29. Отладка микропроцессорных устройств: интерфейс jtag (ieee 1149) – сигналы; схема соединения устройств, использующих данный интерфейс; схема сопряжения интерфейса с устройством.
Стандарт IEEE 1149.1 Boundary Scan Architecture (JTAG) предназначен для тестирования сложных логических схем, установленных в целевое устройство. 4 сигнала:
TMS (Test Mode Select ) – сигнал выбора тестового режима; TDI (Test Data Input) – входные данные в последовательном двоичном коде; TDO (Test Data Output) – выходные данные в последовательном двоичном коде; TCK (Test Clock) –сигнал синхронизации последовательных данных.
(2) TDI– test data input
TDO–test data output
TCK–test clock
TMS–test mod select и необязательный TRST–test reset
BSR– ячейки располагаются на границе устр-ва м/у выводами и целевой логикой, т.к. некоторые выходы двунаправленные или с третьим состоянием и их нужно конфигурировать.BSR вкл. В себя служебные ячейки.
IR(instrument register)
DID (device Identification)доступен только для чтения
BPR (bypass register )обходной регистр, одноразрядный
30. Отладка микропроцессорных устройств: интерфейс JTAG (IEEE 1149) – регистры, инструкции. Данный интерфейс нужен для тестирования и отладки микросхем и плат, собранных в цельное устройство. При нормальной эксплуатации конечному пользователю не нужен отладочный интерфейс. Следовательно чтобы сократить “лишнюю” стоимость, число сигналов тестового интерфейса делают минимальным.
TDI– test data input
TDO–test data output
TCK–test clock
TMS–test mod select и необязательный TRST–test reset
BSR– ячейки располагаются на границе устр-ва м/у выводами и целевой логикой, т.к. некоторые выходы двунаправленные или с третьим состоянием и их нужно конфигурировать.BSR вкл. В себя служебные ячейки.
IR(instrument register)
DID (device Identification)доступен только для чтения
BPR (bypass register )обходной регистр, одноразрядный.
Регистры:
IR (Instruction Register )
DID (Device Identification) - Доступен только для чтения; по нему ТАВ – контроллер опознает тип и версию устройства.
BРR (Bypass Register) – обходной регистр одноразрядный; кратчайший обходной путь для продвижения данных через устройство без влияния на его работу.
Команды:
1.EXTEST (External Test)
Тест внешних относительно микросхемы цепей;
на выходные выводы МС подаются значения,
предварительно записанные в BSR; из входных сигнал идет на BSR, выходные ячейки BSR содержат 2 триггера: один хранит данные и использ. как элемент по продвижению данных;
второй - для хранения выходных данных.
EXTEST переписывает бит из первого триггера во второй. Входная ячейка ограничивается одним триггером. После команды «EXTEST» процессорам нужен перезапуск.
2. INTEST (Internal Test)
ЦСП не поддерживают эту команду
3. SAMPLE/ PRELOAD
Когда ТАР – контроллер в состоянии Capture DR это инструкция запоминает состояние входных выводов BSR положит. по форме ТСК
4. IDCODE – выдает идентиф. код устройства (TDI→OID→TDO)
5. BYPASS –(проходящие через устройство данные не будут оказывать влияние на его работу).
31. Отладка микропроцессорных устройств: интерфейс JTAG (IEEE 1149) – граф состояний и переходов. Данный интерфейс нужен для тестирования и отладки микросхем и плат, собранных в цельное устройство. При нормальной эксплуатации конечному пользователю не нужен отладочный интерфейс => чтобы сократить «лишнюю» стоимость, число сигналов тестов. Интерфейса делают минимальным: TMS (Test Mode Select) – сигнал выбора тестирующего режима
TDI (Test Data Input) – вход тестовых данных
TDO (Test Data Output) – выход тестовых данных
TCK (Test Clock) – сигнал синхронизации.
TRST (Test Reset)
Тестируемые устройства объединяются в цепочку.
Внутреннее устройство:
Граф состояний и переходов
TAB-контроллер представляет собой синнннннннхронный конечный автомат. Состояние Test-Logic-Restar – конроль переходит при Restarte или при удержаниии сигнала TMS=1 в течение менее 5ти тактов.Состояние сигнала изображено сверху стрелок. В этом состоянии тестовая логика отключена.
Знать соединение выделенной схемы
Run-Test-Idle промежуточное состояние, в нем регистры не мешают своего состония. В состояние Cupture, во время инструкций Extest и Sample BSR фиксируется состояние входных выводов. TDI -> TDO. Состояние Pause-DR продвижение данных временно прекращается. Состояние Update-DR данные поступают на выводы устройства. Cupture-IR регистр инструкций, загружается инструкция Sample. Состояние Shift-IR между TDI -> TDO включает регистр инструкций IR и продвигается на один разряд. Pause-IR продвижение данных ч/з регистр инструкций временно приостановлены. Update-IR фиксируется новая инструкция. Остальные состояния (6 штук) служат для служебный целей, для обеспечения функцион. Автомата. TAB контроллер может работать с различными устройствами для описания этих устройств BSDL.