- •Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
- •Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
- •3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •4. Принцип действия рефрактометра Аббе.
- •5. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •6. Рефрактометр автоматический непрерывный.
- •7,8. Применение рефрактометрии для идентиф в-ва и контроля качества.
- •9. Физ. Основы поляриметрического метода.
- •10. Типы оптической активности.
- •11. Зависимость угла вращения плоскости поляризации от строения в-ва
- •12. Спекрополяриметрический метод.
- •13. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •14. Устройство клиновых поляриметров.
- •15. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •16. Физ. Основы нефелометрии и турбидим. Рассеяние и поглощение света.
- •17. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •18. Приборы нефелометрического анализа.
- •19. Приборы турбидиметрического анализа.
- •20. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •21. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация методов спектрального анализа.
- •22. 23. Физ. Основы спектрального анализа.
- •24. Вид и основные характеристики спектров атомной эмиссии. Зависимость вида спектра от природы элемента и способа его возбуждения.
- •25. Атомные спектры.
- •26. Интенсивность спектр. Линий.
- •27. Ширина спектр. Линии
- •28. Схемы энергетических переходов в молекулах.
- •29. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в пламенной атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •30. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в дуговой и искровой атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •31. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой.
- •32. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •33. Устройство и принцип действия трехтрубчатого плазмотрона для атомно-эмиссионного анализа с индуктивно-связанной плазмой.
- •34. Способы выделения аналитических спектральных линий элементов из полихроматического излучения анализируемого образца. Схема и принцип действия монохроматора дисперсионного типа.
- •35. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •36. Достоинства и недостатки фотографической регистрации спектров атомной эмиссии.
- •37. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •38. Полуколичественный метод сравнения в атомно-эмиссионном анализе.
- •39. Точный количественный ат-эмиссионный анализ. Уравнение Ломакина-Шейбе.
- •40. Методы точного количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием стандартов.
- •41. Метод добавок в количественном атомно-эмиссионном анализе.
- •42. Основы, преимущества и недостатки количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием фотоэлектрического детектирования.
- •43. Аналитические характеристики и применение атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •44. Общие положения теории аас.
- •48. Пламенная атомизация в атомно-абсорбционном анализе: условия проведения, механизм
- •49. Устройство непламенных анализаторов
- •51. Подготовка проб к анализу методами оптической атомной спектроскопии
- •52. Физические основы рентгеноспектрального анализа.
- •53. Схема возбуждения и испускания рентгеновских спектральных линий. Критический край поглощения.
- •54. Методы возбуждения рентгеновских спектров. Принцип действия рентгеновской трубки.
- •55. Система обозначения характеристических рентгеновских спектральных линий. Серии рентгеновских спектральных линий.
- •56. Диспергирующие и детектирующие устройства рентгеновских спектрометров.
- •57. Основы кач-го и кол-го рентгеноспектрального анализа
- •58. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-абсорбционного анализа.
- •59. Физические основы молекулярной спектроскопии поглощения уф- и видимого диапазона.
- •59. Хромофорные и ауксохромные группы. Гипсохромный и батохромный сдвиги. Гипо- и гиперхромный эффекты
- •60. Вид и основные характеристики молекулярных спектров поглощения уф- и видимого диапазона.
- •63. Основные положения количественного фотометрического анализа.
- •64. Метод Фирордта.
- •65. Метод Аллена.
- •66. Аналитические применения фотометрии.
- •67. Физические основы ик-спектроскопии. Типы колебаний в молекулах. Зависимость положения спектральной полосы поглощения от типа колебаний, вида атомов и др. Особенностей строения молекул.
- •68. Скелетные колебания и колебания характеристических групп.
- •69. Типичный вид ик - спектра сложного органического вещества. Основные характеристики ик - спектров.
- •70. Особенности конструкции ик - спектрометров.
- •71. Порядок идентификации веществ по их ик- спектрам. Использование ик-спектроскопии для определения молекулярной структуры неизвестного вещества.
- •72. Физические основы люминесцентного метода. Виды люминесценции и способы ее возбуждения.
- •73. Схема возбуждения и эмиссии люминесцентного излучения.
- •74. Квантовый и энергетический выход люминесценции. Закон Вавилова.
- •75. Вид спектров люминесценции и их основные характеристики.
- •76. Зависимость интенсивности люминесценции от конц. Люминесцируемого вещества, температуры, рН, примесей.
- •77. Гашение флуоресценции
- •78. Прямой флуоресцентный анализ.
- •80. Аппаратура и практическое применение люминесцентного анализа.
- •81. Схема и принцип действия фотометра люминесцентного.
