Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
005 1 Тун переход.doc
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
534 Кб
Скачать
☆

9. Влияние температры на туннельный ток

От температуры зависит ширина запрещенной зоны полупроводника Еg и положение уровней Ферми.

С повышением температуры ширина запрещенной зоны полупроводника уменьшается. Это приводит к уменьшению высоты потенциального барьера и увеличению вероятности туннелирования электронов. Следовательно этот фактор приводит к увеличению туннельного тока р-n-перехода.

С повышением температуры уровни ферми в вырожденных р- и n-полупроводниках смещаются в сторону запрещенной зоны. Если рассмотреть энергетическую диаграмму туннельного р-n-перехода на рис. 5в, то смещение уровней Ферми приводит к уменьшению числа заполненных электронами уровней в зоне проводимости n-области и уменьшению свободных уровней в валентной зоне р-области. А это приводит к падению числа электронов туннелирующих из n- в р-область и уменьшению туннельного тока.

Какой из факторов является преобладающим, зависит в основном от концентрации примеси. В сильно легированных полупроводниках определяющим фактором является уменьшение ширины запрещенной зоны Еg, в слабо легированных – смещение уровней Ферми.

ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ

  1. Описание лабораторной установки

Для изготовления туннельных p-n-переходов испльзуют такие полупроводниковые материалы как германий Ge, арсенид галлия GaAs и др. Эти полупроводники имеют различные значения ширины запрещенной зоны, эффективной массы электрона и т.д. Но для вида вольт-амперной характеристики туннельного p-n-перехода нибольшее значение имеют величины плотности состояний в зоне проводимости NC и валентной зоне NV. Эти величины при заданном значении концентрации легирующей примеси определяют положение уровня Ферми. Чем меньше величина NC или NV, тем больше значение ЕFn – ЕС или EV – ЕFр в вырожденном полупроводнике (рис. 8).

В лабораторной работе в качестве туннельных p-n-переходов используются германиевый и арсенид галлиевый туннельные диды, которые размещены в термостате. Подключение к измерительным цепям одного их диодов осуществляется переключателем «Диоды» с положениями «1» и «2».

Для снятия вольт-амперной характеристики используются стрелочные индикаторы: «Измерение V» с пределом 0,1 и 1 В; «Измерение J» с пределом 100 mA. Изменение напряжения смещения, подаваемого на диод, осуществляется ручкой «Регулировка U». Тумблер «Полярность U» с положениями «+» и «-» служит для подачи на диод прямого или обратного смещения. Нагрев диодов происходит при включении тумблера «Нагрев» и при достижении температуры 600С загорается сигнальная лампочка. Включение установки в сеть осуществляется тумблером «сеть вкл».

Исходное положение ручек управления: напряжение смещения в крайнем левом положении, тумблер «Полярность» в положении «+», тумблер «Нагрев» в положении «выкл», переключатель «Диоды» в положении «1».

  1. Порядок выполнения работы

Включить установку в сеть и прогреть в течении 5 минут.

  1. Исследование вольт-амперных характеристик p-n-переходов при комнатной температуре.

    1. Вращая ручку «Регулировка U» снять 10 – 12 точек прямой ветви характеристи ки. Обратить особое внимание на точки максимального и минимального значения туннельного тока. Ручку «Регулировка U» установить в крайнее левое положение.

    2. Тумблер «Полярность» установить в положение «-». Вращая ручку «Регулировка U» снять 5 – 7 точек обратной ветви характеристики.

    3. Повторить измерения для второго туннельного диода.

  1. Исследование вольт-амперных характеристик p-n-переходов при температуре 600С.

Включить тумблер «Нагрев». После загорания сигнальной лампочки повторить измерения п.1.

  1. По результатам измерений построить для каждого диода на одном графике вольт-амперные характеристики при комнатной температуре и при 600С.

  2. По графикам определить: а) полупроводниковый материал из которого изготовлен диод; б) величину отрицательного дифференциального сопротивления. (Ge: NС ≈ NV ≈ 1019 cм-3; GaAs: NС ≈ NV ≈ 1017 cм-3).

  3. Рассчитать прозрачность потенциального барьера используя следующие данные:

a) Ge Eg = 0.66 эВ, m*=1,49*10-30 кг

b) GaAs Eg = 1,42 эВ, m*=0,06*10-30 кг

ћ = 1,054*10-34 Дж*с h = 6,626*10-34 Дж*с d = 100 Å