- •Оглавление
- •I. Исследование линий задержки
- •1.1. Цель работы
- •1.2. Подготовка к работе
- •1.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •1.4. Лабораторное задание
- •1.7. Ультразвуковые линии задержки с пьезоэлектрическими преобразователями
- •1.8. Линии задержки на поверхностных акустических волнах
- •2.1. Цель работы
- •2.2. Подготовка к работе
- •2.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •2. Исследование импульсных трансформаторов
- •2.4. Погрешности измерений
- •2.5. Лабораторное задание
- •3. Исследование динамических характеристик сердечников с ппг
- •3.1. Цель работы
- •3.2. Подготовка к работе
- •3.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •3.4. Погрешности измерения
- •3.5. Лабораторное задание
- •4. Исследование частотных свойств стандартных резисторов и конденсаторов
- •4.1. Цель работы
- •4.2. Подготовка к работе
- •4.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •4.4. Погрешности измерений
- •4.5. Лабораторное задание
- •5. Исследование приборов индикации
- •5.1. Цель работы
- •5.2. Подготовка к работе
- •5.3. Лабораторной стенд и методика измерений
- •5.4. Лабораторное задание
- •5.5.Простейшие, устройства отображения информации
- •6. Исследование оптоэлекгронных ксшутационкых элементов
- •6.1. Цель работы
- •6.2. Подготовка к работе
- •6.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •6.4. Лабораторное задание
- •6.5. Классификация и области применения коммутационных устройств
- •Коммутационные устройства
- •6.7. Промышленные типы оптоэлектронных коммутаторов
- •Библиографический список
- •Приложение
- •1. Инструкция по эксплуатации куметра вм-560
- •2. Инструкция по эксплуатации полуавтоматического универсального моста вм-509
- •3. Упрощенная процедура многофакторного эксперимента
- •4. Процедура статистической обработки результатов эксперимента
- •5. Содержание отчета
- •6. Определение коэффициента корреляции
2.4. Погрешности измерений
Осциллограф
C1-72
позволяет измерить напряжение с
погрешностью, не превышающей ± 10%,
если амплитуда
напряжения лежит в пределах 40 мВ - 60 мВ,
>
0,2 мкс, f
n>2
мГц, размах изображения на экране трубки
2-6 делений.
Погрешность измерения также не превышает ± 10%, если =0,2 мкс - 5 мс/дел.
Если размеры сердечника ls, Sc , число витков N1 и величина сопротивления R2 измерены с точностью ± 3%, то среднеквадратичная погрешность измерения приращения индукции ∆В не превышает ± 15%, приращения напряженности поля ∆Н = ±11%, импульсной магнитной проницаемости = ±19%.
Погрешность измерения индуктивности мостом ВМ-609 не превышает ± 2%.
2.5. Лабораторное задание
2.5.1. Познакомиться с конструкторской документацией и промышленными образцами импульсных трансформаторов.
2.5.2. Для одного из трансформаторов партии ИТ1:
I)
исследовать
зависимость
от ∆В npu
=const,
=const.
Для
этого необходимо
напряжение на входе ИТ изменять в
пределах U
вых = (0...5)В и измерять падение напряжения
на резисторе R2.
После этого по формулам расчета рассчитать
∆В, ∆Н и
;
2) исследовать
зависимость
от
npu
∆В =const,
=const.
Для этого необходимо установить
максимальное напряжение
на входе ИТ и
минимальную длительность входного
сигнала (
вх
= 5...20 мкс) и измерить падение напряжения
на резисторе R2.
После этого, увеличивая
вх
пропорционально, необходимо уменьшать
Uвх
для обеспечения ∆В
= const.
.Импульсная магнитная проницаемость
рассчитывается по известным формулам;
3) исследовать зависимость от npu =const, ∆В=const.
Для этого необходимо установить UBx =ЗВ, =10мкс и изменять частоту следования импульсов в пределах Fн = 100 кГц.....500 кГц и измерять падение напряжения на резисторе R2;
4) измерить для партии трансформаторов ИТ1 при постоянных , , ∆В, построить гистограмму распределения и определить оценку математического ожидания, дисперсию, среднеквадратичное отклонена и поле допуска (см. приложение, разд.4);
5) качественно просмотреть влияние Rн и Сн на искажения импульса.
2.5.3. Исследовать зависимость индуктивности рассеивания трансформаторов на ферритовом сердечнике от размеров однослойных обмоток и расстоянии между центрами партии ИТ2, используя метод планирования факторного эксперимента (см.приложение, разд.З.). Содержание отчета приведено в приложении, разд.5.
3. Исследование динамических характеристик сердечников с ппг
3.1. Цель работы
Определение, основных динамических параметров ферритовых сердечников с прямоугольной петлей гистерезиса (ППГ), разброса динамического коэффициента прямоугольности, ознакомление с конструкцией матриц запоминающих устройств на ферритовых сердечниках.
3.2. Подготовка к работе
Пользуясь литературой (3) , АОМ на ЭВМ CM1420, а также приложением необходимо ознакомиться с принципом работы элементов памяти на ферритовых сердечниках, процессами в ферритах при перемагничивании , параметрами сердечников, конструкцией матриц памяти, изучить лабораторное задание и методику измерения динамических параметров сердечников. При этом следует дать ответы на следующие вопросы:
1. Каковы основные параметры петли гистерезиса?
2. Как и почему изменяется время перемагничивания и амплитуда выходного импульса от напряженности поля?
3. Может ли быть время перемагничивания меньше длительности фронта выходного импульса?
4. Что называется полем старта?
5. Какие физические явления происходят в феррите при его перемагничивании по петле гистерезиса?
6. Когда перемагничивание сердечника происходит по частному циклу?
7. Как определяются коэффициент перемагничивания и максимальное дифференциальное динамическое сопротивление сердечников?
8. Каков принцип работы лабораторного стенда?
9. Какие марки ферритов позволяют получать максимальное быстродействие элементов памяти?
10. Каковы конструктивные разновидности матриц памяти на сердечниках из ферритов с ППГ?
