- •Понятие о терминах «технология», «технологическая операция», «технологический процесс». Виды технологических операций.
- •Виды техпроцессов
- •Общая схема технологии производства микросхем. Подготовительные операции.
- •Подготовка подложек
- •Сущность метода осаждения пленок термическим вакуумным испарением. Упрощенная схема подколпачного устройства. Термическое вакуумное испарение (тви)
- •Критическая температура конденсации. Зависимость структуры пленки от температуры подложки.
- •6. Испарители. Виды и конструкции испарителей. Требования к материалам. Способы нагрева.
- •7. Испарение сложных материалов и сплавов. Реактивное испарение.
- •8. Сущность метода распыления материалов ионной бомбардировкой. Понятие о пороговой энергии.
- •9.Схема катодного распыления. Скорость распыления. Коэффициент распыления.
- •10.Схема вакуумной системы установки для напыления тонких пленок. Средства контроля вакуума. Ионизационный и термопарный вакуумметры.
- •Резистивный и кварцевый методы контроля параметров пленок. Назначение. Принцип действия. Применение.
- •12.Общая схема литографического процесса. Виды литографии
- •13.Позитивные и негативные фоторезисторы. Разрешающая способность. Фоточувствительность. Стойкость к воздействию агрессивных факторов.
- •1) Фоточувствительность
- •2) Разрешающая способность – r
- •14.Методы нанесения фоторезистивных покрытий. Операции совмещения и экспонирования. Контактная, бесконтактная и проекционная печать.
- •Центрифугирование Пульверизация
- •15.Формирование фоторезистивной маски. Операции проявления и термообработки. Удаление фотомаски. Особенности для негативного и позитивного фоторезиста.
- •17. Многопозиционные вакуумные установки для получения тонких пленок термическим вакуумным испарением
- •18 Технология изготовления толстопленочных микросхем. Схема технологического процесса.
- •19 Пасты для получения толстопленочных элементов микросхем. Трафаретная печать, вжигание элементов толстопленочных микросхем
- •20 Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем
- •21. Транзисторы (биполярные и униполярные ). Назначение. Технология изготовления.
- •В зависимости от корпуса мс и других различных факторов число этих операций доходит до 200.
- •22. Эпитаксия. Методы получения эпитаксиальных слоев.
- •23. Термическая диффузия примесей. Методы диффузии.
- •24. Ионное легирования. Преимщества и недостатки.
- •Тема 13
- •25. Особенности металлизации поверхности кремниевых структур.
7. Испарение сложных материалов и сплавов. Реактивное испарение.
Метод термического испарения и конденсации
Метод основан на термическом испарении различных сплавов. Возникающие при этом пары конденсируются на поверхности холодной подложки (рисунок). Энергия конденсирующих частиц составляет Е=К Т 0,1 - 0,3 эВ и соответствует температуре испаренных частиц. Степень ионизации испаряемого вещества практически равна нулю. Состав плёнки, получаемой в результате испарения и конденсации сплава в вакууме, сильно зависит от температуры испарения и отличается от состава исходного распыляемого вещества. Чтобы избежать изменения состава при испарении, применяют методы мгновенного (взрывного) испарения или испарения чистых исходных комплексов сплава из разных испарителей. В последнее время широко применяется испарение с помощью мощных электронно-лучевых пушек, что позволяет, применяя охлаждаемые тигли, испарять и тугоплавкие материалы.
Схема установки для термического осаждения с электронно-лучевым испарителем: 1- подложка, 2- электронно-лучевая пушка, 3- изолятор, 4- державка, 5- испаряемый материал
Испарение сплавов имеет ряд преимуществ перед другими методами: простота оборудования; высокая скорость нанесения покрытий (до 10 мкм/мин).
