- •1. Классификация измерений. Ошибки измерений
- •2. Обработка результатов измерений
- •2.1. Прямые измерения
- •2.2. Косвенные измерения
- •3. Классификация методов контроля. Основные понятия и определения
- •Общие правила выполнения лабораторных работ
- •1.2. Сущность технологии толстопленочных мсб
- •Лабораторная работа №1 контроль параметров элементов толстопленочных микросборок
- •1. Краткие теоретические сведения
- •1.1. Терминология
- •1.3. Конструирование толстопленочных резистивно-коммутационных плат мсб
- •1.4. Учет корреляционных связей при конструировании мсб
- •1.5. Тестовый контроль плат мсб
- •1.6. Описание конструкции тест-плат
- •2. Порядок проведения работы
- •3. Требования к содержанию и оформлению отчета
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Порядок выполнения графической части работы на пк
- •Форма бланка-отчета по лабораторной работе №1 Отчет по лабораторной работе №1 "Контроль параметров элементов толстопленочных микросборок"
- •Лабораторная работа №2 Входной контроль транзисторов и линейных интегральных микросхем
- •1. Краткие теоретические сведения
- •1.1. Сущность входного контроля
- •1.2. Входной контроль транзисторов типа кт361, кп350а и ис 140уд2
- •1.2.1. Измерение обратного тока коллектора Iкбо кт361
- •1.2.2. Измерение статического коэффициента передачи тока в схеме с общим эмиттером
- •1.2.3. Измерение порогового напряжения, крутизны характеристики и тока утечки кп350а
- •1.2.4. Измерение коэффициента усиления по напряжению ис 140уд2
- •1.3. Приборы для определения работоспособности полупроводниковых приборов
- •2. Порядок выполнения работы
- •3. Требования к содержанию и оформлению отчета
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Форма бланка отчёта Отчёт по лабораторной работе №2 «Входной контроль транзисторов и линейных интегральных схем»
- •1. Исходные данные.
- •2. План контроля.
- •3. Таблица результатов контроля.
- •4. Заключение о соответствии транзисторов и микросхем установленным требованиям. Лабораторная работа №3 функциональный контроль цифровых кмоп-ис
- •1. Краткие теоретические сведения
- •2. Характеристика объекта контроля
- •2.1. Краткое описание и принцип работы микросхем
- •2.2. Построение функциональных узлов на ис 512пс (пс6)
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Требования к содержанию и выполнению отчета
- •5. Контрольные вопросы
- •Литература
- •Положение переключателей п1 - п7 при различных режимах работы микросхемы 512 пс5
- •Форма бланка отчета Отчет по лабораторной работе №3 функциональный контроль цифровых кмоп-ис
- •Лабораторная работа №4 функциональный контроль блока рэа
- •1. Краткие теоретические сведения
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Порядок проведения работы
- •4. Требования к содержанию и оформлению отчета
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Симметричный мультивибратор
- •Форма бланка отчета Отчет по лабораторной работе №4 «Функциональный контроль блока эа»
- •5. Расчет частоты мультивибратора Fм и коэффициентов влияния.
- •6. Таблица с результатами эксперимента и расчета
- •7. Математическая модель взаимосвязи отклонения выходного параметра системы с параметрами входящих в нее элементов.
- •8. Расчет характеристик поля допуска на частоту мультивибратора:
- •9. Выводы: Лабораторная работа №5 эксплуатационный контроль пьезоэлектрического измерительного преобразователя ускорения пи93-3
- •1. Краткие теоретические сведения
- •1.1. Измерение и контроль в ударной технике
- •1.2. Ударные стенды и техника измерения параметров ударных ускорений
- •Пульт управления
- •2 . Порядок выполнения работы
- •2.1. Градуировка ударной установки по пиковому значению Аmax ударного ускорителя
- •2.2. Эксплуатационный контроль пьезоэлектрического измерительного преобразователя ускорения пи93-3
- •3. Требования к содержанию и оформлению отчета
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Измерение пикового ударного ускорения [гост 20.57.406-81]
- •Измерение длительности действия ударного ускорения и длительности фронта ударного ускорения [гост 20.57.406-81]
- •Расчет частных погрешностей результатов измерений
- •Форма бланка отчета Отчет по лабораторной работе №5 Эксплуатационный контроль пьезоэлектрического измерительного преобразователя ускорения пи93-3
- •1. Цель работы.
