- •Глава 31 Элементы физики твердого тела
- •§ 240. Понятие о зонной теории твёрдых тел
- •§ 241. Металлы, диэлектрики и полупроводники по зонной теории
- •§ 242. Собственная проводимость полупроводников
- •§ 243. Примесная проводимость полупроводников
- •§ 244. Фотопроводимость полупроводников
- •§ 245. Люминесценция твёрдых тел
- •§ 246. Контакт двух металлов по зонной теории
- •Явление Зеебека используется дм измерения температуры. Для этого применяются
- •§ 247 Термоэлектрические явления и их применение
- •§ 248. Выпрямление на контакте металл — полупроводник
- •§ 248. Контакт электронного и дырочного полупроводников (р-n-переход)
- •§ 250. Полупроводниковые диоды и триоды (транзисторы)
§ 244. Фотопроводимость полупроводников
Фотопроводимость (см. § 202) полупроводников — увеличение электропроводности полупроводников под действием электромагнитного излучения — может быть связана со свойствами как основного вещества, так и содержащихся в нем примесей. В первом случае при поглощении фотонов, соответствующих собственной полосе поглощения полупроводника, т. е. когда энергия фотонов равна или больше ширины запрещенной зоны (ау>дд), могут совершаться перебросы электронов из валентной зоны в зону проводимости (рис. 324, а), что приведет к появлению добавочных (неравновесных) электронов (в зоне проводимости) и дырок (в валентной зоне). В результате возникает собственная фотопроводимостъ, обусловленная как электронами, так и дырками.
Если полупроводник содержит примеси, то фотопроводимость может возникать и при hν<ΔE: для полупроводников с донорной примесью фотон должен обладать энергией hν ≥ ΔED, а для полупроводников с акцепторной примесью — hν ≥ ΔEA. При поглощении света примесными центрами происходит переход электронов с донорных уровней в зону проводимости в случае полупроводника n-типа (рис. 324, б) или из валентной зоны на акцепторные уровни в случае полупроводника р-типа (рис. 324, а). В результате возникает примесная фотопроводимость, являющаяся чисто электронной для полупроводников n-типа и чисто дырочной для полупроводников р-типа.
Таким образом, если
для
собственных полупроводников,
для
примесных полупроводников (244.1)
(ΔEn — в общем случае энергия активации примесных атомов), то в полупроводнике возбуждается фотопроводимость. Из (244.1) можно определить красную границу фото проводимости — максимальную длину волны, при которой еще фотопроводимость возбуждается:
λ
для
собственных полупроводников,
для
примесных полупроводников.
Рис. 323
Учитывая значения ΔЕ и ΔEn, для конкретных полупроводников, можно показать, что красная гранила фотопроводимости для собственных полупроводников приходится на видимую область спектра, для примесных же полупроводников — на инфракрасную.
На рис. 325 представлена типичная зависимость фотопроводимости j и коэффициента поглощения с от длины волны Л падающего на полупроводник света. Из рисунка следует, что при λ>λо фотопроводимость действительно не возбуждается. Спад фотопроводимости в коротковолновой части полосы поглощения объясняется большой скоростью рекомбинации в условиях сального поглощения в тонком поверхностном слое толщиной х«1 мкм (коэффициент поглощения ≈106 м-1).
Наряду с поглощением, приводящим к появлению фотопроводимости, может иметь место экситонный механизм поглощения. Эксиотоны представляют собой квазичастицы — электрически нейтральные связанные состояния электрона и дырки, образующиеся в случае возбуждения с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны. Уровни энергии экситонов располагаются у дна зоны проводимости. Так как экситоны электрически нейтральны, то их возникновение в полупроводнике не приводит к появлению дополнительных носителей тока, вследствие чего экситонное поглощение света не сопровождается увеличением фотопроводимости.
