Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

OFP-Tretyak-Lozovski

.pdf
Скачиваний:
68
Добавлен:
19.03.2015
Размер:
13 Мб
Скачать
☆

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

78

знову має p-провідність. Ця область є емітером, тобто областю, звідки дірки вводяться у базу. Область зразку, де пер еважає сурмик, що має провідність n-типу, утворює базу, а основний матеріал, до якого домішки не продифундували, служить колектором, тобто областю, до якої дірки збираються із бази. У приладів, що виготовлені за такою технологією, колекторна область є слабо легованою, тобто в ній концентрація дірок є меншою за концентрацію електронів у базі. Емітерна ж область завжди є сильно легованою. Ще однією технологічною рисою транзисторів є те, що базова область завжди виготовляється тонкою – її товщина d має бути меншою за дифузійну довжину. У зворотному випадку більша частина інжектованих із емітера дірок взагалі не досягла б колектору, а зникла через процеси рекомбінації у базі.

EC

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 14.23 подано енергетичну

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

діаграму p-n-p-транзистора в

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

EF

умовах термодинамічної рівнова-

EV

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ги, тобто за відсутності прикладе-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ної напруги. Видно, що у сильно

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

3

 

 

легованому емітері p-типу рівень

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Фермі суміщений з акцепторними

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рівнями, а в сильно легованій базі

 

 

 

 

е-b

 

 

 

 

b-c

 

 

 

n-типу – із

донорними рівнями.

 

 

 

 

 

Рис.14.23

 

 

 

Колектор,

що має провідність

Енергетична діаграма p-n-p транзистора за

нульовою прикладеною напругою. „1” – емі-

p-типу, являє собою область із не-

тер; „2” – база;

„3” – колектор; синім позна-

значним рівнем легування. Тому

чено енергію акцепторів в емітері та колекто-

провідність колектора є близькою

рі, а ліловим – енергію донорів в базі

до власної, і рівень Фермі тут роз-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ташовується майже посередині

забороненої зони. Потенціальна яма в області бази є бар'єром для дифузії дірок із емітера до колектора. Потік дірок через бар'єр керується напругою VE між емітером і базою.

Для визначення залежності струмів у транзисторі від параметрів приладу та прикладених різниць потенціалів розглянемо спочатку область бази. Вважатимемо, що домішка у цій області приладу розподілена рівномірно, тобто концентрація електронів nn є сталою вздовж

довжини бази. Нехай на прилад подано сталі напруги. Між емітером і колектором прикладено напругу у пропускному режимі Ve , а між ко-

лектором та базою – напругу в запірному режимі, що має абсолютну величину Vc. За невеликих рівнів інжекції, коли концентрація дірок у базовій області p не перевищує рівноважну концентрацію електронів nn , напруги Ve та Ve , в основному падають на переходах емітер–база

та база–колектор. При цьому граничні концентрації неосновних носіїв

79

Розділ 14. КОНТАКТНІ ЯВИЩА У НАПІВПРОВІДНИКАХ

заряду визначаються характеристиками тонкого p-n-переходу, тобто на межі емітерного переходу (при x = 0)

p(0) = p eeVE /kT ,

(14.151)

n

 

а на межі колекторного переходу (при x = d)

 

p(d) = p e−eVC /kT .

(14.152)

n

 

У цих формулах через pn позначено рівноважну концентрацію неос-

новних носіїв в області бази. Малі рівні інжекції свідчать також, що дрейфовий струм неосновних носіїв є набагато меншим дифузійного. Це означає, що розподіл неосновних носіїв у базі визначається рівнянням дифузійного руху

d2 p

 

p − p

 

dx2

=

n

,

(14.153)

 

 

L

 

 

 

b

 

Де ∆p = p − pn – надлишкова концентрація, а Lb дифузійна довжина

неосновних носіїв заряду. Розв'язок (14.153) зручно шукати, якщо представити ∆p у вигляді суми ∆p1 + ∆p2 так, щоб ∆p1 і ∆p2 задово-

льняли це рівняння та граничні умови

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∆p (0) = p (eeVE /kT

−1),

 

∆p

(0)

= 0,

 

 

 

 

 

 

 

(14.154)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∆p (d) = 0,

 

∆p

(d) = p (e−eVÑ /kT

−1).

