Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Пособие по контролю качества.doc
Скачиваний:
9
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
4 Мб
Скачать
☆

Лицо ответственное за измерения:

Таблица 4.6 – Значения коэффициентов для расчета границ регулирования для КК по количественному признаку

Объем выборки, п

Значения коэффициентов

А2

D3

D4

m3

D2

C2

Серия 1

Серия 2

Рис. 4.10. Контрольная карта (пример)

Построение и анализ контрольных карт по альтернативному признаку р–карта проводят:

1) Обычно выборка берется такого объема, в которой содержалось бы не менее 1-5 дефектных изделий.

2) Вычисляют долю дефектных изделий р по каждой выборке:

, % (4.25)

где рп – число дефектных изделий в выборке;

п – объем выборки.

3) Предварительно подготавливают бланк КК (рисунок 10), где на шкалу по вертикали наносят деления для долей дефектных изделий, (в процентах) р (%), а по горизонтали – номера выборок.

4) В КК заносят точки, соответствующие значениям р .

5) Вычисляют среднее от р:

(4.26)

где – суммарное число дефектных изделий;

– суммарное число проверенных изделий.

Рассчитывается среднее квадратическое отклонение SP:

, (4.27)

где – среднее значение суммарного числа проверенных изделий, которое рассчитывается по следующей формуле:

, (4.28)

где К – суммарное число проверенных выборок.

Расчет SP при переменном п не приведет к существенным погрешностям в том случае, если п для конкретных выборок изменяется относительно найденного по приведенной выше формуле (4.28) в пределах от 1/2 до 2.

Если объем выборки п неодинаков при каждом отборе (т.е. если изменения конкретных объемов проверяемых изделий по отношению к среднему значению не лежит в пределах от 1/2 до 2), то долю дефектных изделий и границы для нее вычисляют каждый раз.

Если значение LCL имеет отрицательное значение, то в этом случае LCL приравнивается к 0 (нулю).

1) Вычисляют координаты границ регулирования р:

(4.29)

(4.30)

2) На КК наносятся границы регулирования. Значение обозначается прямой линией, а границы UCL, LCL – пунктирной.

Рис. 4.11. Контрольная р–карта (пример)

Необходимая информация для построения других видов КК представлена в таблице 4.7 [26].

Таблица 4.7 – Формулы для построения КК по альтернативному признаку

Дефектные изделия

р–карта, процент дефектных изделий

пр–карта, дефектные изделия

для доли

100 для %

Дефекты

и–карта, среднее число дефектов

с–карта, число дефектов

Объем выборки переменный

Объем выборки фиксирован

Анализ контрольных карт

Анализ ( )–карты (пример)

Анализируя полученную –карту представленную на рисунке 4.10, для нескольких последовательных партий изделий, можно отметить следующее:

– динамика процесса показывает отсутствие статистической управляемости изучаемого технологического процесса. Об этом свидетельствует наличие особых точек как на –карте, так и на –карте.

При изготовлении каждой партии изделий наблюдается влияние (присутствие) «особых» причин на течение технологического процесса, которое характерно для последних выборок изделий, в каждой выпускаемой партии.

– настройка процесса смещена (независимо от номера партии). Все нанесенные на – карту величины находятся по одну сторону от номинальной величины контролируемого параметра.

– наличие большого числа «особых» точек на КК и смещенность настройки технологического процесса свидетельствуют о необходимости осуществления мониторинга за процессом

– установленные границы поля допусков явно завышены по отношению к возможностям производства, в которые с большим запасом попадают все точки на КК, и это не может служить причиной отказа от поиска рычагов по приведению технологического процесса в статистически управляемое состояние.

В качестве возможных рекомендаций следует выделить:

– необходимо выявить и устранить причины, которые возникают при производстве изделий во всех исследуемых партиях. Возможно провести дополнительную поднастройку отдельных операций, техпроцесса, оборудования и др.;

– провести более детальное исследование динамики поведения процесса (более частый отбор мгновенных выборок) для конкретного определения допустимого промежутка времени работы без поднастройки процесса.

– выявить систематические причины появления изделий с отклонением по контролируемому параметру и предпринять необходимые меры (предупреждающие или корректирующие мероприятия) по оптимальной настройке технологического процесса.

– ввести наблюдение за технологическим процессом с помощью КК с целью своевременного обнаружения отклонений и их устранения. Перевести техпроцесс в статистически управляемый и перейти от сплошного к выборочному контролю изделий.

Анализ р–карты (пример)

Анализ р–карты (рисунок 4.11), полученной по результатам сплошного контроля изделий, позволяет отметить следующее:

– доли дефектных изделий в партиях выходят как за пределы верхней границы, так и за пределы нижней границы поля допуска;

– совместное использование и других статистических методов управления качеством (диаграмм Исикавы, Парето, гистограмм и др. для анализа видов дефектов, поиска причин их появления) позволит быстрее выявить причины и достичь состояния стабильности и управляемости.

Величину прогнозируемого уровня рассчитывают при исключении значений первых партий по приведенным в таблице 4.7 формулам, и строят новый бланк для контрольной карты (рисунок 4.12) для проведения последующего мониторинга за уровнем дефектности производства с принятием мер воздействия при выходе точек (контролируемых параметров) за границы регулирования.

Рис. 4.12. Контрольная р–карта

Представленная схема построения гистограмм и контрольных карт, а также их анализ могут быть использованы при изучении самых различных технологических процессов производства изделий с целью выявления причин возникновения различных дефектов и эффективного воздействия на техпроцесс.