- •Глава 1. Введение в физику полупроводников.
- •1. Энергетические уровни твердого тела.
- •2. Зонная структура полупроводников и типы проводимости.
- •Законы распределения носителей в зонах полупроводника.
- •Концентрация носителей в собственном и примесном полупроводниках.
- •С ростом температуры, когда примесный полупроводник постепенно превращается в собственный, уровень Ферми смещается к середине запрещенной зоны.
- •Подвижность носителей.
- •6. Электропроводность.
- •7. Рекомбинация носителей.
- •8. Законы движения носителей в полупроводниках.
- •9. Кинетика носителей заряда в полупроводниках.
- •10. Эффект поля.
- •Глава 2. Электронно-дырочные переходы.
- •1. Основные определения.
- •2. Классификация p-n переходов.
- •3. Структура p-n перехода.
- •4. Анализ перехода в равновесном состоянии.
- •5. Анализ перехода в неравновесном состоянии.
- •6. Контакт металл-полупроводник.
- •Глава 3. Полупроводниковые диоды.
- •1.Исходные предпосылки.
- •3. Характеристические сопротивления.
- •4. Обратная характеристика реального диода.
- •5. Эквивалентная схема диода по постоянному току при обратном смещении.
- •Пробой p-n перехода.
- •7. Прямая характеристика реального диода.
- •8.Барьерная и диффузионная емкости диода.
- •9. Классификация диодов.
- •1) По технологическим методам создания электрических переходов и диодных структур
- •2) По выполняемой функции диодов.
- •1.Выпрямительные низкочастотные диоды. Они используются в источниках питания для выпрямления переменного тока.
- •3. Импульсные диоды. Предназначены для работы в импульсном режиме, т.Е. В устройствах формирования и преобразования импульсных сигналов, ключевых и цифровых схемах.
- •Глава 4. Биполярные транзисторы.
- •1. Введение.
- •2. Способы включения транзистора.
- •3. Распределение носителей в базе.
- •4. Модуляция толщины базы.
- •5. Статические характеристики транзистора.
- •6. Статические параметры транзистора.
- •7. Динамические параметры транзистора.
- •2. Коэффициент переноса. Для определения коэффициент переноса воспользуемся нестационарным уравнением диффузии:
- •8. Характеристики и параметры транзистора при включении с общим эмиттером.
- •9. Схема с общим коллектором
- •10. Разновидности дискретных транзисторов
- •Глава 5. Полевые транзисторы.
- •Введение.
- •2. Полевой транзистор с управляющим p-n переходом.
- •Крутизна характеристики:
- •Выходное сопротивление
- •3) Коэффициент усиления:
- •Цепь затвора характеризуется входным сопротивлением транзистора:
- •2. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •2. Эквивалентные схемы полевых транзисторов.
- •Глава 6. Элементы интегральных схем.
- •3. Особенности устройств цифровых интегральных схем на биполярных транзисторах.
- •Глава 1. Усилительные каскады на биполярных транзисторах.
- •1.1. Усилительный каскад с общим эмиттером.
- •Расчет усилительного каскада по переменному току.
- •1). Средние частоты.
- •2). Нижние частоты.
- •3). Верхние частоты.
- •Глава 2. Усилители на полевом транзисторе с управляющим p-n-переходом и n-каналом.
- •1.1. Расчет усилительного каскада по постоянному току.
- •2.2. Расчет усилительного каскада по переменному току.
- •Сопротивление .
- •1). Основные расчетные соотношения в области средних частот.
- •2) Основные расчетные соотношения в области нижних частот.
- •3) Основные расчетные соотношения в области верхних частот.
7. Динамические параметры транзистора.
Инерционность транзистора при быстрых изменениях входных токов обусловлена пролетом инжектированных носителей через базу, а также наличием барьерных и диффузионных емкостей эмиттерного и коллекторного переходов.
Коэффициент передачи эмиттерного тока. Основной интерес при анализе переходных и частотных характеристик транзистора представляет коэффициент передачи тока . Поскольку согласно (4.24) коэффициент состоит из двух множителей – коэффициента инжекции и коэффициента переноса, рассмотрим эти множители раздельно.
1.
Коэффициент
инжекции.
