- •Введение радиометрия, ее развитие и задачи
- •Раздел 1. Эталоны и образцовые средства измерения
- •Раздел 2. Статистическая обработка результатов радиометрических измерений
- •2.1. Статистический характер радиоактивного распада
- •2.2. Статистические законы распределения
- •2.3. Статистические характеристики экспериментальных данных
- •Тема 3. Основные радиометрические понятия и определения
- •3.1.Единицы измерения активности и удельных активностей
- •3.2. Специальные единицы измерения
- •3.3. Взаимодействие излучений с веществом
- •Раздел 4. Методы регистраци ионизирующих излучений
- •4.1. Классификация методов регистрации ионизирующих излучений и основные термины
- •4.2. Основные характеристики детекторов ионизирующего излучения
- •4.3. Ионизационный метод регистрацииионизирующего излучения
- •4.3.1. Физические основы обнаружения излучений
- •4.3.2. Типичная вольт-амперная характеристикака газового разряда
- •4.3.3. Ионизационные камеры
- •4.3.4. Методы регистрации с газовым усилением пропорциональные счетчики
- •4.3.5. Газоразрядные счетчики Гейгера–Мюллера
- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Переходы в полупроводниках
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.8. Счетчики черенкова
- •5.4. Спектрометрия ионизирующих излучений
- •5.4.1. Основные методы гамма спектрометрии постановка измерительной задачи и ее решение спектрометрическим методом
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка альфа–источников
- •Поверка гамма–источников
- •Часть III методы проведения некоторых ядерно-физических измерений
- •Глава 10
- •Измерение активности источников
- •§ 10.1. Основные определения
- •§ 10.2. Общие характеристики методов измерения активности
- •§ 10.3. Измерение активности источников альфа-частиц
- •§ 10.4. Измерение активности источников бета-частиц
- •§ 10.5. Измерение активности источников гамма-излучения
§ 10.4. Измерение активности источников бета-частиц
Общие замечания. Способы регистрации α- и β-частиц во многом аналогичны. Однако существенные различия в поведении этих частиц при их прохождении через вещество накладывают некоторые особенности на конструкцию детекторов.
Рис. 10.4. Устройство для измерений с торцевым счетчиком:
1 — источник β- частиц; 2 — свинцовая защита; 3 — стойка из плексигласа; 4 — торцевой β-счетчик.
Рис. 10.5. Схема пропорционального 4π — β-счетчика:
1 — нити счетчика; 2 — источник; 3 — корпус
С одной стороны, значительно большие пробеги β-частиц позволяют изготавливать детекторы с гораздо более толстыми стенками. С другой стороны, сильное рассеяние β-частиц и меньшая ионизирующая способность затрудняют их регистрацию, тогда как регистрация α-частицы, попавшей в рабочее тело детектора, происходит практически со 100 %-ной вероятностью.
Измерения с малыми телесными углами. В качестве детекторов при измерениях этого типа используют обычно торцевые счетчики Гейгера — Мюллера (рис. 10.4). Из-за отмеченных выше особенностей взаимодействия β -частиц с веществом определить эффективность установки сложнее, чем при регистрации α-частиц. В общем виде:
ε = εдGfиfpfo , (10.18)
где fо — коэффициент, учитывающий поглощение и рассеяние β -частиц в окне счетчика и в воздушной прослойке между счетчиком и источником. Остальные коэффициенты те же, что и для α-частиц но определяют их значения несколько иначе.
Геометрический фактор для точечного источника:
(10.19)
(рис. 10.4). Для неточечного источника радиус которого г много меньше расстояния между источником и детектором d,
(10.20)
Чтобы получить правильные результаты с помощью этих формул, необходимо учесть возможные искажения электрического поля вблизи окна счетчика и необходимость прохождения электроном в газе счетчика некоторого минимального отрезка пути для появления электрического импульса. Оба эти фактора* учитываются при определении угла 6: берется не истинное окно счетчика, а сечение счетчика, отстоящее на 4-5 мм от окна.
Так же как и для α-частиц, в большинстве случаев εд=1. Однако из-за меньшей плотности ионизации некоторые β -частицы, пробегающие в чувствительном объеме счетчика малые отрезки пути, имеют заметную вероятность не создать ни одной пары ионов. В счетчиках с пониженным давлением газовой смеси этот эффект особенно заметен. Поэтому в общем случае при прецизионных измерениях приходится на основании данных о плотности ионизации оценивать значение εд, которое несколько меньше 1.
