- •Теоретическое описание.
- •1) Фотодиодный режим; 2) режим короткого замыкания; 3) вентильный режим при наличии внешнего сопротивления.
- •Общие сведения о работе фоторезистора. Электропроводность твердых тел.
- •Фотопроводимость полупроводников
- •Элементарная теория фотопроводимости.
- •Основные характеристики фоторезистора.
- •Световая характеристика фоторезистора.
- •Экспериментальная часть Аппаратная часть. Приборы и оборудование.
- •Программная часть. Подготовка к работе.
- •Приборы и оборудование.
- •Длины волн излучения светодиодов.
- •Порядок выполнения.
- •Проведение эксперимента.
- •Эксперимент n2 «люкс-амперные характеристики фоторезистора». Приборы и оборудование.
- •Длины волн излучения светодиодов.
- •Порядок выполнения.
- •Проведение эксперимента.
- •Эксперимент n3 «вольтамперные характеристики фотодиода». Приборы и оборудование.
- •Проведение эксперимента.
- •Рекомендуемая литература.
- •Для свободного распространения.
- •Приложение.
Рис.7.
Световая
характеристика фотодиода:
1) Фотодиодный режим; 2) режим короткого замыкания; 3) вентильный режим при наличии внешнего сопротивления.
Интегральной она называется потому, что при освещении фотодиода используется белый свет лампы накаливания. Обычно чувствительность SIфотодиодов измеряют в микроамперах на люкс (мкА/лк). Чувствительность фотодиода - величина постоянная, не зависящая от величины светового потока Ф и напряжения, приложенного к фотодиоду. Для определения интегральной чувствительности, при наличии освещения, на фотодиод подают достаточно большие напряжения, чтобы пренебречь экспонентой в выражении (1.6). Тогда через фотодиод будут протекать только фототок и ток насыщения:
(1.12)
Общие сведения о работе фоторезистора. Электропроводность твердых тел.
Плотность тока
,
А/м2
, в веществе и напряженность поля
,
В/м, связаны соотношением:
(2.1)
где σ - удельная электропроводность вещества, [Ом-1⋅м-1].
Удельная электропроводность хорошего изолятора и хорошего проводника отличаются в ~ 1025 раз. В зависимости от значения σ вещества делятся на диэлектрики, полупроводники и металлы.
Электрический ток представляет собой направленное движение (дрейф) заряженных частиц, возникающее под действием поля. Этот дрейф накладывается на значительно более быстрое хаотическое движение электронов. Скорость дрейфа пропорциональна напряженности поля:
(2.2)
Коэффициент пропорциональности µ, [м2⋅(В⋅с)-1], называется подвижностью носителя заряда. Подвижность численно равна скорости дрейфа в поле единичной напряженности.
Плотность тока равна произведению заряда носителя е на концентрацию носителей n [м-1] и на скорость дрейфа:
(2.3)
Из (2.1)-(2.3) получаем:
σ=enµ (2.4)
В металлах ток переносят свободные электроны (электроны проводимости), в полупроводниках - электроны проводимости и дырки. Дырка - это квазичастица с положительным зарядом, численно равным заряду электрона. В электрическом поле дырки дрейфуют вдоль поля, а свободные электроны - в противоположном направлении. В связи с этим удельная электропроводность полупроводника равна сумме электронной и дырочной приводимостей:
(2.5)
Здесь соответственно n и р - концентрация электронов и дырок; µn и µp - подвижность электронов и дырок. Для кремния, например, µn =0,13 м2⋅(В⋅с)-1 , т.е. скорость дрейфа электрона равна 0,13 м/с при напряженности поля 1 В/м. Подвижность дырок в том же материале, как правило, значительно меньше.
Главное отличие полупроводников от металлов состоит в качественно различной зависимости проводимости от температуры. С понижением температуры приводимость металлов возрастает, а при температурах, близких к абсолютному нулю, некоторые металлы и сплавы переходят в сверхпроводящее состояние. Концентрация электронов проводимости в металлах практически не зависит от температуры, а увеличение электропроводности при охлаждении объясняется увеличением подвижности.
В полупроводниках, наоборот, проводимость уменьшается с уменьшением температур Т. При очень низких (криогенных) температурах полупроводники становятся хорошими изоляторами. Изменение σ с изменением Т объясняется изменением концентрации электронов и дырок. Необходимо затратить некоторую энергию Е, чтобы оторвать электрон от атома и сделать его способным перемещаться по кристаллу. Электрон может быть оторван за счет энергии тепловых колебаний атомов в кристалле, причем вероятность этого процесса растет с повышением температуры.
Связь электронов в полупроводнике может быть разорвана не только тепловым движением, но и различными внешними воздействиями: светом, потоком быстрых заряженных частиц и т.д. Поэтому для полупроводников характерна высокая чувствительность электропроводности к внешним воздействиям, а также к содержанию примесей и дефектов в кристаллах, поскольку во многих случаях энергия Е для электронов, локализованных в примесном атоме или вблизи дефектов, существенно меньше, чем в идеальном кристалле данного полупроводника.
Возможность в широких пределах управлять электропроводностью полупроводников изменением температуры, введением примесей и т.д. является основой их многочисленных и разнообразных применений.
