- •1.1. Собственный полупроводник. Проводимость собственного полупроводника
- •1.2. Примесные полупроводники
- •1.2.1. Полупроводники n-типа
- •1.2.2. Полупроводники р-типа
- •1.3. Контакт р- и п- полупроводников. Контактная разность потенциалов. Запирающий слой
- •1.4. Прямое смещение р-п перехода
- •1.5. Обратное смещение р-п перехода
- •1.6. Вольтамперная характеристика p-n перехода
- •1.7. Диоды Шоттки
- •1.8. Основные параметры диодов
- •Порядок выполнения работы
- •Содержание отчета
- •1.11.Контрольные вопросы
1.2.2. Полупроводники р-типа
При введении в собственный полупроводник трехвалентной примеси (например, индия In) из соседней III группы, у которой только 3 электрона на внешней орбите, атом примеси захватывает недостающей для образования ковалентной связи электрон у атома основного вещества (германия или кремния) и становится неподвижным отрицательным ионом. На месте ушедшего электрона образуется дырка. Этот процесс способствует появлению дополнительных дырок в полупроводнике. Примесь, создающая дополнительные дырки, называется акцепторной, а полупроводник — р-типа. Основными носителями в полупроводнике р-типа являются — дырки, неосновными — электроны.
1.3. Контакт р- и п- полупроводников. Контактная разность потенциалов. Запирающий слой
Контакт полупроводников р- и n-типов называют р-n переходом, рис. 1.1.
При контакте полупроводников с разными типами проводимости из приконтактной области начинается диффузионное движение электронов из полупроводника n-типа в полупроводник р-типа, а дырок - из полупроводника р-типа в полупроводник n-типа. При встрече электронов с дырками они активно рекомбинируют, в результате чего в приконтактной области создается нескомпенсированный объемный заряд положительных ионов доноров в полупроводнике n-типа и отрицательных ионов акцепторов в полупроводнике р-типа, как показано на рис. 1.1. За счет этих объемных нескомпенсированных зарядов создаются электрическое поле и потенциальный барьер Uк,который называется контактной разностью потенциалов. Контактная разность потенциалов препятствует дальнейшему диффузионному движению основных носителей через контакт, но способствует дрейфовому движению неосновных носителей. В условиях равновесия ток неосновных носителей Iдр будет равен и противоположен току основных носителей Iдиф, и общий ток во внешней цепи будет равен нулю
I=Iдиф+Iдр=0.
Поскольку приконтактный слой в результате рекомбинации обедненподвижными носителями зарядов, он имеет гораздо больше сопротивление по сравнению с сопротивлением остального объема р- и п- областей и называется запирающим.
Подавляющее большинство полупроводниковых диодов содержит один р-п переход. Выводы диода называются анодом и катодом, как показано на рис. 1.16. При контакте полупроводников p- и n-типа с одинаковым содержанием примеси р-п переход называется симметричным. В большинстве полупроводниковых приборов используются несимметричные р-п переходы, т.е. контакты полупроводников с разным содержанием примеси. В таких контактах запирающий слой неравномерно распространяется в р- и п- области. Запирающий слой располагается в основном в области с малым содержанием примеси, например, как показано на рис. 1.1 в.
1.4. Прямое смещение р-п перехода
Внешнее напряжение нарушает равновесие между диффузионным и дрейфовыми токами. Если внешнее напряжение имеет такую полярность, что повышает потенциал р- области (анода) по отношению к п- области (катоду), то включение р-п перехода называется прямым (рис. 1.2а). В этом случае внешнее напряжение оказывается подключенным к запирающему слою встречно с контактной разностью потенциалов. Потенциальный барьер уменьшается до величины UK — Uпр, и запирающий слой уменьшается. В результате диффузионный ток увеличивается, а дрейфовый уменьшается. Во внешней цепи течет прямой ток Iпр, который создается движением основных
носителей (рис. 1.2а).
