- •Лабораторная работа №5 изучение явления дифракции лазерного излучения…………………………………………………………12
- •Лабораторная работа 3 определение радиуса кривизны линзы с помощью колец ньютона
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Лабораторная работа 4 изучение явления дифракции с помощью дифракционной решетки
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •I. Определение постоянной дифракционной решетки
- •Определение длины волны красной и фиолетовой линии в видимой части оптического спектра.
- •Лабораторная работа 5 изучение явления дифракции лазерного излучения
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Определение длины волны лазерного излучения
- •Определение ширины щели.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 изучение закона малюса
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •Измерение и обработка результатов
- •Примеры отсчета показаний по нониусу
- •Установка нуля
- •Определение нулевого угла
- •Результаты измерений концентрации растворов
- •Лабораторная работа 8 магнитное вращение плоскости поляризации света
- •Измерение и обработка результатов:
- •Вращая ручку окуляра, найдите такое положение, при котором поле зрения имеет наименьшую освещенность. Снимите показания на лимбе (с учетом нониуса) и занесите в таблицу 7.
- •Примечания:
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа 9 качественный спектральный анализ
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов
- •III. Определение постоянной Планка.
- •Контрольные вопросы
- •Описание установки
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа 11 изучение явления фотоэффекта с помощью вакуумного фотоэлемента
- •Теоретические сведения
- •Измерение и обработка результатов.
- •Определение зависимости фототока от величины падающего светового потока.
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Савельев и.В. Курс общей физики: в 3-х т. М.: Наука, 1982, т.3. Лабораторная работа 12 определение массы электрона и радиуса первой боровской орбиты атома водорода.
- •Теоретические сведения
- •Измерения и обработка результатов
- •Градуировка монохроматора.
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 14 определение показателя преломления и дисперсии оптически прозрачных сред
- •/1. Основные понятия и законы
- •2. Теория лабораторной работы Теоретические сведения
- •Устройство и принцип работы рефрактометра урл
- •Ход лучей в осветительной измерительной призмах.
- •Измерения и обработка результатов.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 15 определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •Теоретические сведения.
- •1. Образование носителей в собственных полупроводниках.
- •Проводимость полупроводников и металлов.
- •Зависимость концентрации носителей заряда в полупроводниках и металлах от температуры.
- •I. Снятие вольтамперной характеристики полупроводника при комнатной температуре т0 (значение т0 определяется в лаборатории) .
- •II. Исследование температурной зависимости электропроводности полупроводника.
- •3. Отключите установку от сети.
- •4. В процессе нагрева образца снимается зависимость тока от напряжения и по полученным данным находится значение
- •Контрольные вопросы
Измерение и обработка результатов.
Исследование зависимости силы фототока от анодного напряжения.
Вакуумный фотоэлемент поместите на расстоянии r1 0,15 - 0,25 м (по указанию преподавателя) от лампы осветителя.
2. Увеличивая анодное напряжение, начиная от нуля до 250 В через каждые 25 В снимите зависимость силы фототока от анодного напряжения.
3. Аналогичные измерения произведите, поместив вакуумный фотоэлемент на расстоянии r2 0,35 - 0,45 м от лампы осветителя.
4. Данные измерений занесите в таблицу 1.
Таблица 1.
Номер измерения |
r1 ..., м |
r2 ..., м |
||
Uа В |
Iф , мкА |
Uа , В |
Iф , мкА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5. |
|
|
|
|
6. |
|
|
|
|
7. |
|
|
|
|
8. |
|
|
|
|
9. |
|
|
|
|
10. |
|
|
|
|
5. По полученным
данным на одних и тех же координатных
осях постройте графики зависимости
для двух фиксированных значений r..
6. По графикам определите ток насыщения Iнас. для обоих значений r..
Определение зависимости фототока от величины падающего светового потока.
Установите определенное значение анодного напряжения в пределах 200- 250 В (по указанию преподавателя).
Увеличивая расстояние между источником света и фотоэлементом начиная от 0,15 м до 0, 65 м через каждые 0,05 м, снимите зависимость силы фототока от расстояния до источника света. Данные занесите в таблицу 2.
Таблица 2.
Номер измерения |
Uа, В |
|
r, м |
Iф, мкА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5. |
|
|
6. |
|
|
7. |
|
|
8. |
|
|
9. |
|
|
10. |
|
|
11. |
|
|
3. Постройте график
при
постоянном анодном напряжении.
4. Определите чувствительность фотоэлемента по формуле
для нескольких значений Iфото и соответствующих Ф.
