- •Цель и задачи курса. Основные термины и определения.
- •Понятия об «активном» и «пассивном» контроле.
- •4.Технологические основы автоматического контроля.
- •5.Основные источники погрешности обработки, их характеристики.
- •Понятия о резервах технологической точности.
- •Упругие деформации элементов системы спид.
- •8.Температурные деформации элементов системы спид.
- •9.Основные источники температурных деформаций и их характеристики.
- •10.Требования, предъявляемые к отдельным элементам конструкции экип.
- •Корпусные элементы
- •Чувствительные элементы
- •Кинематические преобразовательные элементы
- •Электроконтактные преобразовательные элементы
- •Элементы натсройки
- •11.Расчет температурной погрешности детали (с и без теплоотвода)
- •12.Мероприятия по уменьшению температурных погрешностей обработки.
- •13.Суммарное влияние основных источников возмущений в спид на точность обработки. Структура погрешности размера.
- •14. Классификация средств автоматического контроля по информационным признакам.
- •15.Автоматические системы и автоматизированные средства с одним источником информации. Их функциональные возможности.
- •16. Автоматические системы с двумя источниками информации, их общая классификация и функциональные возможности. Структура а1а2
- •17. Автоматические системы структуры а1 а2, реализующие прямые измерения размера детали. Их функциональные возможности.
- •18. Автоматические системы структуры a1 а3. Метод компенсации и стабилизации упругих перемещений.
- •19. Автоматические системы с тремя и четырьмя источниками информации, их функциональные возможности и общая классификация.
- •Структура a1a2a4
- •20. Измерительные преобразователи. Общие понятия и определения.
- •21. Классификация. Нормируемые метрологические характеристики ип.
- •22. Метрологические особенности автоматических средств контроля.
- •23. Электронно-механические преобразователи. Классификация. Механотроны. Принцип действия, особенности конструкций.
- •Принцип действия механотронных приборов
- •24. Контрольные автоматы. Структурная схема. Расчет производительности.
- •25. Автоматические системы структуры а1 а2, реализующие косвенные измерения размера детали. Их функциональные возможности.
- •26.Фотоэлектрические преобразователи. Классификация, функциональные возможности.
- •Принцип действия фотоэлектрических приборов.
- •Автоматические системы структуры ai а2 а4. Их функциональные возможности.
- •Подналадчики. Их функциональные возможности. Точность подналадки.
- •30.Погрешности обработки, связанные с размерным износом инструмента.
- •Электроконтактные шкальные головки. Модели, особенности конструкций. Достоинства и недостатки. Электроконтактные шкальные головки (эки)
- •Головка типа эгр
- •Головка типа эгп
- •Сравнительные характеристики шкальных электроконтактных головок.
- •Индуктивные измерительные преобразователи. Классификация.
- •33. Конструктивные особенности, достоинства и недостатки. Дроссельные преобразователи
- •Дифференциальные индуктивные измерительные преобразователи
- •Дифференциально-трансформаторные измерительные преобразователи
- •Индуктивные преобразователи с сердечниками круглой формы
- •34. Индуктивные измерительные преобразователи с ш- и п-образными сердечниками. Принцип действия, статические характеристики преобразования. Одинарные оиип
- •Дифференциальные преобразователи с круглым сердечником
- •35. Расчет и выбор параметров индуктивных измерительных преобразователей.
- •36. Механотроны. Способы управления электронным током лампы. Особенности конструкций Принцип действия механотронных приборов
- •37. Основные принципы конструирования электронно-механических преобразователей.
- •38. Многопредельные экип. Особенности конструкций. Модель бв 60-48
- •Сравнительные характеристики рассмотренных придельных кип рассмотрены в следующей таблице.
- •39. Предельные экип. Модели, особенности конструкций. Методы настройки.
- •Методы настройки экип
- •Модель 228
- •Модель 233
- •40. Емкостные измерительные преобразователи.
- •41. Амплитудные экип. Модели амплитудных экип, их конструктивные особенности.
- •Модель 231
- •Модель 248
- •Сравнительные характеристики амплитудных экип
- •42. Автоматические системы структуры а1 а2 а3 Их функциональные возможности.
- •43. Широкодиапазонные пневматические измерительные преобразователи. Выбор параметров пневматической измерительной цепи.
- •44. Импульсные фотоэлектрические преобразователи.
- •45. Фотоэлектрические преобразователи с непрерывной статической характеристикой.
- •46. Дискретные индуктивные преобразователи.
- •47. Электроконтактные элементы экип. Коррозия и эрозия контактов, механическая прочность.
- •48. Пневматические измерительные преобразователи манометрического типа.
- •49. Схемы включения экип.
- •50. Сортировочные позиционные фотоэлектрические преобразователи.
- •51 .Амплитудные и предельные фотоэлектрические преобразователи. Предельный фотоэлектрический преобразователь модели пфп
- •Амплитудный преобразователь (пфа)
- •52.Корпусные, чувствительные и кинематические преобразовательные
- •Чувствительные элементы.
- •Кинематические преобразовательные элементы.
- •53. Электроконтактные измерительные преобразователи (экип). Классификация и принцип действия экип.
- •54. Исполнительные устройства контрольных автоматов.
- •Исполнительное устройство
- •55. Индуктивные измерительные преобразователи. Классификация. Конструктивные особенности, достоинства и недостатки.
- •56. Загрузочные устройства контрольных автоматов. Выбор загрузочных устройств.
- •Выбор загрузочного устройства и его предварительный расчет
- •57. Транспортирующие устройства контрольных автоматов.