 

 

 

 

 

 

 

(14.155)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

2

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Розв'язок (14.153) шукатимемо у вигляді

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d − x

 

 

 

 

 

d − x

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.156)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∆p1 = A1sh

 

 

L

 

 

 

+ B1ch

 

L

 

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∆p2

= A1sh

 

 

 

+ B1ch

 

 

 

.

 

 

 

 

 

 

 

(14.157)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для виконання граничних умов (14.154–14.155) необхідно покласти

 

 

pn

 

eVE /kT

 

 

 

 

 

 

 

pn

 

 

 

 

 

−eVC /kT

 

 

B = B

 

 

 

 

A

=

 

 

 

 

e

 

 

 

 

−1 ,

A =

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

 

 

−1 ,

 

= 0. (14.158)

sh(d

/L

 

 

 

 

 

 

sh(d /L

 

 

 

 

 

 

 

1

 

)

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

)

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Підставивши ці константи до (14.163–14.164), отримаємо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p

 

 

 

 

 

eVE /kT

 

 

 

 

d − x

 

 

 

 

−

eVC /kT

)

 

 

x

 

 

 

∆p =

 

 

 

n

 

 

 

e

−1

sh

 

 

 

 

 

 

 

− 1−e

 

sh

 

 

 

 

 

. (14.159)

 

 

 

sh(d /L

) (

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

)

 

 

 

 

 

 

(

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

Використаємо отриманий вираз для визначення діркового струму емітера та колектора, маючи на увазі, що цей струм має дифузійну природу.

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

80

 

j

 

= −eD

 

 

dp

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

p,e

 

 

 

 

p dx

 

 

x =0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eD

 

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p n

(eeVE /kT

 

 

 

 

 

 

Lb

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

j

 

 

= −eD

 

 

dp

 

 

=

 

 

 

 

 

 

p,c

 

 

 

p dx

 

x =d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eD

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p n

(eeVE /kT

 

 

 

 

 

 

 

 

Lb

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

−1 cth

 

d

 

 

+ 1

−e

−eV /kT

)

csch

 

 

d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

)

 

L

 

(

 

 

 

C

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

−1

csch

 

 

d

 

 

+

1

−e

−eV

/kT

)

cth

 

 

d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

)

 

 

 

L

 

 

(

 

 

C

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

Різниця цих струмів визначає рекомбінаційний струм бази

jr = jp,e − jp,c .

(14.160)

,

(14.161)

.

(14.162)

Підставляючи сюди вирази для емітерного та колекторного струмів, знайдемо

jr

=

eDp pn

Lb

 

 

 

 

 

d

 

 

d

 

 

(eeVE /kT

+ e −eVC /kT −2) cth

 

− csch

.

(14.163)

L

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

b

 

Беручи до уваги, що cthx − cschx = (chx −1)/shx = th(x /2), запишемо

 

 

eD

p

 

 

d

 

 

jr

=

 

p n

(eeVE /kT + e −eVC /kT −2)th

.

(14.164)

L

2L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

b

 

Оскільки у робочому режимі напруга на колекторі істотно перевищує величину kT /e, то доданком exp(−eVC /kT ) можна знехтувати. Необ-

хідно також скористатись тим фактом, що для зменшення рекомбінаційних втрат база створюється тонкою, тобто гіперболічний тангенс можна розкласти у ряд за малим параметром d /(2Lb ): необхідно пок-

ласти th(d /2Lb ) ≈ d /(2Lb ). Тоді струм (14.164) можна представити у вигляді

 

 

eD

p

 

eVE

 

d

 

ep d

 

eVE

 

 

 

 

 

p n

 

 

 

 

 

 

 

 

jr

=

 

 

e kT

− 2

 

=

 

n

e kT

− 2 .

(14.165)

L

2L

τ

 

 

 

 

 

 

p

 

 

 

 

 

 

 

b

 

b

 

 

 

 

За припущення, що процеси рекомбінації не впливають на формування струму, маємо: струм jp = −eDp (dp/dx) є сталим, тобто сталою є

похідна dp/dx. Іншими словами, можна стверджувати, що

dp

= −

p(0)− p(d)

.

