- •Кристаллография
- •Рентгеновские спектры
- •Факторы интенсивности
- •Характеристики рентгеновских отражений
- •Методы рентгеноструктурного анализа
- •Количественный ФазАн
- •Качественный ФазАн
- •Исследование текстуры
- •Исследование микронапряжений и блоков
- •Исследование типов твердого раствора и построение границы р-сти
- •Электронография
- •Электронная микроскопия
- •Зондовая микроскопия
Зондовая микроскопия
Какие задачи решаются методами РЭМ в отраженных электронах?
Интенсивность растет при увеличении атомного номера, интенсивность сильно зависит от наклона. Это позволяет исследовать хим. неоднородность. Исследуя зависимости интенсивности в разных направлениях, можно анализировать рельеф.
Какие задачи решаются методами РЭМ во вторичных электронах?
Эмиссия ВЭ за счет многократных процессов рассеяния в объеме материала идет в той или иной мере от всех точек объекта, включая точки, находящиеся в глубинах сложного рельефа. В условиях бестеневого изображения чрезвычайно большой глубины фокуса и высокого разрешения это дает богатую информацию о самом сложном рельефе поверхности объекта, который создается, например, при разрушении (фрактография), при воздействии на поверхность агрессивных сред, включая обычную технику травления металлографических шлифов.
Какие задачи решаются методами РМА?
РМА позволяет определить химический состав в очень малых объемах образца, поперечные размеры которых на исследуемой поверхности имеют порядок микрона.
Каким образом отсекаются вторичные электроны в РЭМ?
Подачей определенного напряжения на детектор. При более 50В он чувствует не только отраженные электроны, но и вторичные электроны.
За счет чего формируется высокая глубина резкости при исследовании во вторичных электронах в РЭМ?
?????
Чем определяется предельное полезное увеличение в зондовых приборах? Каково оно для РМА?
?????
Зачем нужен генератор сканирования в зондовых приборах?
Он нужен, чтобы колебания зонда приводили к выполнению линейной развертки поверхности образца. Образец устанавливают на этот генератор, в случае, если колеблется образец, а не зонд.
Каким образом разделяется характеристическое рентгеновское излучение, отвечающее разным элементам, в методика РМА?
Длины волн определяются элементным составом. Интенсивность каждой спектральной линии - содержание элемента.
На чем основан количественный химический анализ методом РМА?
?????
Сравнить предельное разрешение во вторичных электронах, отраженных электронах и характеристическом рентгеновском излучении.
Вторичные – 1-3 нм;
Отражённые – 30 нм;
Характеристическое рентгеновское излучение – 100 нм.