- •2.1 Общие вопросы применения микропроцессоров в измерительной технике
- •2. Улучшение метрологических характеристик приборов
- •4. Принципы автокалибровки
- •5. Целесообразность применения микропроцессоров
- •6. Причины, сдерживающие применение микропроцессоров
- •Архитектура измерительных систем с мп и микроЭвм
- •Подсистема ввода-вывода.
- •Контроллер периферийных событий.
- •Общие сведения
- •Сопряжение ацп с микропроцессором
- •Микропроцессорный время - импульсный вольтметр Первоначальный вариант вольтметра.
- •Лекция 5 Интеллектуальные измерительные и функциональные генераторы
- •5.1 Современная технология построения измерительных и функциональных генераторов
- •5.2 Формирователи синусоидальных сигналов из треугольного
- •5.3 Микросхема функционального генератора мах
- •(Вид сверху)
- •5.4 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы Wavetek Meterman
- •5.5 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы метех
- •5.6 Программа стыковки приборов метех с компьютером
- •Универсальный мультиметр комплексов
- •Лекция 6 Интеллектуальные портативные цифровые осциллографы
- •Миниатюрные осциллографы объединения актаком
- •Портативные осциллографы фирмы Flulke
- •Скопметры Fluke 105b/99b/96b/92b
- •Графические мультиметры-осцйллографы фирмы веетесн
- •Портативный осциллограф hps40
- •Панельный осциллограф vps10
- •Малогабаритный цифровой осциллограф aps 320
- •Портативный осциллограф-мультиметр dmm-740
- •Портативные осциллографы корпорации Tektronix Серия осциллографов Tektronix ths700
- •Серия осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024
- •Портативные осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024 с Цифровым люминофором
- •Цифровые осциллографы — ноутбуки фирмы Hitachi
- •Лекция 7
- •7.1 Назначение виртуальных осциллографов и их типы
- •7.2 Виртуальные осциллографы в виде плат расширения пк
- •7.3 Анализатор спектра виртуального осциллографа фирмы
- •7.5 Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman Функциональные измерительные генераторы
- •Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman
- •7.6 Создание компьютеризированной лаборатории pc-Lab 2000
- •8.1 Измерительная система и развертывание лаборатории
- •8.2 Автоматические измерения и определяемые параметры сигналов
- •8.3 Предоставление результатов измерений
- •8.4 Настройка графиков
- •8.5 Просмотр табличных данных
- •8.7 Универсальная система сбора данных edx-100a
- •9.1 Интеллектуальные средства измерения магнитных параметров материалов
- •9.2 Интеллектуальные средства измерения линейных и угловых размеров
- •Электромеханический метод
- •Интерферометрический метод
- •9.3. Интеллектуальные средства измерения
- •Характеристики измеряемой величины, классификация методов измерений
- •9.4 Интеллектуальные средства измерения концентрации вещества
9.4 Интеллектуальные средства измерения концентрации вещества
Общие вопросы аналитических измерений
Аналитические измерения, задачей которых является определение состава и концентрации веществ, широко применяются для контроля технологических процессов, в химических, биологических, геологических, космических исследованиях, в сельском хозяйстве, медицине, криминалистике и в ряде других областей. Объектами рассматриваемых измерений практически являются все существующие вещества и химические элементы, которые могут находиться в различных агрегатных состояниях. О масштабности аналитических измерений говорит тот факт, что только в химической промышленности необходимо производить анализ более 75 тысяч различных веществ и материалов. Особое значение аналитические измерения имеют для охраны труда и решения проблемы охраны среды обитания. Диапазон измеряемых концентраций чрезвычайно широк. Так, для измерения влажности и концентрации ряда чистых веществ в производственных условиях требуются приборы с верхним пределом измерения 100%. При изготовлении полупроводниковых материалов, волоконных световодов и чистых металлов необходимо определять примеси, концентрация которых составляет 10 -6— 10 -8 %. Развитие новых отраслей науки и техники, технология производства новых материалов и веществ с наперед заданными свойствами выдвигают все возрастающие требования к аналитическим измерениям. Например, при исследовании материалов для ядерной энергетики необходимо определять примеси, концентрация которых не превышает 10-10%.
