Задание

1. Получить электронограмму эталонного вещества.

2. Построить график зависимости d(Д) или В(Д).

3. Получить электронограмму исследуемого образца.

4. Определить межплоскостные расстояния d.

5. Сравнивая полученные d с табличными величинами, проиндицировать электронограмму.

Порядок выполнения работы

1. Ознакомиться с процедурой получения электронограммы.

2. Установить эталонный образец в микроскоп и получить электронограмму.

3. Установить исследуемый образец в микроскоп и получить электронограмму.

4. Проиндицировать электронограмму эталонного образца.

5. Измерить диаметры колец на электронограмме эталонного образца, если он поликристаллический. Имеет смысл сделать несколько измерений в разных направлениях и найти средний диаметр, и заодно оценить неопределённость измерения диаметра. Если образец — монокристалл, измерить длины пар противоположных точечных рефлексов.

6. По формуле () найти В для каждого кольца или пары точечных рефлексов и построить график зависимости d(Д) или В(Д) с указанием неопределённостей.

7. Измерить диаметры колец на электронограмме исследуемого образца.

8. Определить межплоскостные расстояния d по известному значению постоянной прибора.

9. Полученный набор межплоскостных расстояний d сравнить с табличными (Приложение 1) и присвоить индексы Миллера каждому дифракционному кольцу.

10. Вычислить разницу между экспериментальными и табличными значениями межплоскостных расстояний, определить, из какого вещества состоит исследуемый образец.

11. Составить отчёт по заданной форме.

Отчёт должен содержать:

1. Название работы и дату выполнения.

2. Фамилию и номер группы студента, выполнившего работу.

3. Электронограмму эталонного вещества, таблицу измеренных на электронограмме величин диаметров дифракционных колец или пар точечных рефлексов и соответствующие им значения постоянной прибора, графики зависимости d(Д) или В(Д).

4. Таблицу справочных и экспериментально определённых межплоскостных расстояний, их разности, электронограмму образца.

5. Заключение.

Рекомендуемая литература:

• Хирш, П. Электронная микроскопия тонких кристаллов, пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан // М.: Мир. - 1968.

• Утевский, А.М.. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении / А.М. Утевский // М.: Металлургия. - 1973.

• Эндрюс, К. Электронограммы и их интерпретация, пер. с англ. / К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун // М:. Мир. - 1971.

• Киттель, Ч. Введение в физику твёрдого тела, пер. с англ. / Ч. Киттель // М.: Наука. - 1978.

Приложение 1. Табличные межплоскостные расстояния

Cu

d, Å	h k l
2,088	1 1 1
1,808	2 0 0
1,278	2 2 0
1,090	3 1 1
1,0436	2 2 2
0,9038	4 0 0
0,8293	3 3 1
0,8083	4 2 0

Zn

d, Å	h k l
2,473	0 0 2
2,308	1 0 0
2,091	1 0 1
1,687	1 0 2
1,342	1 0 3
1,332	1 1 0
1,237	0 0 4
1,1729	1 1 2
1,1538	2 0 0
1,1236	2 0 1
1,0901	1 0 4
1,0456	2 0 2
0,9454	2 0 3
0,9093	1 0 5
0,9064	1 1 4

W

d, Å	h k l
2,238	1 1 0
1,582	2 0 0
1,292	2 1 1
1,1188	2 2 0
1,0008	3 1 0
0,9137	2 2 2
0,8459	3 2 1
0,7912	4 0 0

Al₂O₃

d, Å	h k l
3,479	0 1 2
2,552	1 0 4
2,379	1 1 0
2,165	0 0 6
2,085	1 1 3
1,964	2 0 2
1,740	0 2 4
1,601	1 1 6
1,546	2 1 1
1,514	1 2 2
1,510	0 1 8
1,404	2 1 4
1,374	3 0 0
1,337	1 2 5
1,276	2 0 8
1,239	1 0 10
1,2343	1 1 9
1,1898	2 2 0

TiO₂

d, Å	h k l
3,517	0 1 1
2,431	0 1 3
2,379	0 0 4
1,892	2 0 0
1,700	0 1 5
1,666	2 1 1
1,481	0 2 4
1,364	1 1 6
1,338	2 2 0
1,279	0 1 7
1,265	2 1 5
1,1893	0 0 8

Au

d, Å	h k l
2,355	1 1 1
2,039	2 0 0
1,442	2 2 0
1,230	3 1 1
1,1774	2 2 2
1,0196	4 0 0
0,9358	3 3 1
0,9120	4 2 0

Y₂O₃

d, Å	h k l
4,34	2 1 1
3,06	2 2 2
2,652	4 0 0
2,500	4 1 1
2,372	4 2 0
2,261	3 3 2
2,165	4 2 2
2,080	4 3 1
1,936	5 2 1
1,874	4 4 0
1,818	4 3 3
1,769	6 0 0
1,720	6 1 1
1,677	6 2 0
1,636	5 4 1
1,599	6 2 2
1,563	6 3 1
1,531	4 4 4
1,499	5 4 3
1,470	6 4 0
1,443	7 2 1
1,417	6 4 2
1,346	7 3 2
1,599	6 2 2
1,563	6 3 1
1,531	4 4 4
1,499	5 4 3
1,470	6 4 0
1,443	7 2 1
1,417	6 4 2
1,346	7 3 2
1,325	8 0 0
1,305	7 4 1
1,287	8 2 0
1,267	6 5 3
1,249	8 2 2
1,233	8 3 1
1,216	6 6 2