- •Электротехника.
- •Часть II. Электроника
- •§ 1.1. Резисторы
- •Маркировка: с, сп
- •§ 1.2. Конденсаторы
- •1.3. Катушки индуктивности
- •2. Полупроводниковые электронные приборы
- •2.1.1. Теория p-n-переход в условиях равновесия
- •2.1.3. Вольт-амперная характеристика р - n-перехода
- •Полупроводниковые диоды
- •Биполярные транзисторы
- •2.1.4. Качественный анализ работы биполярного транзистора
- •2.1.5. Статические характеристики транзистора
- •2.1.6. Статические характеристики в схеме с оэ
- •2.1.7. Статические параметры транзисторов
- •2.1.8. Биполярный транзистор как четырехполюсник.
- •Полевые транзисторы
- •2.2.6. Полевые транзисторы с р—n- переходом
- •2.4. Полевые транзисторы на основе структур металл — диэлектрик –полупроводник
- •2.4.1. Устройство мдп транзистора
- •2.4.3. Уравнение для вольт-амперных характеристик мдп транзистора
- •2.4.4. Характеристики мдп транзистора
- •2.4.5. Параметры мдп транзистора Крутизна вольт-амперной характеристики
- •Сопротивление затвора
- •2.4.6. Частотные свойства мдп транзистора
- •Электронные усилители Характеристики усилителя
- •Искажения сигнала в усилителе.
- •Лекция Влияние отрицательной ос на ачх усилителя и коэффициент частотных искажений.
- •Влияние отрицательной ос на входное сопротивление усилителя.
- •Влияние оос на выходное сопротивление.
- •Лекция Влияние отрицательной обратной связи на нелинейные искажения и коэффициент гармоник.
- •Лекция Назначение каскадов предварительного усиления. Особенности их анализа и расчета.
- •Лекция Стабилизация режима работы транзисторов по постоянному току.
- •Компараторы напряжений.
- •Микропроцессоры
Биполярные транзисторы
2.1.4. Качественный анализ работы биполярного транзистора
Биполярными транзисторами называют полупроводниковые приборы с двумя или несколькими взаимодействующими электрическими p-n-переходами и тремя выводами или более, усилительные свойства которых обусловлены явлениями инжекции и экстракции неосновных носителей заряда.
Транзисторы представляют собой полупроводниковые кристаллы, состоящие из двух областей одного типа проводимости, разделенных областью другого типа проводимости — n—р—п- или р—п—р-структуры. Каждая из областей имеет омический контакт с внешними электродами. Напряжения подводятся к трем контактам таким образом, что переход
Рис. 2.8. Схемы включения транзисторов: а—с общей базой (ОБ); б — с общим эмиттером (ОЭ)
эмиттер — база смещен в прямом направлении, в то время как другой переход коллектор — база — в обратном направлении. Область, разделяющую эмиттер и коллектор, называют базой.
Возможно несколько способов включения транзисторов. Если общим электродом для входной и выходной цепей транзистора является база, то такое включение называют включением по схеме с общей базой (ОБ) (рис. 1.5, а). Однако эта схема, как будет дальше показано, не обеспечивает усиления по току, и на практике чаще используется схема с общим эмиттером (ОЭ) (рис. 2.8,6), которая обеспечивает усиление по току.
Рассмотрим одномерную модель р—п—р-транзистора (рис. 2.9) в схеме с ОБ. Соответствующие энергетические диаграммы для равновесного состояния и для нормального усилительного режима включения приведены на этом же рисунке. В нормальном усилительном режиме потенциальный барьер эмиттера понижается, и происходит инжекция дырок в базу и электронов в эмиттер.
Рис. 2.9. Схема включения и зонные диаграммы транзистора: а— в равновесном состоянии; б — в нормальном усилительном режиме.
Рис. 2.9, в. Схема движения носителей заряда в транзисторе
Обычно база транзистора легирована значительно меньше, чем слой эмиттера и коллектора, и pp >> nn. Поэтому электронной составляющей тока инжекции можно пренебречь, и весь ток через переход будет создаваться дырками. Носители, инжектированные эмиттером, проходят слой базы и, если толщина базы W достаточно мала (W<<Lp), доходят до коллекторного перехода и собираются им.
В случае тонкой базы рекомбинация дырок в ней будет мала и коллекторный ток практически равен инжектированному эмиттером. Небольшая разность между эмиттерным и коллекторным токами составляет ток базы, обусловленный электронами, пополняющими убыль электронов в базе при рекомбинации с дырками.
Эффективность эмиттера оценивают величиной коэффициента инжекции γ, равного отношению дырочного инжекционного тока к полному току эмиттера:
γ = Ipe/(Ine+ Ipe) = (1+ Ine/Ipe)-1 1- Ine/Ipe (2.13)
поскольку Ine/Ipe <<1. Используя выражения (1.10), (1.11) и соотношение Эйнштейна, получаем:
γ
=1-
,
(2.14)
где σn =qμnnn и σp =qμpnp — удельные проводимости базы и эмиттера.
Во время прохождения базы часть дырок р будет рекомбинировать в ней. Поэтому ток дырок, приходящих на коллектор, равен Ipc = γβIpe = αIe, где α — коэффициент передачи эмиттерного тока в схеме с ОБ,
β
= Ipc/Ipe
1-
— коэффициент переноса эмиттерного
тока, показывающий, какая часть
инжектированных эмиттером носителей
достигает коллектора.
Таким образом, чем меньше ширина базы W, тем большее количество неравновесных дырок будет достигать коллектора и увеличивать ток коллекторного перехода. В этом в общих чертах заключается механизм управления током коллекторного перехода при помощи тока эмиттерного перехода.
В р—п—р-транзисторе перенос тока осуществляется дырками. Для прибора n—р—n-типа результат аналогичен, но перенос осуществляется электронами и полярность напряжений Ve и Vc противоположная. И в том и в другом случаях ток переносится неравновесными неосновными носителями.