(14.166)

dx

 

 

d

 

jp,c

81

Розділ 14. КОНТАКТНІ ЯВИЩА У НАПІВПРОВІДНИКАХ

Як видно із (14.155), при eVC >> kT , ∆p2(d) = −pn ,

тобто p(d) = 0.

Таким

чином, маємо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p(0)

 

p(0) x

 

p(0)

 

dp(x) = −

 

dx → p(x) = −

 

∫dx =

 

 

(d − x).

(14.167)

d

 

d

d

 

 

 

 

 

d

 

 

 

 

Звідси, враховуючи, що згідно із (14.151)

p(0) = p eeVE /kT , дістанемо

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

p(x) = p eeVE /kT (1− x /d).

(14.168)

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

Отже в області бази концентрація неосновних носіїв лінійно змінюється із координатою, зменшуючись від величини p(0) = pneeVE /kT на

емітерному p-n-переході до нуля на колекторному p-n-переході. Відношення діркового струму колектора до струму емітера харак-

теризує ефективність транзистора Ця величина зазвичай позначається через β.

β = jp,e .

У випадку eVE >> kT маємо із (14.160–14.161)

 

 

eD

p

p

 

 

 

 

d

 

 

jp,c

 

 

n

 

eeVE /kT csch

 

 

,

L

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

b

 

 

 

eD

p

p

 

 

d

 

 

 

jp,e

 

n

eeVE /kT cth

.

 

L

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

b

 

 

Підставляючи ці вирази до (14.169), отримаємо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d

1

 

 

 

d

 

 

 

β = csh

 

1−

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Lb

 

 

 

 

 

 

 

Lb

2

 

 

2 .

(14.169)

(14.170)

(14.171)

(14.172)

Параметр 1–β характеризує рекомбінаційні втрати при проходженні неосновними носіями області бази

1− β =

j

r

 

1

 

d

2

 

 

 

 

 

.

(14.173)

 

 

 

 

 

jp,e

2

 

Lb

 

Отриманий результат ще раз переконує, що для найефективнішої роботи транзистора варто застосовувати такі технологічні прийоми, за яких параметр d /Lb буде мінімальний. Наприклад, у германієвому

транзисторі, де дифузійна довжина дірок становить ~ 0.5 мм за товщини бази ~ 0.1 мм, отримуємо 1− β ≈ 0,1, тобто тільки десять відсотків

дірок, що утворюють струм, не доходять до колектора.

Повний струм емітера, крім діркової компоненти, що створюється дірками, які втікають до бази, включає ще струм, який утворюється

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

82

електронами, що йдуть із бази. Оскільки концентрація носіїв на p-n-переході залежить від прикладеної напруги, то остання у прямому напрямку збільшує концентрацію електронів на межі поділу емі-

тер–база.

ne(b) = neeeVE /kT ,

(14.174)

де ne – рівноважна концентрація електронів в емітері. Електрони ne(b)

дифундують углиб емітера та створюють електронний струм в емітері. Якщо товщина емітерної області перевищує дифузійну довжину електронів, то через p-n-перехід потече електронний струм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

jn,e =

eDnne

(eeVE /kT −1).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.175)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таким чином, повний струм через емітер запишемо у вигляді

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

jtot,e = jp,e

 

+ jn,e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.176)

або

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eDp pn

 

 

eVE /kT

 

 

 

 

d

 

 

 

 

 

−eVC /kT

)

 

 

d

 

 

 

 

j

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

(

e

 

 

−1 cth

 

 

 

 

 

 

 

+ 1−e

 

 

 

csch

 

 

 

 

+

 

 

 

tot

,e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

LD

 

 

 

 

 

 

 

)

 

 

 

 

 

(

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

LD

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

LD

 

.

(14.177)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eDnne

(eeVE /kT −1).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Аналогічно обчислимо повний струм через колектор

 

 

 

 

 

 

 

 

 

j

 

=

 

eDp pn

(

e

eVE /kT

−1

csch

 

d

 

+

1−e

−eVC /kT

)

cth

 

d

 

−

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p,c

 

 

L

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

)

 

 

 

(

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.178)

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b .