При определении коэффициента fи приходится учитывать не только поглощение, но и рассеяние β -частиц в источнике. Эти два фактора действуют по-разному: поглощение в источнике уменьшает число отсчетов счетчика, а рассеяние электронов увеличивает, так как рассеиваются в основном электроны, летящие вдоль слоя. В тонких слоях эффект рассеяния компенсирует или может даже превышать эффект поглощения, однако с увеличением толщины источника поглощение становится доминирующим. Величина fи зависит от толщины источника, энергия β -частиц и атомного номера вещества источника Z. Для средних значений Z и толщины источника порядка 1/20 пробега коэффициент fи очень близок к 1. В остальных случаях значение коэффициента fи лучше всего находить экспериментально, приготавливая источники разной толщины и экстраполируя к нулевой толщине измеряемые удельные скорости счета, т. е. скорости счета, отнесенные к толщине слоя (в мг/см2). Однако из-за немонотонного характера зависимости fH от толщины слоя надежность этой процедуры не очень высока и возникающие погрешности могут достигать 20% вносимой поправки, т.е. отличия fи от 1.
Коэффициент fр, равный отношению количеств регистрируемых импульсов с подложкой и без нее, может иметь значения от 1 до 2 в зависимости от толщины и атомного номера материала подложки. Проще всего его определить экспериментально, меняя материал подложки и ее толщину. Использование толстых подложек из тяжелых материалов может привести к увеличению скорости счета на 50–60%, тогда как применение материалов с малым Z при толщине подложки меньше Vs пробега электрона с максимальной энергией приводит к гораздо меньшим поправкам, поэтому более предпочтительно. Исходя из этих соображений, источник не следует класть на дно защитного «домика», а располагать его на расстоянии нескольких сантиметров от поверхности свинца.
Рассеяние электронов от дна и стенок защитного домика можно сделать пренебрежимо малым, если покрыть внутри домика все
детали слоем вещества с малым Z и расположить их подальше от траекторий электронов, летящих из источника в счетчик.
Коэффициент fo в (10.18) находят обычно также экспериментально: между источником и счетчиком помещают алюминиевые фольги различной толщины (алюминий, слюда и воздух имеют примерно одинаковые массовые коэффициенты поглощения β- частиц), снимают зависимость числа отсчетов счетчика от общей толщины материала (мг/см2), а затем экстраполируют полученные результаты к нулевой толщине. Значение fо очень сильно зависит от энергии β- частиц. Так, окошко из слюды толщиной 3 мг/см2 поглощает около 7 % частиц при максимальной энергии β- спектра 1 МэВ и 30 % при энергии 0,5 МэВ. Если поправка на поглощение очень большая, то определение значений fo методом экстраполяции ненадежно. Рассеяние в воздухе при расстояниях между источником и окном счетчика порядка нескольких сантиметров и при малой энергии β- частиц может увеличивать число отсчетов до 5%.
Соответствующую поправку можно найти, откачивая воздух из домика или изменяя расстояние между счетчиком и источником.
Типичное значение е при регистрации β- частиц в геометрии с малым телесным углом с учетом всех перечисленных выше факторов порядка 0,03. Из-за большого числа поправок, многие из которых находятся с недостаточно высокой точностью, суммарная погрешность получается довольно большой, достигая 5–10 %, и лишь в отдельных наиболее благоприятных случаях ее удается снизить до 2–3 %. Поэтому метод малого телесного угла чаще используют для относительных измерений.
4π – β-счетчики. Для измерений активности β- источников метод 4π-геометрии особенно эффективен, так как он позволяет исключить необходимость внесения большинства трудно определяемых поправок. 4я-геометрия реализуется расположением β- источника между двумя пропорциональными, сцинтилляционными или полупроводниковыми счетчиками (рис. 10.5). Источник и подложка, на которую он нанесен, должны быть достаточно тонкими, чтобы поправочные коэффициенты fи и fр на поглощение β -частиц в них были невелики (рассеяние β -частиц в материале источника и в подложке в 4π – β- счетчике несущественно). Кроме того, нет необходимости точно вычислять фактор G, который равен примерно 1, а также находить коэффициент fo. В результате формула для определения ε существенно упрощается:
ε = εД fиfp, (10.21)
а входящие в нее величины находятся гораздо проще и с большей точностью, чем в предыдущем случае. В целом е весьма близка к 1. Погрешности при определении активности связаны, в основном, со статистической неопределенностью в числе зарегистрированных импульсов, с исключением фона, с поправками на мертвое время, а также с погрешностями при определении коэффициентов fи и fp. В целом погрешность можно снизить до 0,3—0,5 %.