3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
Электромагнитная теория Максвелла для неполяр прозрачных сред связывает показатель преломления n и диэлектрическую постоянную уравнением: =n2
Поляризации Р молекулы связана с диэлектрической проницаемостью среды:
Р = Рдеф +Рор = (-1)/( + 2) (М /d) = 4/3 NA,
где Рдеф - деформационная поляризация; Рор–ориентационная поляризация; М- молекулярная масса вещества; d-плотность вещества; NA-число Авагадро; - поляризуемость молекулы.
Подставив в уравнение (2) n2 вместо и эл, вместо , получим (n2 - 1)/ (n2 + 2) (М /d) = 4/3 NAэл =Рэл = RM
Эту формулу называют формулой Лорентца-Лоренца, величина RM в ней - мольная рефракция. RM служит мерой электронной поляризации молекул в-ва. В физико-химических исследованиях пользуются также удельной рефракцией:
г = RM / М = (n21)/ (n2 + 2) (1/d)
Мольная рефракция имеет размерность объема, отнесенного к 1 моль вещества (см3/моль), удельная рефракция - размерность объема, отнесенного к 1 грамму (см3 /г). Приближенно рассматривая молекулу как сферу радиуса гм с проводящей поверхностью, показано, что эл = (гM)3.В этом случае RM = 4/3 NA г3т.е. мольная рефракция равна собственному объему молекул 1 моля вещества.Для неполярных веществ RM=P, для полярных RM меньше Р на величину ориентационной поляризации.
Величина мольной рефракции определяется только поляризуемостью и не зависит от температуры и агрегатного состояния вещества, т.е. является характеристической константой вещества.
Рефракция - это мера поляризуемости молекулярной электронной оболочки. Электронная оболочка молекулы слагается из оболочек атомов, образующих данную молекулу. Поэтому рефракция молекулы будет равна сумме рефракций атомов и ионов, но необходимо учитывать валентные состояния атомов для чего вводят особые слагаемые - инкременты кратных (двойной и тройной С-С) и других связей, а также поправки на особое положение отдельных атомов и групп в молекуле:Rm= Ra+Ri,где RA и Ri - атомные рефракции и инкременты кратных связей соответственно, которые приведены в справочниках.
Уравнение выражает правило аддитивности мольной рефракции. Физически более обоснован способ расчета мольной рефракции как суммы рефракций не атомов, а связей (С-Н, О-Н, N-H и т.п.), т.к. светом поляризуются именно валентные электроны, образующие химическую связь. Мольную рефракцию соединений, построенных из ионов, рассчитывают как сумму ионных рефракций.
Правило аддитивности (6) может быть использовано для установления строения молекул: сравнивают Rm, найденную из данных опыта по уравнению (3), с рассчитанной по уравнению (6) для предполагаемой структуры молекулы.
В ряде случаев наблюдается т.н. экзальтация рефракции, состоящая в значительном превышении экспериментального значения RM no сравнению с вычисленным по уравнению.
Аддитивность имеет место и для рефракции жидких смесей и растворов - рефракция смеси равна сумме рефракций компонентов, отнесенных к их долям в смеси. Для мольной рефракции бинарной смеси в соответствии с правилом аддитивности можно записать: R=N1 R1+(1 N1)R2,
для удельной рефракции r = f1 r1 + (lf1)r2
где N1 и f1 — мольная и весовая доли первого компонента.
На величину ПП влияет длина волны падающего света и температура измерения. С увеличением длины волны ПП уменьшается, но для некоторых кристаллических веществ наблюдается аномальный ход этой зависимости.
Зависимость рефракции или ПП света от длины волны называется дисперсией. Мерой дисперсии может являться разность между значениями ПП, измеренными при различных длинах волн, т.н. средняя дисперсия. Мерой дисперсии служит также безразмерная величина – относительная дисперсия:
F,C,D =(nf – nC)/(nD-l)]103 (9)
где nf , nC, nD - ПП, измеренные для линий F и С водорода и D-линии натрия. Относительная дисперсия F,C,D очень чувствительна к присутствию и положению в молекуле двойных связей.
Величина ПП вещества зависит также от температуры измерения. При понижении температуры вещество становится более оптически плотным, т.е. ПП увеличивается. Поэтому при проведении рефрактометрических измерений необходимо проводить термостатированние рефрактометра. Для газов ПП зависит и от давления. Общая зависимость ПП газа от температуры и давления выражается формулой:
n-1=(n0-1)(Р/760)[(1+Р)/(1+t)] (10)
где n - ПП при давлении Р и температуре t°C; n0 - ПП при нормальных условиях; Р - давление мм рт. ст.; и - коэф, зависящие oт природы газа.
