- •Федеральное агентство по образованию
- •Конспект лекций
- •1 Цели и задачи изучения дисциплины
- •1.1 Цель преподавания дисциплины
- •1.2 Задачи изучения дисциплины
- •Часть 2. Электротехнические материалы
- •Классификация этм по электропроводности
- •Диэлектрики. Электропроводность диэлектриков в слабых полях
- •Для газов мала: 1,000072…1,0019
- •Электропроводность диэлектриков в сильных полях Пробивное напряжение и электрическая прочность
- •Определение электрической прочности
- •Электрический пробой
- •Электротепловой пробой
- •Количество отводимого тепла определяется равенством
- •Электротепловой пробой
- •Электрохимический пробой
- •Пробой газообразных диэлектриков
- •Пробой жидких диэлектриков
- •Пробой твердых диэлектриков
- •Проводниковые, полупроводниковые и сврхпроводящие материалы Проводники п рирода проводимости и основные характеристики проводниковых материалов
- •Зависимость удельного электрического сопротивления металлов от температуры
- •Физическая природа сверхпроводимости
- •Магнитные элементы и материалы Физические процессы в магнитных элементах
- •Потери в обмотках
- •Поверхностный эффект или эффект вытеснения тока
- •Эффект близости
- •Потери в сердечнике
- •Магнитные материалы
- •Схемы замещения магнитных элементов
- •Контрольные вопросы
- •Особенности электpопpоводности полупpоводников
- •Примесные полупроводники
- •Кристаллическая решетка примесного полупроводника
- •Основные и неосновные носители заряда.
- •Зависимость концентрации носителей заряда от температуры. Элементы статистики электронов.
- •Положение уровня Ферми.
Основные и неосновные носители заряда.
Носители заряда, концентрация которых в данном полупроводнике больше, называют основными, а носители, концентрация которых меньше, - не основными. Так, в полупроводнике n-типа электроны - основные носители, дырки - не основные.
В полупроводнике p-типа: дырки - основные, электроны - неосновные.
При изменении концентрации примесей в полупроводнике изменяется положение уровня Ферми и концентрация носителей заряда обоих знаков - электронов и дырок.
Найдём произведение концентраций электронов и дырок в неворожденном полупроводнике при заданной температуре в условиях термодинамического равновесия.
![]()
![]()
![]()
![]()
(1)
![]()
(2)
![]()
(3)
![]()
(4)
Учитывая полученные ранее соотношения (1), (2), (3), (4):
![]()
![]()
![]()
где ni - собственная концентрация носителей заряда при заданной температуре.
Таким образом, в невырожденном полупроводнике произведение концентраций свободных электронов и дырок при термодинамическом равновесии есть постоянная величина, равная квадрату собственной концентрации при данной температуре.
Физически это означает, что если, например, в полупроводнике n-типа увеличить концентрацию доноров, то возрастёт число электронов, переходящих в единицу времени с примесных уровней в зону проводимости. Соответственно возрастает скорость рекомбинации носителей заряда и уменьшится равновесная концентрация дырок.
![]()
(5)
Однако,
![]()
и при сильном вырождении электронного газа когда
или
![]()
и
!!!
Соотношение (5) справедливо для невырожденного полупроводника, т.е. для полупроводника у которого уровень Ферми расположен в запрещённой зоне достаточно далеко (на 2-3 kT) от дна зоны проводимости (вниз) или от потолка валентной зоны (вверх), т.к. только при этих условиях можно пользоваться функцией распределения Максвелла-Больцмана. Если у полупроводника n>>()NC (или p>>()NB), то это вырожденный полупроводник.
Говорят, что полупроводник является вырожденным, если концентрация примесей настолько велика, что уровень Ферми лежит внутри разрешённых зон и даже внутри запрещённой зоны на расстояниях не более kT от границ разрешённых зон. (Тунельный диод имеет две вырожденные области: p- и n-типа.)
Напомним, что у собственных полупроводников с повышением температуры растет концентрация, положение ЭФ изменяется и теоретически при ЭС=ЭФ, ni=Nc и собственный полупроводник может стать вырожденным, но температура наступления вырождения высокая.
Соотношение (5) обычно называют законом действующих масс в соответствии с терминологией химической термодинамики (константа химического равновесия выводится из закона действующих масс ). С помощью этого закона всегда можно найти концентрацию неосновных носителей заряда, если известна концентрация основных.
![]()
![]()
Если некоторый полупроводник одновременно легирован донорами и акцепторами, то можно получить материал любого типа в зависимости от того, какая из добавок имеет большую концентрацию.
Расчёт параметров n и p для примесного полупроводника нужно производить с учетом условия электронейтральности, связывающего концентрации носителей заряда и концентрации примесных атомов.
![]()
где n и p - концентрация электронов и дырок, N+д - концентрация ионизированных доноров, N-a - концентрация ионизированных акцепторов.
Справедливость этого условия вытекает из следующих положений:
Полупроводник, на который не действует внешнее электрическое поле, является электрически нейтральным.
Введение донорных примесей с концентрацией Nд и акцепторных - с концентрацией Nа обуславливает появление добавочных электронов и дырок.
Все донорные и акцепторные примеси ионизированы.
Часто в практически важных случаях, когда T=Tкомн=3000K и все доноры ионизированы, а точнее когда выполняется условие