Недостатки данного метода: состав конденсирующейся плёнки отличается от исходного состава; мал коэффициент использования материала и.при достаточно большом давлении составляет 10-30%; низкие эксплуатационные характеристики покрытий (высокая пористость, невысокая адгезия покрытия к подложке); сложность нанесения тугоплавких материалов, карбидов, нитридов и др.; трудность получения однородных покрытий на деталях сложной формы.
8. Сущность метода распыления материалов ионной бомбардировкой. Понятие о пороговой энергии.
Распыление – это явление передачи момента импульса от налетающей частицы частицам поверхности мишени с последующим отрывом атомов или молекул и переводом их в вакуум.
Ионное распыление – метод вакуумного напыления, в котором осаждаемый атомарный поток получают в результате бомбардировки ускоренными ионами поверхности исходного напыляемого материала и последующей инжекции распыленных атомов в газовую фазу.
Характер взаимодействия бомбардирующих ионов с поверхностью твердого тела определяется их энергией. При энергиях меньших 5 эВ, взаимодействие ограничивается физически и химически адсорбированными слоями, вызывая их десорбцию и обуславливая протекание различных химических реакций. При кинетических энергиях, превышающих энергию связи атомов в кристаллической решетке, бомбардировка вызывает разрушение приповерхностного слоя и выброс атомов в газовую фазу (распыление). Минимальная энергия ионов, приводящая к выбиванию атомов с поверхности, называется пороговой энергией распыления. Значение ее находится в интервале энергий от 15 до 30 эВ.
Характеристикой процесса ионного распыления служит коэффициент распыления, определяемый количеством атомов, выбитых с бомбардируемой поверхности падающим ионом. При возрастании энергии бомбардирующих ионов свыше 100 эВ коэффициент распыления резко увеличивается и в области 5-10 кэВ выходит на насыщение. Дальнейшее повышение кинетической энергии свыше 100 кэВ приводит к снижению распыления, вызванному радиационными эффектами и внедрениями ионов в кристаллическую решетку. Распыление вызывается, в основном, передачей импульса энергии от бомбардирующей частицы атомам кристаллической решетки в результате серии последовательных столкновений. Передача импульса от падающих ионов происходит в первых атомных слоях решетки. Например, при бомбардировке поверхности поликристаллической меди ионами аргона с энергией 1000 эВ глубина проникновения равнялась трем атомным слоям.
Наибольшее распространение в качестве источника бомбардирующих ионов получил инертный газ аргон, имеющий массу, достаточную для распыления, и характеризующийся относительно малой стоимостью. В установках поток распыленных атомов создается либо в результате бомбардировки ионами плазменного разряда поверхности исходного напыляемого материала, находящегося под отрицательным потенциалом или являющегося катодом тлеющего разряда (ионно-плазменное распыление, разновидностями которого являются катодное, магнетронное распыления), либо за счет бомбардировки ускоренными ионами, эмитированными автономным источником (ионно-лучевое распыление).
Катодное распыление: в этом методе осаждения тонких пленок материал, который должен напыляться, используется в качестве катода в системе с тлеющим разрядом в инертном газе. Подложка, на которую нужно осадить пленку, располагается на аноде. Вакуумный объем, содержащий анод и катод, откачивают до давления 10-4 Па, после чего производят напуск инертного газа (обычно это Ar при давлении 1-10 Па). Для зажигания тлеющего разряда между катодом и анодом подается высокое напряжение 1-10 кВ. Положительные ионы газа, источником которых является плазма тлеющего разряда, ускоряются в электрическом поле по направлению к катоду и достигают его с большой энергией, возрастание которой происходит в прикатодной области (рис. ). В результате ионной бомбардировки материал с катода распыляется главным образом в виде нейтральных атомов, но частично и в виде ионов. Распыленное вещество конденсируется на всей окружающей площади, в том числе на подложках, расположенных на аноде. Скорость процесса напыления определяется удельной мощностью у поверхности мишени, размером зоны эрозии, расстоянием мишень-подложка, материалом мишени и давлением рабочего газа.
