2. Посредством разделения фаз

Для решения вопроса о природе, составе и долях отдельных компонентов в твердых материалах требуется разделение фаз, перевод в растворимое состояние и т. д.

Общая погрешность каждого метода анализа почти в равной степени зависит от ошибок при отборе пробы и от ошибок измерения.И те и другие должны иметь одинаковый порядок, поскольку по экономическим соображениям нет смысла увеличивать точность

метода измерения, пока не разработаны более точные методы отбора проб.

Оптимальный способ отбора пробы можно предусмотреть лишь при наиболее полном знании исследуемой системы и общей задачи исследования.Размер пробы ни в коем случае не является произвольно выбираемой величиной.

Источники ошибок в бх.Анализе. Возможные способы их обнаружения и устранения. Системат. И случайные погрешности.

Измеряемые величины и результаты анализа в той или иной степени неизбежно сопровождаются погрешностями.Следует различать два вида погрешностей:

1) случайные погрешности, величина которых определяет воспроизводимость данного способа;

2) систематические погрешности, наличие и величина которыххарактеризует правильность способа анализа, а следовательно, и его результатов.Причиной случайных погрешностей оказываются искажения сигнала во время аналитического процесса. Полностью избежатьих невозможно.Систематические погрешности обусловливают стойкие отклонения результатов от истинных значений. Они вызываются постоянно действующими в одном направлении искажениями, которые в принципе распознаваемы и могут быть исключены.Далеко не во всех случаях удается строго различить систематические и случайные погрешности. Это в особенности относится к переменным погрешностям, причина которых связана не только с самим способом анализа, но и с исследуемым веществом (например,с его неоднородностью).Систематические погрешности могут встречаться на любом этапе аналитического процесса; в исключительных случаях они заранее обусловлены неверной постановкой задачи.

Существенными источниками ошибок могут быть отбор и подготовка проб. Систематически искажать результаты может состав пробы вследствие матричных эффектов. Наиболее частой причиной появления систематических ошибок оказывается неправильное градуирование на основе неподходящих градуировочных проб, несоответствие выбранного метода или недостаточная теоретическая

обоснованность метода градуирования.По влиянию, оказываемому на результаты анализа, различают следующие погрешности: 1) аддитивные (постоянные), 2) мультипликативные

(линейно связанные с измеряемой величиной, пропорциональные)

и 3) нелинейно связанные с измеряемой величиной.

Различие между систематическими и случайными погрешностями

легко понять- Если истинное значение находится

внутри доверительного интервала среднего значения у, характеризующего

случайные погрешности, полученный результат (ц2)

считают правильным; если истинное значение лежит за пределами

этого интервала (р.г), результат неверен. Методы обнаружения систем.ошибок- стат.метод Аббе,Фишера и Стьюдента.

Принципы общей теории измерений и их применение. Основные требования к характеристикам метода анализа. Понятие о чувств.,специф. И селективности. Способы измерения конц. В пробе.

Свойственные пробе сигналы обладают почти исключительно статическим

характером. В ходе измерительного процесса, заключающегося в энергетическом или вещественном взаимодействии с пробой, сигналы переводят в динамические самого разнообразного вида, например в электромагнитное излучение или поток элементарных

частиц, химические реакции или фазовые превращения.В конце измерительного процесса сигналы вновь выступают в статической форме, в виде регистрограмм, фотографий или наборов чисел. Принцип измерения характеризуется видом взаимодействия, которому подвергают пробу. В принципе различают упругие и неупругие взаимодействия.

1. Упругие взаимодействия. В этом случае аналитический интерес представляют исключительно упругие взаимодействия пробы с электромагнитным излучением или потоком элементарных частиц.В ходе взаимодействия излучение не претерпевает изменения"энергии, а лишь меняет направление. Это изменение пространственной структуры излучения закономерно связано со структурой пробы. принципы и методы анализа, основывающиеся на упругих взаимодействиях.-В основе их лежат оптические

явления, которые могут быть описаны с помощью волновых свойств излучения или частиц. Внутренняя энергия пробы и ее структурных единиц при упругих взаимодействиях не претерпеваетизменений.

2. Неупругие взаимодействия. Значительно большая доля методов анализа основывается на неупругих взаимодействиях пробы с внешними источниками энергии. При этом происходит изменение и внутренней энергии пробы, и энергии внешней системы

Происходящее в ходе измерения кодирование мысленно можно разложить на два этапа:

а) кодирование сигнала пробы в энергетический сигнал;

б) кодирование последнего в измеряемую величину.

В каждом отдельном случае оба этапа описываются с помощью законов природы, лежащих в основе данного принципа анализа, а также закономерностей и правил, обусловленных аппаратурным оформлением. Совместно они представляют собой измерительную или градуировочную функцию соответствующего метода анализа.

Первая производная измерительной функции F(у) выражает зависимость

измеряемой величины от аналитически определяемой и называется чувствительностью E

данного способа анализа:

E = F' (у) = dwy/dy

Для многокомпонентного анализа необходима система градуировочных функций, коэффициенты которых представляют собой парциальные чувствительности, характеризующие отклик отдельных измеряемых величин на изменения аналитических величин.Посредством этих коэффициентов могут быть выражены искажения измеряемых величин, вызываемые определенными компонентами пробы («матричный эффект», «эффект третьего компонента.Матрица парциальных чувствительностей, .называемая по Кайзеру также градуировочной матрицей данного способа анализа указывает не только меру чувствительности данного способа анализа для многокомпонентной системы, но и меру его селективности и специфичности. Способ анализа может быть назван селективным, когда все элементы матрицы , за исключением элементов главной диагонали у и, обращаются в нуль. В этом случае каждый компонент должен быть определен независимо, наряду с другими. Разумеет ся, это условие выполняется тем лучше, чем выше аналитическая разрешающая способность данного метода анализа.Напротив, данный способ анализа является специфическим по отношению к данной составной части а, когда лишь один единственный элемент уаа матрицы отличен от нуля.При очень высоких значениях E и Wселект. данный способ полностью селективен или специфичен, при малых значениях селективные или специфичные определения невозможны.