Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Быкова лабораторные фотолитография.docx
Скачиваний:
4
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
333 Кб
Скачать
☆

Лабораторная работа №6

Тема: Получение изображения в слое SiO2.

Цель работы: Провести задубливание экспонированных пленок фоторезиста (ФП-9120) в выбранном режиме.

Используемое оборудование и материалы: центрифуга для нанесения тонких слоев на подложки, фоторезист ФП9120, этиловый спирт для обезжиривания поверхности, проявитель КОН (4%), УФ лампа, сушильный шкаф, кремниевые пластинки со слоем SiO2, травитель HF + NH4F.

Теоритическая часть:

Выбор температуры задубливания, с одной стороны, ограничивается областью вязкого течения или температурой стеклования Tg, выше которой происходит сильное оплывание резиста и искажение элементов изображения, а с другой стороны, температурой, достаточной для протекания в фоторезисте реакций термического структурирования, обеспечивающих устойчивость к воздействию агрессивных сред. В идеальном случае температура задубливания не должна превышать температуру вязкого течения полимера или температуру стеклования Tg. Но большинство процессов задубливания проходит при температуре выше Tg. Так, для резиста на основе нафтохинондиазида ДХН температурный предел всех процессов, протекающих при задубливании ( − 70–110 °С) следующий:

(100–120 °С) – начало эндотермической реакции плавления новолачной составляющей ДХН; (130–140 °С) – экзотермическая реакция разложения нафтохинондиазида с выделением N2;

(140–150 °С) – заметное улучшение адгезии, одновременно слабое размягчение, которое лишь герметизирует границу раздела фоторезист – подложка;

выше 150 °С – жесткое задубливание, полное удаление растворителя; сильное оплывание резиста, хорошая пластификация; искажение профиля рисунка.

Все эти явления протекают совместно, связывая одно с другим по мере повышения температуры, и зависят друг от друга, часто препятствуя одно другому. Так, расплыванию резиста препятствуют адгезионные силы, возникшие при удалении растворителей и воды, и внутренние напряжения в резисте; плавление и сшивание конкурируют между собой. Поэтому выбор режима задубливания — это компромисс между стабилизацией резиста и его плавлением, между улучшением механических и физических свойств и ухудшением разрешения.

Рекомендуемые режимы задубливания:

ДХН – 100–150 °С

ПММА – 100–140 °С

негативные на основе полиизопрена – 125–150 °С.

Для резистов на основе ДХН (ФП-9120) рекомендуются методы задубливания:

ИК-сушка:

Сушильный шкаф:

75 °С – 6 мин,

95 °С – 6 мин,

110 °С – 10 мин,

130 °С – 18 мин.

85 °С – 10 мин,

110 °С –10 мин,

150 °С – 20 мин.

Варьированием температуры и времени задубливания можно придать пленке фоторезиста необходимые свойства.

Задубливание проводится такими же методами, что и сушка (см. разд. 4.3.). После задубливания пластины контролируются по величине клина, наличию проколов в пленке, неровности края рисунка.

Определение температур фазовых переходов проводят методами термогравиметрии (ТГ) и (ДТГ) в сочетании с методами термического анализа (ТА) и дифференциально-термического анализа (ДТА), термомеханическим методом, измеряющим деформацию молекул с температурой.

Термозадубливание – не единственный способ стабилизации резиста. Альтернатива к нему – облучение ДУФ или химическая обработка при комнатной температуре.

Экспериментальная часть:

  1. Подготовили кремниевые пластинки для нанесения фоторезиста путем обезжиривания поверхности этиловым спиртом.

  2. Нанесли фоторезист методом центрифугирования в течение 1мин. со скоростью 2000 оборотов/мин.

  3. Проводили предэкспозиционную сушку при Т=70°С, время сушки t= 40 мин

  4. Облучали пластину в течение 1 мин.

  5. Проявляли в растворе КОН 0,4%.

  6. Проводили задубливание пластин после экспонирования резистов в сушильном шкафу при выбранном режиме: для ФП-9120 при 140 °С в течение 30 минут.

  7. Провели травление SiO2 в окнах резистивной маски, в качестве травителя использовали раствор HF + NH4F. Травление проводили во фторопластовом стакане при комнатной температуре.

Пластины для травления использовали со сформированными окнами в слое задубленного резиста. После травления пластины промыли дистиллированной водой, подсушили и проверили визуально полноту удаления оксида. Конец травления четко можно определить по скатыванию капель травителя при достижении поверхности кремния — HF делает поверхность кремния гидрофобной.

Вывод: Провели задубливание экспонированных пленок фоторезиста (ФП-9120) в выбранном режиме, провели травление пластины до слоя кремния.