- •В.Ф. Сухова, д.А. Борисов физика полупроводников
- •Основы физики полупроводников Структура полупроводников. Зонная модель и модель ковалентной связи
- •Образование носителей заряда в собственных полупроводниках
- •Примесная электропроводность полупроводников
- •Закон действующих масс и принцип нейтральности полупроводника
- •Процессы электропроводности в полупроводниках
- •Дрейф носителей заряда
- •Диффузия носителей заряда
- •Собственное поглощение
- •Примесное поглощение
- •Оптические свойства полупроводников
- •Фоторезистивный эффект
- •Контакт полупроводников p- и n-типа
- •Образование электронно-дырочного перехода
- •Электронно-дырочный переход под прямым напряжением
- •Электронно-дырочный переход под обратным напряжением
- •Вольтамперная характеристика реального p-n перехода
- •Пробой электронно-дырочного перехода
- •Влияние температуры на ход вольтамперной характеристики p-n перехода
- •Лабораторные работы Лабораторная работа №1 Исследование вольтамперных характеристик p-n переходов с различной площадью переходов и шириной запрещенной зоны полупроводника
- •Описание лабораторной установки
- •Задания на лабораторную работу
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания
- •Лабораторная работа №2 Исследование влияния температуры на вольтамперную характеристику p-n перехода
- •Описание лабораторной установки
- •Задания на лабораторную работу
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания
- •Лабораторная работа №3 Исследование электрических режимов пробоя p-n перехода
- •Описание лабораторной установки
- •Задания к лабораторной работе
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания
- •Лабораторная работа №4 Исследование оптических свойств полупроводника
- •Описание лабораторной установки
- •Задания на лабораторную работу
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания
- •Библиографический список
- •Оглавление
Образование носителей заряда в собственных полупроводниках
Беспримесный и бездефектный полупроводник с идеальной кристаллической решеткой называется собственным полупроводником.
В собственном полупроводнике при температуре абсолютного нуля нет свободных носителей заряда, так как каждый валентный электрон связан с кристаллической решеткой ковалентными связями. Если такой кристалл поместить в электрическое поле, то ток в нем не возникнет. Таким образом, полупроводник при температуре 0 К ведет себя как диэлектрик.
Если нарушить идеальную структуру кристаллической решетки (например, передать электронам тепловую энергию, достаточную для разрыва ковалентных связей), то это приведет к одновременному образованию свободного электрона и незаполненной связи вблизи того атома, от которого оторвался электрон (рис. 4, атом под номером 4).
а
б
Рис. 4. Образование носителей заряда в полупроводнике:
а – модель ковалентной связи; б – зонная модель
Под действием тепловых колебаний свободный электрон хаотически перемещается между атомами кристаллической решетки. А что происходит с разорванной связью? Любой из электронов, связывающих атомы 4 и 5 с соседними атомами, может попасть на траекторию, с которой был выбит электрон, и восстановить полноценную связь между 4 и 5 атомами. Если, например, это произошло с электроном, связывающим атомы 4 и 7, то разорванная связь переместится в положение между ними. Получается, что разорванная связь подобно электрону хаотически перемещается между атомами.
Таким образом, у
кристалла появляется не одна, а две
возможности проводить ток. Первая –
это движение свободного электрона,
например, под действием электрического
поля. Вторая – направленное перемещение
электронов с орбит соседних атомов на
место образовавшейся пустой связи. Этот
второй механизм электропроводности
удобнее описывать как движение фиктивной
положительной частицы, дырки,
которая перемещается в направлении,
противоположном движению электрона.
Процесс образования электронно-дырочных
пар под действием фононов носит название
термогенерации. Количественно
он характеризуется равенством концентраций
дырок и электронов:
.
Полупроводники с такими свойствами
называют собственными, а их проводимость
– собственной (i – intrinsic
– собственный).
Образование свободных носителей заряда с точки зрения зонной модели полупроводника связано с переходом электронов из валентной зоны в зону проводимости. Для осуществления такого перехода электрон должен получить энергию, достаточную для преодоления запрещенной зоны полупроводника. Эту энергию электрон получает, например, от квантов тепла, а значит энергия фононов, не должна быть меньше ширины запрещенной зоны полупроводника.
Уход электронов в зону проводимости из валентной зоны приводит к появлению в ней незаполненного энергетического уровня. Вакантное место в валентной зоне принято называть дыркой (рис. 4, б), а сам процесс – генерацией носителей заряда, они при этом образуются парами. Наряду с генерацией происходит и процесс возвращения электронов из зоны проводимости в валентную зону на свободные уровни. При этом исчезают электрон в зоне проводимости и дырка в валентной зоне. Такое явление называют рекомбинацией носителей заряда.
В присутствии электрического поля валентные электроны соседних атомов могут переходить на свободные уровни, создавая дырки в другом месте, что может рассматриваться как движение положительно заряженных частиц – дырок. С точки зрения зонной модели электрический ток в полупроводнике связан с движением дырок в валентной зоне и электронов в зоне проводимости, причем ток дырок равен току электронов.