Регулирование ряда сложных технологических процессов по косвенным параметрам (расход, температура, давление) уже недостаточно эффективно — требуются быстродействующие и точные средства измерений, которые в составе автоматизированных систем управления технологическими процессами обеспечивали бы измерения параметров, непосредственно определяющих состав и свойства вырабатываемых материалов.
Множеств анализируемых веществ и широкий диапазон измеряемых концентраций обусловили возникновение многочисленных и чрезвычайно разнообразных методов, основанных на использовании различных физико-химических явлений и свойств вещества. Все более широко используются внутриатомные и внутриядерные эффекты, позволяющие создавать наиболее чувствительные и избирательные методы анализа.
Особенностью аналитических измерений является сильная зависимость результатов измерений от общего состава вещества, его агрегатного состояния, внешних условий (давление, температура, скорость перемещения и др.). Эти факторы особенно влияют на точность методов, основанных на использовании интегральных свойств вещества, таких, как электропроводность, теплопроводность, магнитная и диэлектрическая проницаемость. Все это ограничивает возможности таких отдельно взятых методов измерений, каждый из которых, за небольшим исключением, пригоден для измерения концентрации одного компонента при известном и не особенно сложном составе анализируемой смеси.
Современная тенденция развития аналитического приборостроения— это более широкое применение селективных, комбинированных, и многопараметрических методов, которые позволяют создавать чувствительные и точные средства определения состава и измерений концентраций многокомпонентных веществ. Селективные методы в отличие от интегральных позволяют переходить от измерения свойств веществ в целом к определению характеристик отдельных компонентов. Среди них особенно перспективны многие спектрометрические методы, основанные на использовании «глубинных» внутриатомных и ядерных явлений, на которые практически не влияют изменения внешних условий.
Для анализа многокомпонентных веществ широко применяются комбинированные методы, такие, как масс - спектрометрическйё, хроматографические и их сочетание или многопараметрический метод, основанный на одновременном или последовательном измерении ряда параметров исследуемого вещества и совместной математической обработке полученных результатов для определения концентрации каждого компонента. Успешному использованию этих методов способствует широкое применение средств вычислительной техники как для автоматизации самого процесса измерения, так и для обработки результатов измерений. Встроенные микропроцессоры и микро-ЭВМ позволяют не только повысить точность аналитических измерений, но и существенно увеличить быстродействие комбинированных средств измерений, которые применяются не только для научных исследований, но и в автоматизированных системах управления технологическими процессами.
Метод инфракрасной спектроскопии (ИК)- В этом методе используется избирательное поглощение различными веществами излучения в инфракрасной области спектра. Для анализа газов широкое распространение получила разновидность ИК-спектро-скопии — оптико-акустический метод, основанный на избирательном поглощении различными газами модулированного низкой частотой инфракрасного излучения и преобразовании возникаю-- щих акустических колебаний в электрические сигналы. Высокая чувствительность и избирательность метода обусловлены тем что приемник излучения, прошедшего через анализируемую газовую смесь, заполнен именно тем газом, концентрации которого измеряется. Этот метод широко применяется для анализа большинства двухатомных газов и паров, которые имеют характерные полосы поглощения в инфракрасной области спектра ( λ=0,74 мкм...2 мм). Для анализа 02, N2) Cl2 и паров ртути используется избирательное поглощение этими веществами радиации в ультрафиолетовой области спектра.