 

− eDnne (eeVCkT −1). Ln

Визначимо коефіцієнт підсилення за струмом при включенні приладу, як показано на рис. 14.23, коли на вхід емітера подається слабкий сигнал, а вихідний сигнал знімається із навантажувального опору, що включений до колекторного ланцюга. Таким чином, коефіцієнт підсилення за струмом є відношенням диференціалу колекторного струму до диференціалу емітерного струму за сталого потенціалу на колекторі, тобто

 

∂jtot,c

 

 

α =

.

(14.179)

 

 

 

 

 

 

∂jtot,e V

 

 

 

C

 

Зручніше визначати не відношення диференціалів, а відношення похідних

α =

∂jtot,c /∂Ve

 

 

 

.

(14.180)

∂j

 

/∂V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

tot,e

e

 

VC =const

 

 

 

 

 

 

 

83

Розділ 14. КОНТАКТНІ ЯВИЩА У НАПІВПРОВІДНИКАХ

Використовуючи (14.178–14.179), обчислимо похідні

 

 

 

∂j

tot,c

 

 

 

eD

p

p

 

 

 

 

 

 

d

 

 

 

e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

n

 

csch

 

 

 

 

 

eeVE /kT ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂VE

 

VC =const

 

Lb

 

 

 

 

 

Lb

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂jtot,e

 

 

 

 

 

 

eDp pn

 

 

 

 

 

d

 

eD n

e

 

e

 

eeVE /kT .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

cth

 

 

 

 

+

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂VE

 

VC

=

const

 

 

Lb

 

 

 

 

Lb

 

 

Ln

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Підставляючи ці вирази до (14.180), дістанемо

 

 

d

 

 

D L n

e

 

d

 

−1

α = ch

 

 

+

n b

sh

 

.

 

DpLn pn

 

 

 

Lb

 

 

Lb

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.181)

(14.182)

(14.183)

Легко бачити, що всі величини, які входять до знаменника правої частини отриманого виразу, є додатними. Це означає, що коефіцієнт підсилення за струмом при включенні транзистора за схемою (рис. 14.23) завжди буде меншим від одиниці, тобто відсутність підсилення. Але цю величину можна зробити якомога ближчою до одиниці. Зокрема, як видно із (14.183), для цього товщина бази має бути набагато меншою за дифузійну довжину дірок, а також база має бути сильно легованою, тобто мають виконуватись нерівності d << Lb і pn >> ne . Оскільки

довжини дифузії і коефіцієнти дифузії електронів і дірок є величинами одного порядку, із (14.183) отримаємо

 

 

d

−1

 

 

1

 

d

2

 

α = ch

 

 

≈1

−

 

 

 

.

(14.184)

L

2

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

b

 

Оцінка для германієвого приладу із параметрами, які використовувались вище (Dp ~ 0,5 мм, d ~ 0,1 мм), дає α = 0,98. Отримана оцінка

показує, що за такого ввімкнення приладу до електричного кола підсилення за струмом не відбувається, тобто струм емітера майже д о- рівнює струму колектора. Цікаво, чи відбувається при цьому підсилення за потужністю? Коефіцієнт підсилення за потужністю w можна визначити як відношення потужності, що розсіюється колекторним ланцюгом, до потужності, яка розсіюється емітером. Нехай rC і rE –

диференціальні опори колектора та емітера, відповідно. Тоді

w =

j2r

 

r

 

C C

C

.

(14.185)

j2r

 

 

 

r

 

 

E E

 

E

 

Обернений диференційний опір колектора можна визначити як

−1

 

∂jC

 

 

 

(rC )

=

 

 

.

(14.186)

 

 

 

∂VC

 

 

 

 

 

VE =const

 

 

Оцінимо цю величину, беручи до уваги залежність товщини бази від прикладеної колекторної напруги. Для цього згадаємо, що, згідно із

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

84

(14.118) товщина p-n-переходу залежить від прикладеної напруги як L = constϕC +V . Таким чином, можна записати залежність товщини бази від прикладеної напруги на колекторі

d(VC ) = d0 ϕC +VC /

ϕC

,

(14.187)

де d0 – товщина бази за нульової напруги на колекторі. Тоді можна записати

 

∂jC

 

=

∂jC

 

∂d

 

≈

jC

 

 

∂d

.

