10. Интервал варьирования при статич методах

планирования.

Это величина на которую нужно изменить тот или иной фактор в большую ( верхний уровень ) и меньшую ( нижний уровень )стороны от базового уровня. Интервалы варьирования факторов обычно составляют 15-30% численной величины этих факторов на базовом уровне. Учитывают: чтобы при реализации матрицы всезначения факторов возможно было реализовать и др факторы про этом находились в области своего существования; величина инт-ла (+1,-1) должна существенно превышать ошибку фиксирования этого фактора; интервал должен быть таким, чтобы обеспечивал изменение ф-ии отклика и это изменение экспериментатор должен зафиксировать.

11. Матрицы планирования. Сост-ся матрица планирования.

Всегда помнят о требованиях: сумма + и — в каждом столбце должна быть равна нулю ( условие симметричности матрицы); сумма произведений знаков одного столбца на соотв по строкам знаки любого другого столбца должна быть =0 ( условие ортогональности ); кол-во строк не должно быть меньше столбцов; матрица должна быть рототабельной, это значит что точность предсказания значений параметра оптимизации одинакова на равных расстояниях от центра экспер-та. Запись матриц

планирования громоздка. Для этого вводят коды матриц, включ один знак и букву латинского алфавита. С увелич числа факторов резко возрастает число опытов, т.к. планируем на двух уровнях, число опытов опр-ся n=2^j, j- число факторов. Число опытов при выполнении экспер-та с исп-ем дробных реплик опр-ся n=2^j-k , k- число эф-тов взаимод приравн к вновь вводимым факторам. Для оценки эф-тов взаимод польз-ся понятием определяющего

контраста- произведение

генерирующего фактора на генерирующего соотношение; и обобщающего опред контраста-произвед опред контрастов и им польз-ся если неск эф-тов взаимод приравн-ся к неск вновь вводимым факторам.

12. Функция отклика при планировании экспериментов.

Функция отклика или критерий оптимизации — это то по чему мы судим о процессе. Чаще всего обогатители оценивают процесс технико-экономич-ми показателями. Критерии

оптимизации бывают

технологические и экономические. К технол-им относятся все технологич-ие показатели

обогащения и их комбинации. Этими показателями пользуются при оптим-и осн циклов, межцикловых операций, а также в том случае, когда по тем или иным причинам невозможно взять данные по экономике процесса.( Критерий Ханкока ) Экономические более предпочтительны с точки зрения конечного рез-та, но они для своих расчетов требуют дополн инф-ии. ( Критерий Копотилова, критерий Разумова). Все экономич критерии оптим сложны.

13. Сипмлексный метод планирования. Техника

применения. Достоинства,

недостатки.

Начинают планирование с реализации опытов условия которых представляют правильный симплекс. Правильный симплекс- m+1 равноудаленных точек в одномерном пространстве, в двухмерном- равностор-й

треугольник, в трехмерном — тетраэдр. После проведения первой серии опытов выявляется точка (опыт ), отвечающая условиям, при которых получаются наихудшие результаты. Ее вычеркивают и вместо нее выполняют опыт, представл собой зеркальное отражение относит

противоположной грани симплекса. Результаты достроенного

симплекса опять анализируются опять вычеркивается худший опыт и т.д. Так продолжается до тех пор, пока не достигается почти стационарная область. При реализации исх серии опытов исп- ют матрицу вида А. Значения факторов в каждом опыте исх симплекса опр-ся по ф-ле: Xi_u=Xi_o + ki_u Si , где u- номер опыта, ki_u- значение коэф-та r_i или Ri, Si — интервал варьирования. После того как исходный симплекс построен реализуют план этой серии опытов. Затем проводят анализ полученных результатов и выявляют наихудший опыт из серии. После чего производится отражение

наихудшей точки относит центра противоположной грани и таким образом, находят условия проведения нового опыта взамен исключенного. Условия нового опыта опр-ся:

X_in+2=2 X_ic - Xij . где Ху -координата наихудшей точки, X_in+2 — корд новой точки. При исп-ии симплекс-планирования возможны ложные шаги в сторону, связанные с влиянием случайных причин, нарушающих процесс отражения, в этом случае возвращаются к педыдущему симплексу и вычеркивают след по наихудшести опыт. Этот метод более эф-вен чем метод крутого восхождения, однако он не позволяет оценить влияние каждого фактора в отдельности, что важно при технологических испытаниях.

x_iu =xi₀ +S_i -k^

Преимущ-вом яв-ся то, что на любом этапе планирования возможно ввести новый фактор, в этом случае симплекс необходимо настроить, т.е. число опытов будет на 1 больше. Условие для вновь вводимого фактора^;