Лазерное излучение по сравнению с другими позволяет на несколько порядков повысить чувствительность оптико-акустических анализаторов, что дает возможность применять их для исследования широкого класса вещества с коэффициентами поглощения 10-10—105 см-1, находящимися в различных агрегатных состояниях в диапазоне температур 2—1000К. ИК- оптико-акустическая спектроскопия может быть также успешно использована для определения концентрации твердых и жидких веществ на основе измерения объемного коэффициента поглощения непрозрачных материалов. На рисунке 5 показана схема прибора для измерения концентрации сульфатов, которые играют значительную роль в загрязнении водной и воздушной среды. Прибор состоит из перенастраиваемого в диапазоне 9—11,5 мкм лазера 1 на изотопах 12С02 и 13С02 мощностью 10—500 мВт, анализатора спектра 2, прерывателя 3, рабочей камеры 4 с микрофоном 5, камеры сравнения 6 со стандартным образцом 7 и микрофоном 8, двух
фазочувствительных детекторов 9, измерителя отношения 10 с микро ЭВМ. Анализируемый твердый или жидкий образец помещается в акустически изолированную камеру 4, заполненную газом, и освещается прерываемым с частотой 10—104 Гц излучением лазера. Возникающий оптико-акустический сигнал, детектируемый с помощью микрофона, пропорционален амплитуде колебаний температуры на поверхности образца в, которая, в свою очередь, пропорциональна коэффициенту поглощения исследуемого вещества а (λ):
где J — интенсивность излучения на длине волны λ; f — частота прерывания излучения; р — плотность и С — удельная теплоемкость исследуемого вещества.
Рисунок 5 – Схема для измерения концентрации сульфатов
При использовании электретных микрофонов и нерезонирующих кювет погрешность воспроизводимости результатов измерений при анализе твердых образцов составляет доли процента, а жидких образцов — менее 2%. Порог чувствительности при анализе ионов SO24- в водном растворе составляет 1 —10 мг/л, что соответствует содержанию сульфата в незагрязненной воде.
Метод ИК - спектроскопии используется для измерения влажности, особенно в жидких средах. Метод позволяет измерять влажность от 3·10- 4%. Используется область длин волн λ = 0,83... 0,95 мкм.
Фотоколометрическии метод, при котором концентрация определяется по интенсивности окраски анализируемого вещества или индикатора, взаимодействующего с исследуемым компонентом вещества. Метод широко применяется для измерения концентрации жидких и газообразных веществ в окрашенных средах. Существуют две разновидности метода: метод спектрального отражения, основанный на изменении светового потока, отраженного от поверхности индикатора, в результате селективной цветовой реакции между измеряемым компонентом и активным веществом индикатора, и метод селективного поглощения, основанный на изменении оптической плотности раствора, взаимодействующего с измеряемым компонентом. Отраженный от индикатора или прошедший через раствор световой поток обычно измеряется при помощи дифференциального фотоэлектрического детектора.
На рисунок 6 показана схема фотоколориметрического газоанализатора, основанного на зависимости интенсивности окраски индикаторной ленты / от концентрации измеряемого компонента. В приборе использован метод сравнения светового потока лампы накаливания 2, отраженного от индикаторной ленты, с прямым световым потоком от той же лампы при помощи фотоэлементов Ф1 и Ф2 и цепи автоматического уравновешивания. Порог чувствительности газоанализатора 10-5% объемных, основная погрешность ±10%. Продолжительность одного цикла измерения 2,5; 5 и 10 мин.
Ленточные газоанализаторы главным образом применяются для измерения микроконцентраций широкого класса газов (С12, S02, H2S, HN3, NO, NO2 и др.). так как такие приборы обладают высокой чувствительностью, обусловленной возможностью накопления окрашенных веществ в течение некоторого времени (цикла измерения). Выбирая различные индикаторные вещества, реаги-
Рисунок 6- Схема фотоколориметрического газоанализатора
рующие на определенный компонент газовой смеси, можно получить высокую избирательность.
В современных ленточных фотоколориметрах используются тестовые ленты, на которые наносятся десятки различных компонентов, что дает возможность одновременно определить концентрации большого числа компонентов анализируемого вещества. Изменение окраски ленты определяется фотометром, и путем сравнения со стандартными образцами получают информацию, по которой с помощью встроенного микропроцессора рассчитывается концентрация исследуемых компонентов.