На высоких частотах коэффициент инжекции
уменьшается. Это объясняется тем, что
происходит заряд барьерной емкости
основными носителями и поэтому они не
передаются в коллекторную цепь.
Следовательно, увеличение емкостного
тока на высоких частотах равносильно
уменьшению коэффициента инжекции:
, (4.33а)
где
– постоянная времени.
Обозначив
,
переходим к изображению коэффициента
инжекции:
. (4.33б)
Постоянная
времени
и предельная частота
(на уровне 0,7) связаны соотношением:
. (4.34)
Как видим, частотные и переходные свойства улучшаются с увеличением рабочего тока, так как при этом уменьшается .
2. Коэффициент переноса. Для определения коэффициент переноса воспользуемся нестационарным уравнением диффузии:
. (4.35)
Это линейное дифференциальное уравнение 2-го порядка в частных производных. Его можно решать разными способами. В инженерной практике наиболее распространен операторный метод.
При
операторном методе функция времени (в
нашем случае
)
заменяется ее операторным изображением
,
а производная по времени величиной
, (4.36)
где – оператор Лапласа.
Пусть в начальный момент полупроводник находился в равновесном состоянии. Тогда в выражении (4.36) нужно положить =0.
После
этого заменяя в правой части (4.35)
производную
на ее изображение
,
получаем обыкновенное дифференциальное
уравнение:
.
Умножим
и разделим его правую часть на
,
заменим произведение
на
и объединим члены с
.
В результате получаем операторное
уравнение:
. (4.37а)
Это же уравнение можно записать в более наглядном виде:
, (4.37б)
где введена операторная диффузионная длина
. (4.38)
Поскольку
,
то уравнение (4.37б) в окончательном виде
запишется как
(4.39)
Как
видим, уравнение (4.39) отличается от
уравнения (4.6) только заменой
на
.
Значит при тех же граничных условиях
искомая функция
будет определяться выражением (4.26а) с
заменой
на
,
т.е.
. (4.40)
Воспользуемся разложением гиперболического косинуса в ряд с точностью до двух первых членов. В этом случае изображение приводится к виду:
, (4.41)
где
– постоянная времени коэффициента
.
Подстановка
приводит к выводу, что
практически равна среднему времени
диффузии :
. (4.42а)
Если
же величину
выразить через
с помощью (4.26б), получается связь
с времени жизни в виде соотношения:
. (4.42б)
Заменяя
оператор
на
,
получаем частотную зависимость
:
. (4.43а)
Если по данному изображение найдем оригинал, то найдем временную зависимость :
. (4.43б)
Формулы (4.43) говорят о том, что частотные и переходные свойства транзистора улучшаются, прежде всего с уменьшением толщины базы, а также с увеличением коэффициента диффузии, т.е. подвижности носителей больше, чем у германия и кремния. Ясно также, что кремниевые транзисторы при прочих равных условиях уступают германиевым по динамическим свойствам из-за меньшей подвижности носителей.
Барьерные емкости. Эти емкости не имеют особой специфики по сравнению с емкостями перехода (диода) и могут быть рассчитаны по формулам
; (4.44а)
. (4.44б)
Поскольку
,
то
.
Диффузионные
емкости. Наличие диффузионной емкости
эмиттерного перехода обусловлено
изменением заряда неравновесных
носителей при изменении напряжения,
приложенного к эмиттерному переходу.
Рассматривая эмиттерный переход как
диод, включенный в прямом направлении,
можно воспользоваться формулой для
определения диффузионной емкости диода:
.
Заменяя
в этой формуле
на
,
получаем выражение для диффузионной
емкости эмиттерного перехода:
. (4.45)
Полная емкость эмиттерного перехода:
. (4.46)
У
коллекторного перехода диффузионная
составляющая емкости определяется
изменением ширины коллекторного
перехода, а значит величиной заряда при
изменении
.
Выражение для
при
с учетом формул (4.29), (4.30) может быть
записано
(4.47)
Полная емкость коллекторного перехода:
. (4.48)
Из
простого сравнения формул (4.45) и (4.47),
видим, что
,
следовательно,
.
Оценка показывает, что в нормальном режиме работы транзистора при расчетах можно пренебречь барьерной емкостью эмиттера по сравнению с диффузионной емкостью эмиттера и диффузионной емкостью коллектора по сравнению с барьерной емкостью коллектора.
