- •Изучение характеристик излучающего диода Лабораторная работа №2. Изучение характеристик излучающего диода.
- •Сведения из теории.
- •Излучательная и безызлучательная рекомбинация. Внутренний квантовый выход люминесценции полупроводникового материала.
- •Спектр рекомбинационного излучения.
- •Инжекция носителей заряда в излучающем диоде.
- •Внешний квантовый выход.
- •Характеристики излучающих диодов.
- •Особенности характеристик светоизлучающих диодов.
- •Материалы и конструкции излучающих диодов.
- •Задание к лабораторной работе «Изучение характеристик излучающего диода»
Характеристики излучающих диодов.
Излучательная характеристика.
Интегральная интенсивность излучения диода описывается излучательной характеристикой. Для ИК-диода излучательная характеристика представляет собой зависимость интегральной мощности излучения (потока излучения)
от величины прямого тока через диод (ватт-амперная характеристика, рис.6). В соответствии с формулами (29) и (30) интегральная мощность излучения диода может быть записана в виде
Из выражения (40) следует, что ватт-амперная характеристика излучающего диода будет линейной в интервале значений тока, в котором коэффициенты
не
зависят от величины тока (значения
и можно считать постоянными).
Отклонения от линейности обычно
наблюдаются в области малых и в области
больших токов (рис.6). При малых токах
сверхлинейное возрастание мощности
излучения может быть связано с
увеличением или ηi
. При этом увеличение эффективности
инжекции
обусловлено более быстрым возрастанием
инжекционной составляющей прямого тока
по сравнению с рекомбинационной и туннельной составляющими – по мере увеличения напряжения на p-n-переходе. Рост внутреннего квантового выхода ηi (см. формулу (14)) может быть вызван более быстрым уменьшением времени жизни для межзонной излучательной рекомбинации при переходе к высокому уровню возбуждения:
по сравнению с безызлучательным временем жизни для рекомбинации через локальный центр.
Замедление роста Pизл при больших прямых токах I (см.рис.6) может быть обусловлено снижением ηi из-за возрастания вероятности оже-процессов при высоких концентрациях избыточных носителей заряда, а также вследствие усиления роли безызлучательных процессов с участием глубоких уровней в результате повышения температуры диода.
Рис. 6. Ватт-амперная характеристика ИК-диода.
Диаграмма направленности.
Пространственное
распределение излучения диода
характеризуют диаграммой направленности.
Диаграмма направленности представляет
собой зависимость силы излучения
(dΩ
- элементарный телесный угол) от угла φ
между данным направлением и оптической
осью излучателя. Для излучателя с плоской
поверхностью диаграмма направленности
может быть приближенно описана законом
Ламберта:
(41)
Эта зависимость изображена на рис.7 в полярной системе координат (кривая 1).
Направленность излучения характеризуют также углом излучения α , в пределах которого сила излучения составляет не менее половины ее максимального значения. Для излучателя с плоской излучающей поверхностью α=1200 .
Использование
полимерных куполов (линз) различной
формы позволяет изменять диаграмму
направленности. Для большинства
излучающих диодов угол α находится в
пределах 40
1000
(см.,
например, кривую 2 на рис.7).
