- •Г.Г.Богатеев, и.А.Абдуллин Контроль качества изделий из композиционных материалов
- •Рецензенты:
- •Содержание
- •Введение
- •1. Качество продукции на предприятии
- •1.1. Понятие и показатели качества продукции
- •1.2. Особенности организации контроля качества изделий из вкм
- •1.3. Управление качеством продукции
- •2. Контроль технологических параметров производства композиционных материалов и изделий
- •2.1. Методы и средства контроля температуры
- •1.4. Статистическое регулирование технологического процесса
- •2.2. Контроль натяжения ленточных композиционных материалов
- •2.3. Контроль состава км и характеристик связующего
- •3. Методы и средства контроля качества изделий из композиционных материалов
- •3.1. Структурные дефекты и их влияние на свойства композитов
- •3.2. Выбор методов контроля качества изделий
- •3.3. Неразрушающие методы контроля изделий из композитов
- •4. Методы статистического контроля качества изделий
- •4.1.Гистограммы как метод управления качеством
- •Выбор единственного показателя качества для построения гистограммы индивидуален для каждого конкретного объекта изучения. Наиболее общими правилами выбора являются:
- •4.2. Контрольные карты, их построение и применение
- •Лицо ответственное за измерения:
- •Заключение
- •Библиография
Лицо ответственное за измерения:
Таблица 4.6 – Значения коэффициентов для расчета границ регулирования для КК по количественному признаку
Объем выборки, п |
Значения коэффициентов |
|||||
А2 |
D3 |
D4 |
m3 |
D2 |
C2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
Серия 1
Серия 2
Рис. 4.10. Контрольная карта (пример)
Построение и анализ контрольных карт по альтернативному признаку р–карта проводят:
1) Обычно выборка берется такого объема, в которой содержалось бы не менее 1-5 дефектных изделий.
2) Вычисляют долю дефектных изделий р по каждой выборке:
,
% (4.25)
где рп – число дефектных изделий в выборке;
п – объем выборки.
3) Предварительно подготавливают бланк КК (рисунок 10), где на шкалу по вертикали наносят деления для долей дефектных изделий, (в процентах) р (%), а по горизонтали – номера выборок.
4) В КК заносят точки, соответствующие значениям р .
5) Вычисляют среднее
от р:
(4.26)
где
– суммарное число дефектных изделий;
– суммарное число
проверенных изделий.
Рассчитывается среднее квадратическое отклонение SP:
, (4.27)
где
– среднее значение суммарного числа
проверенных изделий, которое рассчитывается
по следующей формуле:
, (4.28)
где К – суммарное число проверенных выборок.
Расчет SP при переменном п не приведет к существенным погрешностям в том случае, если п для конкретных выборок изменяется относительно найденного по приведенной выше формуле (4.28) в пределах от 1/2 до 2.
Если объем выборки п неодинаков при каждом отборе (т.е. если изменения конкретных объемов проверяемых изделий по отношению к среднему значению не лежит в пределах от 1/2 до 2), то долю дефектных изделий и границы для нее вычисляют каждый раз.
Если значение LCL имеет отрицательное значение, то в этом случае LCL приравнивается к 0 (нулю).
1) Вычисляют координаты границ регулирования р:
(4.29)
(4.30)
2) На КК наносятся границы регулирования. Значение обозначается прямой линией, а границы UCL, LCL – пунктирной.
Рис. 4.11. Контрольная р–карта (пример)
Необходимая информация для построения других видов КК представлена в таблице 4.7 [26].
Таблица 4.7 – Формулы для построения КК по альтернативному признаку
Дефектные изделия |
||
р–карта, процент дефектных изделий |
пр–карта, дефектные изделия |
|
100 для %
|
|
|
Дефекты |
||
и–карта, среднее число дефектов |
с–карта, число дефектов |
|
|
|
|
Объем выборки переменный |
Объем выборки фиксирован |
|
Анализ контрольных карт
Анализ ( )–карты (пример)
Анализируя
полученную
–карту
представленную на рисунке 4.10, для
нескольких последовательных партий
изделий, можно отметить следующее:
– динамика процесса показывает отсутствие статистической управляемости изучаемого технологического процесса. Об этом свидетельствует наличие особых точек как на –карте, так и на –карте.
При изготовлении каждой партии изделий наблюдается влияние (присутствие) «особых» причин на течение технологического процесса, которое характерно для последних выборок изделий, в каждой выпускаемой партии.
– настройка процесса смещена (независимо от номера партии). Все нанесенные на – карту величины находятся по одну сторону от номинальной величины контролируемого параметра.
– наличие большого числа «особых» точек на КК и смещенность настройки технологического процесса свидетельствуют о необходимости осуществления мониторинга за процессом
– установленные границы поля допусков явно завышены по отношению к возможностям производства, в которые с большим запасом попадают все точки на КК, и это не может служить причиной отказа от поиска рычагов по приведению технологического процесса в статистически управляемое состояние.
В качестве возможных рекомендаций следует выделить:
– необходимо выявить и устранить причины, которые возникают при производстве изделий во всех исследуемых партиях. Возможно провести дополнительную поднастройку отдельных операций, техпроцесса, оборудования и др.;
– провести более детальное исследование динамики поведения процесса (более частый отбор мгновенных выборок) для конкретного определения допустимого промежутка времени работы без поднастройки процесса.
– выявить систематические причины появления изделий с отклонением по контролируемому параметру и предпринять необходимые меры (предупреждающие или корректирующие мероприятия) по оптимальной настройке технологического процесса.
– ввести наблюдение за технологическим процессом с помощью КК с целью своевременного обнаружения отклонений и их устранения. Перевести техпроцесс в статистически управляемый и перейти от сплошного к выборочному контролю изделий.
Анализ р–карты (пример)
Анализ р–карты (рисунок 4.11), полученной по результатам сплошного контроля изделий, позволяет отметить следующее:
– доли дефектных изделий в партиях выходят как за пределы верхней границы, так и за пределы нижней границы поля допуска;
– совместное использование и других статистических методов управления качеством (диаграмм Исикавы, Парето, гистограмм и др. для анализа видов дефектов, поиска причин их появления) позволит быстрее выявить причины и достичь состояния стабильности и управляемости.
Величину прогнозируемого уровня рассчитывают при исключении значений первых партий по приведенным в таблице 4.7 формулам, и строят новый бланк для контрольной карты (рисунок 4.12) для проведения последующего мониторинга за уровнем дефектности производства с принятием мер воздействия при выходе точек (контролируемых параметров) за границы регулирования.
|
Рис. 4.12. Контрольная р–карта |
Представленная схема построения гистограмм и контрольных карт, а также их анализ могут быть использованы при изучении самых различных технологических процессов производства изделий с целью выявления причин возникновения различных дефектов и эффективного воздействия на техпроцесс.