(где gд=2 - фактор вырождения примесного уровня, что справедливо при низких температурах)
можно считать, что
![]()
Тогда
![]()


![]()
C учётом этого концентрация ионизированных доноров:
![]()
(*)
Логарифмируем (*) и получаем выражение для положения уровня Ферми в примесном полупроводнике n-типа:
![]()
Концентрация ионизированных акцепторов:
![]()
![]()
Если при определённых условиях, скажем при низких температурах, некоторые атомы донорной примеси оказываются неионизированными, то концентрация ионизированных атомов этой примеси:
![]()
NД+ является мерой числа ушедших с донорских уровней, значит:
![]()
P(ЭД) - вероятность нахождения e- на уровне ЭД, {1-P(ЭД)} - вероятность того, что е- не находится на уровне ЭД, NД - общая концентрация атомов донорной примеси NДn - концентрация нейтральных атомов этой примеси
Найдем NДn в соответствии с распределением Ферми-Дирака:

Отсюда:

где Pn(ЭД)
- вероятность того, что е- находится на
уровне ЭД,
gД
- фактор вырождения примесного
уровня,
множитель
учитывает
то, что на примесном уровне содержится
лишь один электрон.
Аналогично
![]()
Отсюда

множитель
учитывает
наличие двух ориентаций спина и
существования двух вырожденных валентных
зон (как это в кремнии)
Отметим, что энергетический уровень будет вырожденным, если одному и тому же значению энергии соответствуют различные состояния электрона (например, отличия в магнитных спинах).
Если полупроводник легирован донорной примесью с концентрацией Nд (см-3)
![]()
n - концентрация e- в зоне проводимости p - концентрация e+ в валентной зоне Nд+ - концентрация ионизированных доноров

g - фактор вырождения донорного примесного уровня. g=2, т.к. электрон на этом уровне может иметь одно из двух значений спина.
концентрация ионизированных акцепторов

gA - фактор вырождения акцепторного состояния.
B Ge, Si и GaAs gA=2 из-за двухкратного вырождения валентной зоны при волновом векторе k=0.
Таким образом

![]()

![]()

![]()
![]()
В интервале 150 T 3000K можно считать
![]()
a - температурный коэффициент изменения величины Э, [эВ/0К];
тогда
![]()
(*)
Ao - некоторая постоянная

![]()
Правая часть этого (*) уравнения зависит от T и Э и не зависит от концентрации носителей. Поэтому левая часть должна оставаться постоянной независимо от того является полупроводник чистым или в нём присутствуют примеси.
![]()
![]()
![]()
![]()
AA0, но A - это const.
