- •Лекции по конструкторско-технологическому обеспечению
- •Поколения конструкции электронной аппаратуры
- •Основы микроэлектроники
- •Классификация интегральных схем (ис)
- •Простые и сложные микросхемы
- •Технологические основы микроэлектроники
- •Кристаллическая структура и свойства полупроводника
- •Супер β-транзисторы
- •Элементы биполярных ис
- •Типичная конфигурация биполярных транзисторов в плане.
- •Многоколлекторные n-p-n транзисторы
- •Латеральный (горизонтальный) p-n-p транзистор
- •Схемы с инжекционным питанием (и2л)
- •Диффузионные, ионно-инжекционные и тонкопленочные резисторы
- •Диффузионные и мдп конденсаторы (металл-диэлектрик-полупроводник)
- •Структура мдп интегральных схем
- •Проектирование межэмиттерных элементов
- •Основные технологические операции изготовления ис
- •Методы получения эпитаксиальных слоев кремния
- •Диффузия примеси полупроводников
- •Методы осуществления диффузии
- •Диффузия в открытой трубе
- •Диффузия примеси на этапе разгонки
- •Ионная имплантация
- •Сущность ионного легирования
- •Формирование диэлектрических покрытий
- •Осаждение диэлектрических пленок
- •Литография
- •Основные операции фотолитографического процесса
- •Перспективные методы литографии
- •Методы получения тонких пленок
- •Метод магнетронного распыления
- •Технология тонкопленочных имс
- •Пассивные тонкопленочные элементы имс
- •Методы формирования конфигураций тонкопленочных элементов
- •Технология толстопленочных гис
- •Основные технологические операции изготовления толстопленочных гис
- •Сборка микросхем
- •Технология электромонтажных работ
- •Материалы для печатных плат
- •Основы технологии изготовления рисунка пп
- •Технический процесс получения рисунка
- •Сборка навесных элементов на пп
- •Поверхностный монтаж изделий электронной техники
- •Технологические процессы сборки
- •Единая система конструкторской документации ескд
Элементы биполярных ис
Основным элементом в биполярных ИМС является биполярный n-p-n транзистор. Он обладает лучшими характеристиками, чем транзистор p-n-p типа, а техника изготовления более проста. Поэтому технологический процесс изготовления биполярных интегральных схем отрабатывается так, чтобы параметры n-p-n транзистора были оптимальными, а остальные элементы изготовлены по техническому оптимуму для данного транзистора.
Структура интегрального биполярного транзистора в вертикальном разрезе
n+ эмиттер
n- коллектор
p- база
разделительный p+ слой
скрытый n+ слой
контактное окно в окисле n+ эмиттера
контактное окно окисла p базы
n+ слой коллектора
контактное окно в окисле n+ коллектора
металлизированные проводники
Типичная конфигурация биполярных транзисторов в плане.
В
начале формируется коллекторная область
n типа, затем акцепторной
примесью базовая p область,
после чего донорная примесь n,
образует эмиттерную и подконтактный
коллекторный n+ слой.
Широкое распространение получила транзисторная структура со скрытым n+ слоем. Скрытый слой нужен, так как вывод коллектора расположен на поверхности. Это ведет к увеличению сопротивления тела коллектора и ухудшает характеристики транзистора, как в усилительном, так и в переключающем режимах. Уменьшение удельного сопротивления коллекторного слоя снижает напряжения пробоя коллекторного p-n перехода и увеличивает емкость этого перехода, что ухудшает частотные свойства. Формирование скрытого n+ слоя обеспечивает создание низкоомного слоя от активной коллекторной области к контакту.
Назначение подконтактной n+ области – это создание низкоомного омического контакта к коллектору при вплавлении алюминия, растворимость которого в кремнии составляет 1016 см-3, поэтому при вплавлении алюминия в коллекторный слой с уровнем внедрения примесей (легирования) 1015-1016 см-3 образует p-n переход.
При ассиметричной конструкции характерно, что эмиттерный ток протекает к коллектору только в одном направлении. При симметричном расположении коллектора, ток эмиттера протекает к коллектору в 3 направлениях, что снижает сопротивление коллектора в 3 раза. Данная конструкция используется в мощных и высокочастотных транзисторах.
Основными параметрами интегрального транзистора являются :
- коэффициент усиления β, 100-200
- предельная частота fr, мГц 200-500
- коллекторная емкость Ck, 0,3-0,5
- пробивное напряжение коллекторного перехода vкб, 40-50 В
- пробивное напряжение эмиттерного перехода, 7-8 В
Супер β-транзисторы
Это транзисторы с высоким коэффициентом усиления β 3000-5000, который получается засчет уменьшения ширины базы до уровня 0,2-0,3 микрон (стандарт 1,5-2,5). Напряжение коллекторного пробоя у них составляет 1,5-2 В из-за эффекта "смыкания" эмиттерного и коллекторного переходов. Это не универсальный, а специализированный элемент, главная область применения – входные каскады операционных усилителей.
Интегральные диоды – их функцию в интегральных элементах выполняют транзисторы с определенной коммутацией электродов.
|
БК-Э, Э-Б |
Б-ЭК |
БЭ-К, БК |
Uпр (В) |
7-8 |
7-8 |
40-60 |
Iобр (мА) |
0,5-1 |
20-40 |
15-30 |
Напряжение пробоя больше у тех вариантов коммутации, в которых используется p-n переход. Но у них выше и больше обратные токи. Меньшее сопротивление пробоя и меньшие токи имеют варианты, в которых используется эмиттерный переход. Емкость максимальна у структуры Э,Б-К, емкость на подложке минимальна у структуры БЭ. По совокупным параметрам оптимальны схемы коммутации Э,Б-К и Э-Б.
Для исключения воздействия смежных эмиттеров, которые образуют паразитные горизонтальные n-p-n транзисторы, расстояние между ними выбирают не меньше диффузионной длины носителей в базовом слое (10-15 микрон).