(14.188)

 

∂V

 

 

 

∂d ∂V

 

 

 

d ∂V

 

 

 

C

 

 

 

 

 

 

 

C

 

 

 

 

 

 

C

 

Використовуючи (14.187), маємо

 

 

 

 

 

 

d0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂d

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

,

(14.189)

 

 

∂V

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ϕ

 

ϕ

+V

 

 

 

C

 

 

 

 

 

 

C

 

 

C

 

C

 

звідки дістаємо оцінку

 

 

 

 

 

 

 

 

jC

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(rC )

−1

≈

 

 

 

 

 

 

.

 

 

 

(14.190)

 

 

 

2

(ϕC

 

+VC )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

З іншого боку, обернений диференційний опір емітера визначається як

 

(rE )

−1

 

∂j

E

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

.

(14.191)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂VE

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VC =const

 

Формулу (14.182) можна наближено представити у вигляді

 

 

 

∂jE

 

 

 

≈ jE

e

.

(14.192)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

∂VE

 

 

 

kT

 

Таким чином, із (14.185) дістаємо

 

 

 

VC =const

 

 

 

 

 

w ≈ 2e(ϕC +VC ).

 

 

 

 

 

 

 

 

(14.193)

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

За кімнатної температури e /kT ~26 10−3

В–1. Типові значення бар'єру

на p-n-переході ϕC 0,25 B та

потенціалу

на

колекторі VC 4 B. За

таких параметрів отримуємо,

що коефіцієнт

підсилення

становить

3 102.

На рис. 14.24 та 14.25 подано вольт-амперні характеристики типового транзистора. Емітерні характеристики є прямими, а колекторні – оберненими характеристиками p-n-переходу. Для колекторних характеристик струм емітера є параметром. За зростання колекторної напруги до великих значень струм колектора лишається сталим і, оскільки α ≈1,

IC ≈ IE . Якщо у транзисторі база є дуже тонкою та слабко легованою, то за достатньо високих напруг на колекторі настає пробій.

85

Розділ 14. КОНТАКТНІ ЯВИЩА У НАПІВПРОВІДНИКАХ

IE, мА

VC= 40 В

10 В

 

 

IC, мА

 

 

IE= 4 мА

 

 

1 В

 

 

 

 

 

 

4

 

 

 

 

 

 

4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

3

 

 

 

2 мА

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

2

 

 

 

 

1 мА

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

0 мА

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-5

0

10

20

30

40

VC ,

0

0.1

0.2

0.3

VE , B

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис.14.24

 

 

 

 

 

Рис.25

 

 

 

Вольт-амперна характеристика

 

Вольт-амперна характеристика колектора p-n-p

емітера p-n-p транзистора

 

 

транзистора

 

 

 

 

 

14.9. ПОЛЬОВИЙ ТРАНЗИСТОР

Упопередньому розділі ми розглянули ефект поля – зміну поверхневої провідності напівпровідника під дією поперечного електричного поля. Цей ефект широко використовується у польових транзисторах. Польовий транзистор являє собою тонку напівпровідникову пластинку (канал) із двома омічними контактами – стоком і витоком, між якими розташовують третій електрод – затвор. Електрична напруга, що подається між затвором і стоком чи витоком, спричиняє появу у підзатворній області каналу електричного поля, яке впливає на концентрацію носіїв заряду поблизу затвору, наслідком чого є зміна електричного опору каналу. Існують два основних типи польових транзисторів: до першого – належать польові транзистори, в яких роль затвору відіграє p-n-перехід або бар'єр Шотткі; до другого – належать прилади, в яких металічний електрод затвору відділений від каналу тонким шаром діелектрика – польовий транзистор з ізольованим затвором або транзи-

стор на основі структури метал–діелектрик–напівпровідник. На рис. 14.26

подано схему польового транзистора із затвором, що відокремлений p-n-переходом, на рис. 14.27 – схему польового транзистора іншого типу – транзистор на структурі метал–діелектрик–напівпровідник. Такі при-

лади часто називають МДН-транзисторами.

