- •Рецензенты:
- •Введение
- •1. Классификация спектроскопических методов
- •2. Природа атомных и молекулярных спектров
- •2.1. Основы теории атомных спектров
- •2.1.1. Основные положения
- •2.1.2. Серийная структура линий атомных спектров
- •2.1.3. Многоэлектронные системы с одним или несколькими валентными электронами
- •2.1.4. Особенности атомных спектров
- •Для атома натрия.
- •2.2. Основы теории молекулярных спектров
- •2.2.1.Вращательные и колебательные спектры молекул
- •2.2.2. Электронные спектры молекул
- •2.2.3. Влияние различных факторов на положение и интенсивность полос в электронном спектре
- •3. Основные способы количественных определений спектроскопическими методами
- •4. Методы атомной спектроскопии
- •4.1. Атомно-эмиссионная спектроскопия
- •4.1.1. Процессы возбуждения эмиссионного атомного спектра
- •4.1.2. Интенсивность излучения спектральных линий
- •4.1.3. Основы количественного спектрального анализа
- •4.1.4. Аппаратура
- •Источники света
- •Монохроматор
- •Приемники излучения
- •4.1.5. Практические работы
- •Контрольные вопросы
- •4.2. Атомно-эмиссионная фотометрия пламени
- •4.2.1. Аппаратура
- •1 − Анализируемый раствор; 2 − распылитель; 3 − слив; 4 − рефлектор;
- •5 − Горелка; 6 − диафрагма; 7, 8 − конденсоры; 9 − интерференционный светофильтр; 10 − линза; 11 − защитное стекло; 12 − фотоэлемент;
- •13 − Усилитель;
- •1 − Катод; 2 − эмиттер;
- •3 − Анод
- •4.2.2. Пламенный источник атомизации и возбуждения
- •4.2.3. Факторы, влияющие на результаты пламенно-фотометрических определений
- •4.2.4. Порядок проведения анализа методом эмиссионной фотометрии пламени на спектрометре
- •4.2.5. Практические работы
- •Контрольные вопросы
- •4.3. Атомно-абсорбционная спектрофотометрия
- •4.3.1. Теоретические основы метода
- •4.3.2. Аппаратура
- •4.3.3. Основы количественного анализа
- •4.3.4. Практическое применение
- •4.3.5. Порядок проведения атомно-абсорбционного анализа на спектрометре «SolAAr s2»
- •4.3.6. Практические работы
- •Контрольные вопросы
- •5. Молекулярная абсорбционная спектрофотометрия
- •5.1. Общая характеристика метода
- •5.2. Основной закон светопоглощения
- •5.3. Молярный коэффициент поглощения
- •5.4. Выбор оптимальных условий фотометрического определения
- •5.5. Аппаратура и техника фотометрических измерений
- •5.6. Практические работы
- •6. Задачи по спектроскопическим методам анализа
- •6.1. Решение типовых задач
- •6. 2. Задачи для самостоятельного решения
- •Литература
Введение
1. Классификация спектроскопических методов
Спектроскопические методы анализа основаны на взаимодействии электромагнитного излучения с веществом, приводящем к различным энергетическим переходам – электронным, колебательным, вращательным, а также переходам, связанным с изменением направления магнитного момента электронов или ядер.
В зависимости от частиц, формирующих аналитический сигнал, различают методы молекулярной и атомной спектроскопии, а в зависимости от характера формирования аналитического сигнала – эмиссионные, абсорбционные и люминесцентные методы.
Электромагнитное излучение представляет собой вид энергии, распространяющейся в вакууме со скоростью около 300 000 км/с, которая может выступать в форме ультрафиолетового, видимого, инфракрасного излучения, микро- и радиоволн, гамма- и рентгеновских лучей (рис. 1.1).
Рис. 1.1. Области электромагнитного спектра
Электромагнитное
излучение имеет двойственную природу
(волновую и квантовую), поэтому может
быть охарактеризовано волновыми (длина
волны – λ,
частота колебаний – ν,
волновое число –
)
и квантовой (энергия кванта – Е)
характеристиками.
Длина волны λ – расстояние, которое проходит электромагнитная волна за время одного периода. В СИ измеряется в метрах (м) и его долях - сантиметрах (см), миллиметрах (мм), нанометрах (1 нм = 10–9 м). До введения СИ длину волны выражали в ангстремах (1 Å = 0,1 нм = 10–10 м).
Период Т – время (с), в течение которого совершается полный цикл изменения напряженности электромагнитного поля.
Частота колебаний ν – число колебаний в секунду. Измеряется в герцах (Гц), килогерцах (1 кГц = 103 Гц), мегагерцах (1 мГц = 106 Гц) и т. д.
Длина волны и частота колебаний связаны между собой соотношением:
(1.1)
где с — скорость света (3·1010 см/с).
Волновое число – величина, обратная длине волны. Обычно измеряется в обратных сантиметрах (см–1).
Энергия Е единичного кванта связана с длиной волны или частотой электромагнитного излучения уравнением Планка:
(1.2)
где: h – постоянная Планка (6,62.10–34, Дж ·с).
Уравнение показывает: чем меньше длина волны излучения, тем больше энергия (Е) единичного кванта.
Излучение называется монохроматическим, если его фотоны имеют одну и ту же энергию. Полихроматическое излучение состоит из фотонов различной энергии. Распределение интенсивности полихроматического излучения по длинам волн (энергиям, частотам) называется спектром.
Спектроскопические методы анализа позволяют получать и исследовать сигналы в различных областях спектра электромагнитных волн: от коротких рентгеновских до длинных радиоволн (рис.1.1). С отдельными областями электромагнитного спектра связаны различные методы анализа. В таблице (см. табл. 1.1) приведен обзор спектроскопических методов анализа, показана их связь с соответствующими областями электромагнитного спектра и характером процессов, протекающих при взаимодействии излучения с веществом.
В химическом анализе наиболее широко используется оптический диапазон электромагнитного спектра. Он состоит из трех областей: ультрафиолетовой (УФ) – 200–400 нм; видимой – 400–800 нм; инфракрасной (ИК) – 800–40 000 нм. Иногда методы анализа, основанные на взаимодействии вещества с электромагнитным излучением оптического диапазона длин волн, называют оптическими.
Таблица 1.1. Классификация спектроскопических методов
Спектроскопические методы |
Область электромагнитного спектра |
Свою энергию изменяют |
Ядерно-физические |
0,005–1,4 Å |
Ядра |
Рентгеновские |
0,1–100 Å |
Внутренние электроны |
Вакуумная УФ-спектроскопия |
10–180 нм |
Валентные электроны |
УФ-спектроскопия |
180–400 нм |
Валентные электроны |
Спектроскопия видимой области |
400–780 нм |
Валентные электроны |
Ближняя ИК-спектроскопия |
780–2500 нм |
Молекулы (колебательная энергия) |
ИК-спектроскопия |
4000–400 см–1 |
Молекулы (колебательная, вращательная энергия) |
Микроволновая спектроскопия |
0,75–3,75 мм |
Молекулы (вращательная энергия) |
Электронный парамагнитный резонанс |
~3 см
|
Неспаренные электроны в магнитном поле |
Ядерный магнитный резонанс |
0,6–10 м |
Ядерные спины в магнитном поле |