- •2. Функциональная схема установки для измерения параметров ударного ускорения.
- •4. Эксплуатационный контроль пьезоэлектрического измерительного преобразователя ускорения пи 93-3.
- •Методы и средства измерений, испытаний и контроля
- •198005, С.-Петербург, 1-я Красноармейская ул., д.1
2. Обработка результатов измерений
2.1. Прямые измерения
В случае, когда необходимо находить результат как среднее значение из ряда отсчетов, величина отклонения от среднего подчиняется законам случайных отклонений и описывается теорией вероятности.
При прямых многократных измерениях Х1, Х2,…, Хn какой–либо величины Х, по распределению Гаусса, наиболее вероятным значением измеряемой величины является ее среднее арифметическое:
При этом средняя квадратичная ошибка Sn отдельного измерения а1 равна:
Ожидаемая ошибка среднего арифметического Sa при конечном числе измерений равна:
Дисперсия распределения средних значений
.
Вероятность
p того,
что измеряемая величина X
содержится в интервале
,
называется доверительной вероятностью
Использование приведенных формул возможно при достаточно большом числе измерений (n > 20), но в соответствии со Стьюдентом статистический подход справедлив и при малом числе измерений. Имеет место функция распределения Стьюдента, которая переходит в нормальное распределение Гаусса при большом числе измерений, и в то же время мало отличается от закона Гаусса при небольшом числе измерений. Ошибка X среднего значения x измеренной величины при n 2 определяется как
где tp(n) – коэффициент Стьюдента, соответствующий данной надежности p и числу измерений n (n 2) (см. таблицу коэффициентов Стьюдента). Тогда окончательный результат измерений
,
т.е.
искомое значение находится в интервале
от
до
с надежностью p.
Далее
необходимо оценить различные
систематические ошибки,
возникающие при измерении X.
Для упрощения анализа следует пренебречь
всеми малыми ошибками. Малыми считаются
такие ошибки, стандартные отклонения
которых в сумме изменяют суммарную
погрешность не более чем на 10 – 15%.
Суммарная величина стандартного
отклонения для суммарной абсолютной
ошибки
,
где
- дисперсия.
Если случайные и систематические ошибки сравнимы по величине, то определяется интервал, в котором с установленной вероятностью может находиться суммарная ошибка, либо эти ошибки учитываются порознь.
В случае прямых измерений, когда получаются одинаковые отчеты или выполняется лишь однократное измерение, возникают ошибки, связанные как с классом точности приборов, так и с округлением результатов.
Предельная ошибка измерений X, связанная с классом точности приборов, определяется как
где k - класс точности прибора; n - полное число делений на шкале; c - цена деления.
Ошибки, связанные с классом точности, являются систематическими ошибками, так как они имеют постоянное значение или меняются по определенному закону.
Элементы электрических схем (R,C) также имеют класс точности k, выраженный в процентах от значения x, указанного на элементе, соответственно x = ( k 0,01 ) X.
Систематические ошибки, связанные с округлением отсчета по шкале приборов, находятся как случайные по методу рандомизации по формуле
x = pbc ( p = … ),
где с - цена деления; b - доля цены деления, связанная с ошибкой отсчета по
шкале, которая устанавливается для данных условий наблюдений с данным прибором; р – надежность.
Суммарная ошибка результата при однократном измерении складывается из ошибки, определяемой классом точности прибора, и ошибки отсчета
по шкале прибора. Результат измерения оценивается как
где
- измеренное значение по шкале
прибора.