Розглянемо детальніше роботу польового транзистора на прикладі транзистора із затвором на p-n-переході. У такому приладі, одну із

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

86

 

 

затвор

L

 

 

 

w

 

 

 

витік

 

n-тип

стік

канал p-типу

h

 

 

 

n-тип

 

+

VDS

затвор

 

 

+

VGS

Рис.14.26. Схема польового транзистора з затвором, що відокремлений p-n-переходом

можливих схем якого подано на рис. 14.26, омічні контакти до лівої та правої граней напівпровідникового кристалу – виток і стік. Область квазінейтрального об'єму, що розташована між збідненими областями

p-n-переходів, утворює канал, а с ильно леговані n+ області зверху та знизу відіграватимуть роль затвора польового транзистора. Прикла-

дення напруги VGS > 0 до затвора, що забезпечує зворотне зміщення p-n-переходу, спричиняє розширення збідненої області (на рис. 14.26 подано світло-блакитним) p-n-переходу до кристалу, оскільки затвор легований істотно сильніше за область каналу (ND >> NA).Цей процес зменшує поперечний переріз каналу, що збільшує його опір. Прикладення напруги у напрямку витік–стік VDS викличе створення струму в

 

 

 

 

VGS

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

затвор

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

витік

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

стік

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n-тип

 

 

 

 

 

 

канал

 

ОПЗ

 

 

напівпровідник p-типу

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDS

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R +

Рис. 14.27. Схема польового МДН-транзистора. Шар діелектрика позначено зеленим

87

Розділ 14. КОНТАКТНІ ЯВИЩА У НАПІВПРОВІДНИКАХ

ланцюгу каналу приладу. При цьому, знак напруги VDS потрібно вибирати так, щоб напруга також викликала зворотне зміщення p-n-переходу на затворі, тобто VDS повинна мати знак, протилежний до VGS. Таким чином, польовий транзистор із затвором у вигляді p-n-переходу являє собою електричний опір, величину якого можна регулювати зовнішньою напругою. Зауважимо: якщо у біполярному транзисторі, про який ішлося раніше, електричний струм у приладі забезпечувався за рахунок неосновних носіїв, то у польовому транзисторі електричний струм утворюють основні носії заряду. Для визначення вольт-амперної характеристику транзистора виберемо систему координат так, щоб її вісь ОY була спрямована вздовж каналу, вісь OX

– вздовж ширини каналу, а вісь OZ – углиб каналу. Нехай довжиною, шириною та висотою каналу в умовах відсутності на транзисторі на-

пруги є L, w та h, відповідно. Прикладення до затвору напруги VGS > 0, а до стоку – напруги іншого знаку VDS < 0 приведе до поширення збідненої області p-n-переходу на величину

∆lf = lf (VGS ,VDS )−lf (0,0).

(14.194)

На основі (14.117), вважаючи, що енергія відраховується від рівня ϕC ,

можна записати, що товщина ОПЗ p-n-переходу, на який подано зворотне зміщення V =VGS −VDS ,

 

 

ε V

−V

DS

(y)

 

 

∆lf

(

GS

 

)

.

(14.195)

 

2πeND

 

 

 

 

 

 

 

 

Оскільки напруга витік–стік розподілена вздовж каналу, то зміна ширини області збіднення p-n-переходу завдяки залежності VDS (y) від

координати y, буде різною вздовж довжини каналу. Це приведе до того, що висота каналу також буде різною вздовж каналу

 

 

ε V

−V

DS

(y)

 

 

h(y) = h − 2∆lf = h − 2

(

GS

 

)

.

(14.196)

 

2πeND

 

 

 

 

 

 

 

 

Позначимо через VG 0 напругу на затворі, за якої у квазірівноважних

умовах збіднені шари p-n-переходів змикаються, тим самим занулюючи висоту каналу. Таким чином, за умови h(y) = 0 із (14.196) дістаємо

VG 0 = 2πeND h2 .

ε 4

Тоді (14.196) можна переписати у термінах напруг

 

 

 

 

 

 

 

−

V

−V

 

(y)

h(y) = h 1

GS

 

DS

 

.

 

 

 

VG 0

 

 

 

 

 

 

 

(14.197)

(14.198)

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]