Следует отметить, что при измерениях в 4π-геометрии применение сцинтилляционных счетчиков вместо пропорциональных часта более удобно по конструктивным соображениям, однако из-за высокого энергетического порога таких счетчиков значение εд для β -частиц малых энергий может снижаться вплоть до 0.
Введение β -излучателя в рабочее тело детектора. Если радиоактивное вещество находится в каком-либо газе, например в воздухе,, то его активность проще всего определить, введя этот газ прямо в ионизационную камеру. Таким образом измеряют, в частности, содержание радиоактивного изотопа 14С в углекислом газе. Аналогичный прием используют в дозиметрии для непрерывного контроля содержания радиоактивных веществ в воздухе рабочих помещений. Особенно эффективен этот метод для регистрации β- излучения с малой -энергией. Типичным излучателем β- частиц малой энергии является тритий, у которого верхняя граница β- спектра лежит при энергии 18,5 кэВ. Этой энергии соответствует пробег электронов в слюде, равный всего 0,7 мг/см2, тогда как толщина окошка стандартных бета-счетчиков 2–3 мг/см2. Очевидно, что β- частицы со столь малой энергией можно регистрировать, только при условии введения β- излучателя в рабочий объем камеры или счетчика (обычно проточного). Зато при столь малой энергии нетрудно создать условия, при которых весь пробег электрона укладывается в газе счетчика, что позволяет измерить энергию β- частиц по амплитуде электрических импульсов.
При введении β- излучателя в газовую среду детектора можно считать, что в (10.6) все коэффициенты равны 1, кроме поправочных множителей на эффективный рабочий объем счетчика и на стеночный эффект. Если β- излучатель вводится в виде раствора в жидкий сцинтиллятор, то и эти множители обращаются в 1, зато появляются поправки на просчеты электронов малых энергий и на адсорбцию введенного вещества на стенках. Последнюю из них можно существенно снизить сильным разбавлением вводимого вещества растворителем. В целом погрешность подобных измерений порядка 1—2 %.
Метод β-γ- совпадений. Этот метод можно использовать, если β-распад сопровождается испусканием фотонов. Для определения активности формула (10.11) непосредственно применима лишь при простой схеме β- распада (рис. 10.6,а). В других случаях в нее приходится вводить поправки. Рассмотрим в качестве примера β- распад по двум ветвям β1 и β2 (рис. 10.6,6) с относительными вероятностями w1 и w2 (w1+w2=1). При этом
aβ = (w1εβ1+ w2εβ2) A; (10.22)
aγ = w2εγA; (10.23)
aβγ = w2εβ2εγ A; (10.24)
aβ aγ/ aβγ=(w1εβ1/ εβ2+w2)A. (10.25)
Рис. 10.6. Различные схемы β -распада:
а — распад по одной ветви; б — распад по двум ветвям; в — распады «I испусканием двух фотонов
Рис. 10.7. Зависимость эффективности счетчика εД от энергии γ- излучения для трех материалов катода; пунктир — расчетная кривая
При оценке абсолютных значений эффективностей εβ1 и εβ2 могут возникнуть, как было показано выше, существенные погрешности. Поэтому целесообразно применять для регистрации β -частиц 4л— β -счетчик. В этом случае εβ1 = εβ2 = 1 и (10.25) превращается в гораздо более простую формулу (10.11). Аналогичным образом можно рассчитать поправки и для других схем распада, а также поправки на конечные размеры источника, причем всегда применение 4π – β- счетчика для регистрации β- частиц позволяет получить наиболее простую расчетную формулу и наиболее достоверные результаты. Общая погрешность при измерении активности β- источников методом 4π β — γ-совпадений обычно составляет 0,2—0,5 %.