- •Измерительная станция контрольных автоматов.
- •Устанавливающие устройства
- •Измерительное устройство
- •Запоминающие устройства контрольных автоматов.
- •68. Устанавливающие, поворотные и измерительные устройства измерительной станции контрольного автомата.
- •70. Методика настройки предельного экип модели 228.
- •71. Методика настройки амплитудного экип модели 231.
- •72. Методика настройки предельного экип модели 233 при измерении диаметра детали. Модель 233
- •73. Методика настройки предельного экип модели 233 при измерении высоты детали, допуск которой превышает предел измерения экип. Модель 233
- •74. По каким критериям и как можно оценить точность технологического процесса.
- •75. Как подобрать узлы для пневматической системы активного контроля при обработке вала.
- •76. Методика настройки пневматической системы активного контроля.
- •77. Что такое чувствительность и как определить ее для индуктивной системы активного контроля.
- •78. Порядок настройки индуктивной системы активного контроля б-2 для построения статической характеристики преобразования.
- •79. Дать характеристику загрузочного устройства контрольного автомата «aviko».
- •80. Транспортирующее устройство автомата «avtko».
- •1.2 Отсекатель шариков большего диаметра
- •1.3 Делитель
- •1.4 Подающий механизм
- •Изменение зазора боковых пластин отсекателя.
- •Магазин
- •81 .Измерительное устройство автомата «aviko».
- •82. Запоминающее устройство автомата «aviko».
- •83. Поворотное устройство автомата «aviko».
- •84. Исполнительное устройство автомата «aviko».
- •85. Как определить производительность загрузочного устройства автомата «aviko».
- •86. Как определить емкость загрузочного устройства автомата «aviko».
- •87. Что такое «подналадочная система» и как она работает?
- •88. Как определить количество деталей, которые можно обработать до подналадки.
- •89. Автоматическая индуктивная система ак-За и ее конструктивные особенности.
- •90. Методика настройки окончательной команды системы ак-За.
- •91. Методика настройки предварительной команды системы ак-За.
- •92. Подготовка автоматической индуктивной системы бв-6320 к поверке.
- •Требования, предъявляемые к измерительным преобразователям автоматических и автоматизированных средств контроля.
- •Трехпредельные кип
- •Модели 229 и 230
- •Элементы настройки
- •Принцип работы самобалансирующегося измерительного преобразователя
- •Преобразователи дифференциальные сильфонные
- •Особенности выбора параметров пневматических измерительных схем по заданным метрологическим характеристикам.
- •Автоматизированные средства контроля и контрольные автоматы Автоматизированные средства контроля
Подналадчики. Их функциональные возможности. Точность подналадки.
Если контроль размера детали в процессе обработки невозможен по техническим причинам, а функциональные возможности систем контроля положения режущей кромки инструмента или положения исполнительных органов станка явно недостаточны. Используются так называемые автоматические системы управляющего контроля после обработки ( подналадочные системы или подналадчики).
Рис. Схема системы автоматической системы управляющего контроля после обработки.
Задатчик (источник информации а1)
Прибор сравнения
Исполнительное устройство
Шлифовальная бабка
Обрабатываемая заготовка
Измерительная позиция, расположенная вне станка
Измерительный преобразователь (источник информации а2)
Анализатор
Паркующее устройство
L – количество деталей, которые сошли со станка за период времени
Детали, сходящие сплошным потоком на измерительную позицию 6 и контролируются на ней с помощью измерительного преобразователя 7 (источник информации а2). Измерительные сигналы, пропорциональные размерам контролируемых деталей поступают в анализатор 8. Результаты работы анализатора, его выходной сигнал непрерывно соизмеряется прибором сравнения 2 с уровнем образцового сигнала с задатчика 1 (источника информации а1). Предположим, что центр группирования размеров детали постепенно смещается (например, вследствие размерного износа инструмента по направлению от нижней границы к верхней границе поля допуска).
В момент совпадения центра группирования так называемой линией настройки II-II порогового устройства прибора сравнения 2 выдает команду на подналадку и шлифовальная бабка 4 перемещается исполнительным устройством 3 на величину подналадочного импульса. В результате мгновенный центр группирования размеров деталей совмещается с линией настройки I-I. Одновременно детали, находящиеся в зоне l отбраковываются устройством 9, т.к. их размеры весьма близки к размерам детали, вызвавшей подналадочный импульс (подналадку). В дальнейшем цикл работы системы «Станок-Подналадчик» повторяется.
Величина подналадочного импульса равна резерву технологической точности:
Как следует из принципа подналадки, подобные системы не уменьшают влияние на точность обработки детали основных источников погрешностей обработки, а позволяют многократно использовать имеющийся резерв или запас технологической точности, при том без вмешательства человека, путем предварительной настройки оборудования в момент, когда случайные функциональные погрешности достигают предельного значения.
С точки зрения точности и принципа действия методы подналадки можно классифицировать следующим образом:
Подналадка по одной детали.
Подналадка по положению центра группирования случайной погрешности.
Подналадка по повторным импульсам.
И др.
Несмотря на многообразие форм подналадки структура погрешности всех подналадочных систем примерно одинакова и выглядит следующим образом:
A – величина подналадочного импульса
– мгновенное поле
рассеивания собственно случайных
погрешностей, которые не компенсируются
существующими подналадочными системами
(зона нечувствительности подналадочных
систем)
E – погрешность измерительного преобразователя (прибора)
B – характеризует интервал, в котором будет находится размер детали, вызвавшей подналадочный импульс.
