Si ρ = 24*105 Ом*см. Значит в обычном виде ПП неприменимы в качестве детекторов ионизирующего излучения.
Iс – полезный сигнал;
Iф – фоновый, темновой ток.
Проблема увеличения Iс к Iф решили путем увеличения свободных электронов и дырок, расширением их переходной зоны, путем охлаждения ПП и др. способами:
При добавлении в кристаллы 4-х валентных Ge или Si атомов 5-и валентного Р (Ge и Si + P) появляется много свободных электронов и вещество наз-ся n-полупроводником.
1.2. При добавлении к Ge или Si + B или AL появляются наоборот много свободных дырок и вещество наз-ся р-полупроводник.
2) Если 2 n-и р-полупроводник приложить один к др., то на их границе часть электрона и дырок нейтрализуется, и образуется слой обедненный носителями электротока, который называется n-р-переход. Это и есть чувствительный слой.
3) Если n-п/проводник присоединить к +, то свободные электроны n-р/перехода смещается к аноду, а дырки к катоду. Толщина n-р-перехода увеличивается, а кристаллы становятся изолятором. Обедненная зона расширяется, становится высокоэффективной и чувствительной. Для Si толщина этой зоны равна ~0,1 мм, что позволяет регистрировать α-частицы и осколки деления.
4) Для регистрации α и β-излучения применяют трехслойные детекторы p-i-n-переход, где ионизация дырок и электронов у краев чувствительной зоны велика, а в средней части почти компенсирована.
Это делается путем внедрения в ПП атома Li. Толщина p-i-n-перехода может достигать 1 см и более. Особо чистый Ge может прим-ся и без Li.
5) Для увеличения удельного сопротивления ПП применяют его охлаждение с помощью жидкого азота при T ~ 770 К. Применяют для германиевых ПП. Но детекторы из чистого германия могут работать и без охлаждения.
