- •Розділ 1. Основи кристалографії
- •1.1. Будова речовини
- •1.2. Трансляційна симетрія кристалів. Кристалічна ґратка
- •1.3. Класифікація кристалічних структур
- •1.4. Кристалографічні позначення
- •1.5. Обернена ґратка
- •1.6. Дифракція хвиль та частинок у кристалі
- •1.7. Класифікація кристалів за типами зв’язку
- •1.8. Некристалічні тверді тіла та рідкі кристали
- •1.9. Дефекти у кристалах
- •1.9.1. Точкові дефекти
- •1.9.2. Лінійні дефекти
- •1.9.3. Поверхневі та об’ємні дефекти
1.9.2. Лінійні дефекти
До одновимірних або лінійних дефектів відносяться крайові та гвинтові дислокації. Дислокацією називають дефект кристалічної ґратки, пов’язаний з існуванням у кристалі деякої лінії з наступними властивостями:
на далеких відстанях від цієї лінії кристал локально практично не відрізняється від ідеального;
поблизу цієї лінії атоми помітно зміщені відносно вузлів ґратки ідеального кристала;
в області розташування цієї лінії існує ненульовий вектор Бюргерса.
Вектор Бюргерса визначають
наступним чином. Здійснимо з довільного
вузла ґратки А переміщення вздовж одного
з векторів основних трансляцій (наприклад
)
на деяку кількість (наприклад n)
його довжин, потім – вздовж іншого
(наприклад
)
на деяку кількість (наприклад m)
його довжин. Продовжуючи здійснювати
послідовні переміщення -n
та -m
,
у ідеальному кристалі знову попадемо
у вузол А, описавши замкнений контур
(контур Бюргерса) ABCDA.
У випадку кристала з дислокацією
аналогічна побудова може дати розімкнений
контур ABCDЕ (Точка Е інша,
аніж А). Вектор
,
необхідний для замикання контуру
Бюргера, і називається вектором
Бюргерса.
|
Рис. 1.18. Зображення крайової дислокації та контуру Бюргерса УВАГА! Зменшити зберігаючи символи векторів |
|
Рис. 1.19. Гвинтова дислокація УВАГА! Зменшити зберігаючи символи векторів |
Оскільки в області дислокації кристалічна ґратка спотворена, то у ній під дією пружних сил виникають напруження σдисл і запасається пружна енергія деформованої ґратки Едисл. Зокрема, для крайової дислокації їх можна оцінити величинами
,
(1.19)
,
(1.20)
де
G –
модуль зсуву, b
– довжина вектора Бюргерса, r
– відстань від осі дислокації до
розглядуваної точки, а L
– довжина дислокації. Приймаючи G
= 2∙1010 Па,
b =
3∙10-10 м,
одержимо Едисл
= 4 еВ на кожний відрізок
дислокації, рівний міжатомній відстані.
Пружні напруги на відстані r
= 100 нм (близько 300 атомних
відстаней) від вісі дислокації становлять
величину σдисл
107 Па.
Наявність силового поля навколо дислокації приводить до взаємодії їх між собою, з домішковими атомами та іншими точковими дефектами. Зокрема, до стиснутих областей ґратки поблизу дислокації, дифундують домішкові атоми з малим радіусом, до розтягнутих – з великим. В результаті цього дислокації часто виявляються оточеними множиною хаотично розміщених домішкових атомів різного роду (їх називають хмаринками Котрелла); дислокації також є місцем стоку вакансій.
Виникають дислокації у процесі росту кристалів, із скупчень вакансій, а також при механічній обробці кристалів внаслідок пластичних деформацій. Їх наявність відіграє значну роль у формуванні властивостей кристалу, зокрема, його твердості та міцності. Великі значення напруженостей та енергій пружних деформацій ґратки в області дислокації свідчать про те, що їх переміщення у кристалі вкрай утруднено, оскільки вимагає великих витрат енергії, а це приводить до зниження здатності кристалу до деформацій.
