- •Оглавление
- •I. Исследование линий задержки
- •1.1. Цель работы
- •1.2. Подготовка к работе
- •1.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •1.4. Лабораторное задание
- •1.7. Ультразвуковые линии задержки с пьезоэлектрическими преобразователями
- •1.8. Линии задержки на поверхностных акустических волнах
- •2.1. Цель работы
- •2.2. Подготовка к работе
- •2.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •2. Исследование импульсных трансформаторов
- •2.4. Погрешности измерений
- •2.5. Лабораторное задание
- •3. Исследование динамических характеристик сердечников с ппг
- •3.1. Цель работы
- •3.2. Подготовка к работе
- •3.3. Лабораторный стенд и методика измерения
- •3.4. Погрешности измерения
- •3.5. Лабораторное задание
- •4. Исследование частотных свойств стандартных резисторов и конденсаторов
- •4.1. Цель работы
- •4.2. Подготовка к работе
- •4.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •4.4. Погрешности измерений
- •4.5. Лабораторное задание
- •5. Исследование приборов индикации
- •5.1. Цель работы
- •5.2. Подготовка к работе
- •5.3. Лабораторной стенд и методика измерений
- •5.4. Лабораторное задание
- •5.5.Простейшие, устройства отображения информации
- •6. Исследование оптоэлекгронных ксшутационкых элементов
- •6.1. Цель работы
- •6.2. Подготовка к работе
- •6.3. Лабораторный стенд и методика измерений
- •6.4. Лабораторное задание
- •6.5. Классификация и области применения коммутационных устройств
- •Коммутационные устройства
- •6.7. Промышленные типы оптоэлектронных коммутаторов
- •Библиографический список
- •Приложение
- •1. Инструкция по эксплуатации куметра вм-560
- •2. Инструкция по эксплуатации полуавтоматического универсального моста вм-509
- •3. Упрощенная процедура многофакторного эксперимента
- •4. Процедура статистической обработки результатов эксперимента
- •5. Содержание отчета
- •6. Определение коэффициента корреляции
4.3. Лабораторный стенд и методика измерений
В лабораторный стенд входят измеритель импеданса ВМ-508, образцы стандартных резисторов и конденсаторов. Измеритель импеданса ВМ-508 позволяет измерить модули сопротивления и фазовые углы в пределах 1Ом - 100 кОм и 0 - 360° соответственно на частотах 0,5 - 110 мГц.
Исследуемый элемент питается высокочастотным током постоянной амплитуды от высокочастотного генератора. Напряжение на элементе пропорционально модулю сопротивления |Z| и после преобразования и усиления подается на стрелочный индикатор. Фазовый угол , представляющий собой угол сдвига фаз между током, протекающим через элемент, и напряжением, измеряются фазометром со стрелочным индикатором.
Граничные частоты исследуемых элементов представляются как частоты, на которых уменьшается в 2 раза по сравнению с низкочастотными значениями или модуль сопротивления (для резисторов) или фазовый угол (для конденсаторов).
4.4. Погрешности измерений
Погрешность измерения модуля сопротивления не превышает ± (4-20%), а фазового угла- ± (3 -20%).
Максимальное значение погрешностей соответствует максимальным модулям сопротивления и рабочим частотам.
4.5. Лабораторное задание
4.5.1. Изучить конструкции стандартных резисторов и конденсаторов по образцам и стендам.
4.5.2. Исследовать зависимости модуля сопротивления и фазового угла от частоты для углеродистых, металлопленочных и композиционных резисторов одинакового номинала.
4.5..3. Исследовать зависимости модуля сопротивления и фазового угла от частоты для металлопленочных резисторов: разных номиналов, но одинаковой номинальной мощности; одинакового номинала, но разной номинальной мощности.
4.5.4. Измерить модуль сопротивления и граничную частоту для 30 металлопленочных резисторов одинакового номинала и номинальной мощности, определить коэффициент корреляции между модулем сопротивления к граничной частотой (см. приложение, разд.4).
4.5.5. Исследовать зависимость фазового угла от частоты для слюдяных, керамических, металлопленочных, металлобумажных конденсаторов неодинаковой номинальной емкости. На одной из часто соответствующей области уменьшения фазового угла, рассчитать значение эквивалентного сопротивления обкладок в последовательной схеме замещения для всех исследуемых конденсаторов по формуле
Содержание отчета приведено в приложении, разд.5.
5. Исследование приборов индикации
5.1. Цель работы
Ознакомление с принципом действия и основными характеристиками простейших устройств отображения информации (приборов индикации).
5.2. Подготовка к работе
Пользуясь литературой [б,7] , АОМ на ЭВМ CMI420, а также приложением, разд.7, необходимо ознакомиться с разновидностями, конструкциями и основными характеристиками приборов индикации. При этом следует дать ответы на следующие вопросы:
1. Какие факторы определяют люминисценцию в твердых телах?
2. Что называется электролюминисценцией и, в каких твердых телах она наблюдается?
3. Как устроен простейший электролюминисцентный прибор, на каком принципе он работает?
4. Какими основными параметрами характеризуются электролюминисцентные индикаторы?
5. В чем суть индикационной люминесценции?
6. Какие полупроводниковые материалы используются для изготовления инжекционных индикаторов?
7. Какие известны конструкции индикаторных устройств на светодиодах?
8. В чем суть катодолюминисценции?
9. Как устроены катодолюминисцентные приборы (индикаторы), какими параметрами они характеризуются?
10. Какие известны конструкции газоразрядных индикаторов, какими параметрами они характеризуются?
11. Как устроены накальные индикаторы, какими параметрами сил характеризуются?
