Трансмісійний електронний мікроскоп

Переріз клітини бацили Bacillus subtilis ТЕМ, Tecnai T-12, Риска шкали – 200 нм

Перший практичний ТЕМ, на виставці в Німецькому музеї у Мюніхі, Німеччина

ТЕМ каталізатора кобальту (темні плями) на вугіллі карбонізованому при 850 ºС і доданий за методикою іонного обміну.

ТЕМ дислокацій

СЕМ зображення тонкого ТЕМ зразка перемеленого за допомогою FIB. Показана тонка мембрана підходить для дослідження в ТЕМ, проте при товщині ~300 нм не підходить для високо роздільного ТЕМ без подрібнення.

16