Способы хранения информации Биполярная технология:
Нихромовая перемычка между вертикальными и горизонтальными проводами, которые удаляются при программировании.
Достоинства:
используется в средах с повышенной ионизацией.
Недостатки:
нихромовая перемычка может оказкться толстой и можно разрушить кристалл;
испарившийся нихром никуда не девается, нихромовая перемычка может восстанавливаться и её сопротивление становиться достаточно хорошо.
Поликремниевые соединения Используется связь, основанная на монокристалле. При прогроммировании кристалл разрушается.
Достоинства:
по надёжности уступают только массочным ПЗУ;
при программировании не возникает проблем с записью информации.
Недостатки:
самый дорогой способ;
при пропускании тока розрушается полупроводник микросхемы; разрушается кристаллическая структура и это разрушение необратимо.
Коротко – замкнутый p – n переход
Недостатки:
p – n переход может восстановить свои свойства (вместо нуля единица);
можно разорвать связь вовсе.
МОП технология:
лавинная инжекция зарядов в МОП структуре;
микросхемы имеют ограниченный срок хранения;
микросхема программируется программатором с помощью тока;
подключение к программатору через генератор тока.
Программирование микросхемы
Условия программирования:
Подать такой ток, чтобы перемычка испарилась полностью;
Чтобы разрушение перемычки было необратимо;
Чтобы не разрушился кристалл.
Схему генератора тока выполняют ключи.
При расчёте ключа нужно рассчитать R2 (Епр - известно).
U=const пока ток нагрузки не достигнет какой – то величины. Это участок малых токов.
Активный участок.
Работа на К3
Подаём 0, открывается VT1, ток течёт в нагрузку Iпр, если напряжение на R1= 0,7В, открывается VT2, течёт ток (2), уменьшается мок через базу, VT1 закрывается. Ток в нагрузку задаётся R1. Смысл- если нагрузка потребляет больше 350 мА, то напряжение падает(т.е. на выходе постоянно поддерживается ток 350 мА, если нагрузка не требует больше).
При программировании диод закрыт. При контроле: если 1- диод закрыт, считывается 1; при 0 – считывается 0.
Временные диаграммы программирования
Скважность 5. Если скважность 1 – микросхема греется и потребляется 8 Вт, при скважности 5 – 8/5 Вт Скважность – это отношение периода к длительности импульса.
Первый импульс – перемычка холодная;
Второй импульс – перемычка разогрелась, и т.д. В момент паузы происходит перераспределение тепла.
Режимы программирования.
Нормальный – для записи;
Дополнительный – с нормальной длительно-стью, амплитудой, но суммарное время программирования меньше;
Форсированный – увеличивают ток программирования(если не удаётся запрограммировать в нормальном режиме) или увеличивают длительность программирующих импульсов, либо и то и другое.
После программирования производят термо-ренировку – работа микросхемы при критических условиях окружающей среды. Она длится несколько суток.
Одна микросхема потребляет 1 Вт, если в модуле 30 микросхем, то надо 30 Вт. Поэтому предусмотрели динамическое питание – питается только та микросхема, к которой обратились.
Модуль
располагается сначала памяти и занимает
4 кБ. Потребляемая мощность ~ скважности.
Недостатки:
динамическое питание нельзя использовать с МОП структурами, т.к. там наблюдается эффект теристора (в нормальном состоянии он закрыт, если подать открывающий потенциал, то открыт, пока течёт ток).
Время выборки увеличивается в 2 раза.
Динамическое питание нельзя использовать для оперативной памяти(при включении питания вся информация разрушается).
Особенность динамического питания – выбор микросхемы с помощью сигнала Ucc.
ПЗУ с ультрафиолетовым стиранием.
Микросхемы только на МОП структуре, используется эффект лавинной инжекции.
Нитрид кремния способен захватывать и удержи-вать отрицательный заряд. При записи: на затвор увеличивается напряжение относительно подложки, отрицательный заряд из подложки переходит в канал и транзистор проводит электрический ток истока в сток.
Электроны из канала попадают в слой нитрида кремния, как только в нём накапливается достаточно зарядов, он выполняет эффект экрана.
Полностью стёртая микросхема содержит “1”, при записи – “0”. При записи происходит смещение кривой вправо, с течением времени информация забывается. Заряд, который находится в области нитрида кремния, теряется. Эффект туннелирования – заряд проходит через запрещённую зону, если получит квант энергии. Если электрону сообщить меньше энергии, чем надо, то эффект перехода не состоится.