Хемилюминесцентный метод анализа, являющийся интенсивно развивающейся разновидностью электрооптического метода, основан на измерении интенсивности оптического излучения, возникающего в результате реакции анализируемого компонента с хемилюминесцентный веществом. В качестве последнего, например, при определении концентрации оксидов азота используется озон:
NO + 03->NO*2 + 02.
В результате такой реакции молекулы диоксида азота переходят в возбужденное состояние и излучают кванты света:
N02->N03 + h v.
По интенсивности возникающего при этом светового излучения определяется концентрация оксидов азота в многокомпонентных смесях. Метод отличается высокой чувствительностью и избирательностью.
Существует ряд электрооптических приборов для определения концентрации веществ, основанных на измерении прозрачности вещества (нефелометры), коэффициента преломления света (рефрактометры), угла вращения плоскости поляризации света (поляриметры). Нефелометры применяются для определения концентрации веществ в мутных средах (дымномеры, пылемеры, мутномеры), а рефрактометры и поляриметры — в прозрачных средах, например для анализа растворов органических веществ.
Для повышения точности измерения обычно используются двухлучевые фотометры с общим источником излучения, световой поток которого попеременно пропускается через исследуемый и образцовый растворы. При этом результатом измерения является отношение коэффициентов пропускания, поглощения, преломления и т. д. Такие приборы могут использоваться при сортировке различных веществ. Структурная схема двухлучевого фотометра показана на рисунок 7. От источника света 1 свет с помощью вибрирующего зеркала 2 и зеркал 3 и 4 попеременно пропускается через измерительную 5 и сравнительную 6 кюветы, а затем с помощью зеркал 7, 8 и 9 направляется в оптоэлектронный преобразователь 10, выходной сигнал которого поступает на измерительно-вычислительное устройство с цифровым отсчетом 11.
Метод электронной спектроскопии. Метод основан на «вырывании» связанных электронов с внешней валентной или внутренних оболочек атомов и измерении энергии испускаемых частиц, энергетический спектр которых несет информацию о структуре и химическом составе вещества. В качестве источников ионизации используются либо фотоны (фотоионизация), либо электроны. В зависимости от механизма ионизации и вида испускаемых частиц электронная спектроскопия разделяется на спектроскопию фотоэлектронов, рентгеновскую спектроскопию и Оже-спектроскопию.
Фотоионизация является одноступенчатым процессом, при котором вся энергия фотона идет на вырывание фотоэлектрона. При этом между энергией фотона hf, энергией связи Ес вырываемого электрона и измеряемой энергией
Рисунок 7 –
испущенного фотоэлектрона Еш существует простая зависимость
h f = Ес + Еи
Рентгеновская и Оже-спектроскопия являются двухступенчатыми процессами с переходом электронов на внутренние оболочки, при которых испускается квант рентгеновского излучения или вторичный электрон (электрон Оже). Для переходов с энергиями выше 10 кэВ преобладает рентгеновское излучение, при меньших энергиях имеют место Оже - процессы, что характерно для легких элементов, у которых энергия перехода гораздо ниже 10 кэВ.
Электронная спектроскопия дает возможность определить химические сдвиги, на основании которых можно проводить анализ молекулярного и элементного состава и концентрации различных веществ. Достаточно большие сдвиги (свыше 10 эВ) обнаруживаются для всех элементов, что указывает на универсальность этого метода. Применяемая аппаратура включает в себя источник возбуждения, кювету для газообразных и твердых образцов, спектрометр и анализатор спектров с микро-ЭВМ. Анализу обычно подвергается поверхностный слой образца толщиной примерно 2·10 -7 м (20 А). Достигнутое разрушение составляет 0,2 эВ в газах и 0,5 эВ в твердых веществах.
