24. Характеристики систем диагностирования. Оценка эффективности систем диагностирования.

Для сравнения различных систем диагностирования и оценки их качества чаще всего используют следующие показатели:

• Вероятность обнаружения неисправности F;

• Вероятность правильного диагностирования D, т.е. когда неисправный блок обнаружен и указан в разделе диагностического справочника, иначе неисправность обнаружена, но не локализована. В данном случае система диагностирования должна иметь дополнительные процедуры для локализации неисправности. Для ЭВМ с развитой системой диагностирования F  0,95, D  0,9.

• Средняя продолжительность однократного диагностирования д - это время выполнения вспомогательных операций диагностирования и продолжительность собственно диагностирования. Часто используют коэффициент продолжительности диагностирования:

Kд = 1 - д / Тв,

где Тв – время восстановления.

Коэффициент Кд показывает, какая часть времени восстановления остается на восстановительные процедуры – ремонт или реконфигурацию системы.

• Глубина поиска дефекта L. Величина L указывает составную часть диагностируемого устройства с точностью, до которой определяется место неисправности. За глубину поиска дефекта часто принимают число предполагаемых неисправных сменных ТЭЗ, определяемое по формуле:

г де ni – число предполагаемых неисправных ТЭЗ при i-ой неисправности;

N – общее число неисправностей.

• Объем диагностического ядра h – доля той аппаратуры в общем объеме аппаратуры ЭВМ, которая должна быть заведомо исправной до начала процесса диагностирования или H = 1 – h. Для реализации принципа раскрутки Н должно быть  0,9.

• Для интегральной оценки системы диагностирования можно использовать коэффициент:

Ки = F  D  Кд  Н.

25. Типы тестов, области их применения в зависимости от режимов работы процессора и состояния работоспособности эвм. Типы профилактических испытаний.

Основной целью профилактических испытаний является:

0. снижение вероятности возникновения сбоев и отказов при нормальной эксплуатации, путем выявления и замены элементов с граничными значениями параметров;

1. выявление отказов в оборудовании, не охваченном системой контроля или не участвующем в вычислительном процессе.

Обычно профилактические испытания выполняются с помощью диагностических тестов с остановом вычислительного процесса. Для уменьшения простоя ЭВМ из-за профилактических испытаний возможны следующие решения:

0. параллельное (мультипрограммное) выполнение тестов, обнаруживающих отказы в неохваченной контролем части аппаратуры;

1. параллельное (мультипрограммное) выполнение тестов аппаратуры и устройств, не участвующих в вычислительном процессе;

2. уменьшение времени тестирования отказов в неконтролируемой или не участвующей в вычислительном процессе аппаратуры, путем разработки специальных тестов, рассчитанных только на выявление отдельной группы отказов.

Основной задачей профилактических (проверочных) тестов является обнаружение отказов за минимально короткое время и охват большего объема аппаратуры. Однако некоторая часть оборудования ЭВМ не поддается тестированию с параллельным решением задач. Отсюда, профилактические испытания делятся на два вида:

0. не требующие останова ЭВМ, т.е. мультипрограммное тестирование параллельно с решением основной задачи;

1. требующие останова ЭВМ или их называют регламентные профилактические работы, которые проводятся по календарному графику.

Программные средства профилактических испытаний делятся на следующие типы:

0. автономные тесты, работающие под управлением ОС, и требующие прекращения решения задач;

1. автономные тесты, работающие под управлением тест-монитора, и используемые, когда ЭВМ неработоспособна для локализации места неисправности;

2. встроенные автономные тесты самодиагностирования, загружаемые и выполняемые перед загрузкой ОС после включения питания;

3. неавтономные тесты, позволяющие выполнять параллельное тестирование устройств с решением задачи в мультипрограммном режиме работы процессора.

Одним из видов профилактических испытаний является метод с изменением напряжений вторичных источников питания.

Известно, что вследствие физического старения элементов, надежностные характеристики устройств ухудшаются, что ведет к увеличению числа сбоев и отказов. Для выявления таких элементов применяют испытания в утяжеленных режимах, что приводит к локализации и устранению отказов путем замены элементов с ухудшенными параметрами, переведенными в неработоспособное состояние. То есть данный метод позволяет выявлять и устранять неисправности, которые могут произойти в ближайшем будущем.